基于DA的时间"较高频DDS信号"频谱解析式

由于DAC的非理想特性,DDS信号频谱解析式在较高频输出时与实测差别较大,本文旨在求出更符合实际的DDS信号频谱解析式.定义了"较高频DDS输出"的定量概念,分析了较高频DDS输出时DAC非理想特性,特别是DAC建立时间特性,给出了由建立时间估算转换时间的近似公式,将转换时间区间的输出简化为梯形波形模型,求得相应的Fourier变换,从而得到新的频谱解析式.实验采用ADI公司的DDS芯片AD9851,测量了信号幅频特性,证明了较以往解析式,新解析式和实测更加吻合.     

电磁混响室统计特性的检验方法

在介绍电磁混响室各场量理想的统计特性的基础上,简单对比、分析了相关统计检验的思路和方法,提出利用柯尔莫哥洛夫-斯米尔诺夫检验(KS检验)来完成对实际电磁混响室统计特性的检验。两组典型数据的统计分析结果验证了上述方法的可行性和有效性。作为一种与统计特性关系密切的测试方法,电磁混响室中的其它统计检验问题都可以考虑采用这种方法来解决。     

装有PCB有孔矩形腔屏蔽效能的传输线法分析

为了提高对有孔屏蔽腔内电路的有效保护性能.介绍了用传输线法分析有孔矩形腔屏蔽效能的基本原理.将基本公式作进一步修正,使其能计算矩形腔内装有印刷电路板的情形.并对修正的传输线模型计算公式进行了扩展,使之能计算任意极化方向时的情况.计算结果表明:当频率低于主谐振频率时,测量点离孔缝越近,耦合进腔体的电磁能量越多;屏蔽效能随极化角度的递增而增加;低频段的屏蔽效能比高频段的要好;装有电路板腔体的屏蔽效能比空腔的要好,这在谐振区域内尤为突出;电路板尺寸越大屏蔽效能越好.根据计算结果,提出了设计屏蔽腔及其腔内电子设备的建议.     

确定多层平板屏蔽体屏蔽效能的简便方法

利用非均匀传输线模拟了多层平板屏蔽体,并进一步采用矩阵原理得到了屏蔽体的屏蔽效能。由于非均匀传输线本身的非均匀性,用它模拟多层屏蔽体不需再分析板间的多次来回反射,大大简化了计算过程;矩阵表达有利于计算机运算。最后给出了可用于计算任意层平板屏蔽体屏蔽效能的一般公式,用其计算了双层板和4层板2种特例的屏蔽效能,与已有的精确公式计算结果完全吻合,而过程较之简单。     

基于DAC非理想特性的"较高频DDS信号"频谱解析式

分析了"较高频DDS输出"时DAC非理想特性,特别是转换阶段和闪变阶段,建立了波形模型,求得相应的Fourier变换,从而得到新的频谱解析式.试验采用ADI公司的DDS芯片AD9851,测量了信号幅频特性,证明了较以往解析式,新解析式和实测更加接近.     

传输线理论分析静电放电电流

传输线理论分析了静电放电(ESD)发生器的放电过程,时域有限差分法(FDTD)模拟了放电电流,得到与IEC61000-4-2标准相符合的电流波形,并对影响电流波形的关键因素进行讨论.结果表明,静电放电发生器中电阻和连接线长度影响电流波形的上升时间;连接线的布置影响着电流波形的平滑性;不同的终端负载也对电流峰值有很大影响.该结论为静电放电发生器的设计提供了参考和建议.     

交流电气化铁道对周围电气及电子系统的阻性耦合影响

给出了交流电气化铁道引起的地电位的计算方法，并分析了针对地电位危害的一些防护措施。     

固定散射体对提高源搅拌混响室性能的研究

为提高源搅拌混响室的性能,对固定散射体提高源搅拌混响室场均匀性的情况进行了研究。首先根据谐振和模式搅拌理论对固定散射体的作用进行了理论分析,然后通过实测结果对基于复杂结构电磁场全波计算软件(FEKO)的仿真方法有效性进行了验证,最后对3种相同尺寸、不同类型混响室(传统的机械搅拌混响室、源搅拌混响室、加入固定散射体的源搅拌混响室)的场均匀性进行了仿真。结果表明:除个别频点外,混响室在单独源搅拌方式下的场均匀性要低于机械搅拌的,而在源搅拌混响室中加入3组固定散射体(搅拌器)后,其场均匀性指标普遍改善,性能与机械搅拌基本相当。由此可见,作为提高混响室性能的一种手段,固定散射体的加入能够改善源搅拌混响室的场均匀性,而在此基础上的复合搅拌方式则有可能产生性能更好的混响室方案。     

移动台OTA暗室的纹波测试及其仿真分析

作为全面评价移动台空间射频性能的一种新方法,OTA测试的不确定度会受到暗室纹波的影响.通过对OTA暗室纹波测试过程、计算方法及模型特点的介绍和分析,首先确定了基于几何光学法(GO)的仿真研究方法,然后建立了与实物对应的仿真模型、编写了相关的MATLAB程序,最后成功实现了对OTA暗室纹波测试过程的仿真计算.仿真与实测结果的基本吻合证明了上述方法能够有效实现对暗室纹波特性的预测和评估.同时,研究结果也为将来提高预测精度、展开更为细致的影响因素分析提供了必要的基础和参考.     

真空灭弧室真空度检测技术的现状和方法

概述了真空灭弧室真空度检测技术的研究现状 ,着重介绍了在工程中实用的真空灭弧室真空度检测方法 ,并对真空灭弧室真空度检测技术的发展前景作了探讨