基于计算机测控技术的转矩流变仪的研制

介绍了基于计算机测控技术的聚合物转矩流变仪的研制，该仪器具有优良的性能指标，强大的数据文件处理能力、测试功能扩展能力，是高分子材料研究和开发的理想工具。     

PVDF全塑蒸发器的制备及其性能研究

针对金属蒸发器易腐蚀结垢的缺陷,提出了全塑蒸发器的概念.设计和制备了以PVDF微孔膜为分布器、以PVDF毛细换热管为传热介质的全塑蒸发器,建立单效蒸发实验装置,研究了全塑蒸发器的传热性能.结果表明,在实验参数范围内总传热系数随着冷流体质量流量、冷流体进口温度、热流体质量流量、二次蒸汽蒸发温度的增大而增大;当热流体为373K饱和水蒸气、热流体质量流量2.5kg/h、冷流体进口温度308K、冷流体质量流量10.8kg/h、二次蒸汽的蒸发温度为358K时,全塑蒸发器总传热系数可达1 040 W/(m~2·K).     

对含铁料液的减压膜蒸馏处理

采用自制PVDF疏水性中空纤维膜组件对模拟含铁废水进行减压膜蒸馏处理,设计三因素三水平正交实验,研究料液中铁离子浓度、pH值以及含盐率对膜蒸馏过程的影响.通过监测膜蒸馏实验前后膜丝内表面形貌、元素组成及接触角变化,对膜蒸馏过程中的膜污染及膜亲水化现象进行初步探讨.实验结果表明:铁浓度、pH值及含盐率对膜通量的衰减均有显著影响,pH值影响最大,铁浓度次之,含盐率最小;膜蒸馏实验后膜丝表面有污染物聚集,XPS结果显示出现了新元素Na和Fe,其质量分数分别占到了3.6%和7.0%,而且膜丝内壁的接触角从实验前82°降到72°,说明疏水性能有下降趋势.     

基于主从式总线结构的转矩流变仪现场控制器的设计

在基于计算机测控技术的转矩流变仪系统的基础上,介绍基于主从式总线结构的转矩流变仪现场控制器以完善系统的性能.采用了模块化设计和主从式的结构,进行了测控电路模块设计,使得系统性能的灵活性和可靠性有了很大的提高.     

纳米高聚物复合材料的结构特性、应用和发展趋势及其思考

综述了纳米粒子及纳米结构材料的基本物理效应;微纳米高聚物复合物的微结构,界面(相)的作用及性能;影响宏观性质及测试技术的一些典型的物理尺度与几何尺度,测量时间尺度与响应的时间尺度;微纳米高聚物复合物的介电松弛理论、结构和性能的简单对比、复合物介电理论的问题以及击穿与树枝行为;微纳米高聚物复合材料的研究现状及发展趋势;以及如何去发现纳米高聚物复合物中的量子(波)效应等.     

陶瓷微板热隔离气体传感器阵列热干扰分析

热干扰特性是影响微热板气体传感器阵列热结构设计的重要因素之一。为探讨微热板阵列传感器单元之间的热力学特性关系,设计并制备了具有独立式加热功能的热隔离结构4单元微热板气体阵列,传感器阵列单元由Al N陶瓷衬底、Pt膜电极组成,为提高加热效率,阵列单元中间加热区采用激光微加工刻蚀热隔离通孔设计,与边缘形成微梁连接结构。利用有限元法对传感器阵列结构进行了热干扰仿真分析,验证了热隔离结构设计的合理性。给出了4种热干扰测试模式,并进行了热干扰特性测试分析,给出了4单元之间的热干扰规律曲线,得出传感器单元功耗300m W时最大干扰温度达169.6℃,最小热干扰温度84.7℃。热隔离通孔设计可有效降低传感器单元热传导损耗,热干扰分析对微热板传感器阵列的热结构设计具有重要意义。     

纳米杂化PI薄膜击穿孔区形貌及元素分布

无机纳米杂化聚酰亚胺(PI)薄膜具有优良的耐电晕特性,通过观察击穿孔区形貌研究薄膜击穿机理及纳米颗粒的作用,利用SEM观察阶梯式升压强电场击穿无机纳米杂化PI薄膜孔区形貌,能谱仪测试孔区附近元素分布.研究表明:杂化薄膜严重破坏区域仅局限在孔洞附近10～50 μm范围内,随半径增加,其表面由颗粒大小不均匀、表面粗糙不平,逐渐过渡到颗粒均匀的微观结构状态;Cu含量逐渐减少,Au含量逐渐增加,正常区域电极表面没有损伤;氧化铝纳米颗粒在杂化薄膜中起到阻止电极破坏的作用,薄膜击穿机理属热击穿类型.     

TSC/TSL联合谱在绝缘聚合物电老化研究中的应用

该文测量了纯聚乙烯和含自由基清除剂的聚乙烯试样老化过程中的TSC/TSL联合谱。通过测得的谱图查明了聚乙烯在电老化过程中陷阱和发光中心的密度变化，并分析了老化过程中聚乙烯分子链的运动形式的变化。根据视在陷阱总量和发光中心总量的计算，表明在电老化过程中陷阱的密度变化比复合光中心的更明显。这种自由基清除剂主要是通过抑制老化过程中陷阱的产生，尤其是深陷的产生，实现抑制电老化的功效。这对今后研究提高聚乙烯耐电老化的途径有明显的指导意义。     

交联电缆绝缘中缺陷的探测与信号处理

本文介绍一种应用激光扫描技术探测交联聚乙烯(XLPE)电缆绝缘中缺陷的系统.同时利用微型计算机对探测信号进行分析和处理,从而有效地识别黑色杂质颗粒、半透明杂质颗粒和气孔三种不同类型的缺陷,并成功地解决了一个缺陷被激光光束重复扫描所引起的误记数问题.     

应用单光子计数器测量尼龙－11的热释光

本文给出了一种适用于热蜂光测量的单光子计数器，并用该计数器对奇数尼龙－１１薄膜进行了实际测量．结果表明，本计数器完全满足测量微光（光功率＜１０－１５Ｗ）要求．