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1.
分子自组装制备的掺杂WO3的TiO2光催化薄膜的表征   总被引:2,自引:0,他引:2  
利用分子自组装技术在载波片上制备了锐钛相TiO2及WO3掺杂的TiO2薄膜。利用原子力显微镜(AFM)和UV-VIS-NIR分光光度计对薄膜进行了表征。利用对罗丹明B的降解评价了所制备薄膜的光催化活性。结果表明:当W/Ti=2at%时,TiO2薄膜的光催化活性得到提高。  相似文献   
2.
TiO2/PSS自组装薄膜的光催化性能   总被引:11,自引:2,他引:11  
利用静电自组装工艺在石英衬底上制备了结构有序的TiO2/PSS纳米复合膜,并采用UV-Vis-NIR分光光度计、原子力显微镜(AFM)对复合膜的结构与光催化性能进行了深入的研究。结果表明:有序多孔TiO2颗粒膜具有良好的光催化性能,能够在短时间内降解掉复合膜中有机成分,烧结处理薄膜的光催化性能明显优于紫外照射处理的样品。  相似文献   
3.
柔性衬底ITO薄膜的制备及其光电性能研究   总被引:5,自引:3,他引:2  
在室温下,采用直流反应磁控溅射法,在聚酯薄膜(PEP)衬底上镀制了高性能的ITO薄膜。为了提高薄膜与基底的结合力,溅射前采用多弧离子源对PEP表面进行了等离子体清洗。研究了溅射工艺参数对ITO薄膜的光电性能和红外发射率的影响规律,探讨了ITO膜的透光和导电机理,并分析了方块电阻与红外发射率的相互关系。实验结果表明,通过等离子体清洗,ITO薄膜的结合力和光电性能都得到了改善。ITO薄膜的红外发射率和方块电阻受制备条件的影响规律具有相似之处,红外发射率随薄膜方块电阻的增大而呈增加的趋势。  相似文献   
4.
利用射频磁控溅射技术,以Ar和O2气混合气体为溅射气体在载玻片上制备了锐钛相TiO2薄膜。为了提高Ti02薄膜的光催化活性,在TiO2薄膜表面进行了钽修饰。利用X射线衍射(XRD),原子力显微镜(AFM)和UV-VIS-NIR分光光度计等技术对薄膜进行了表征。结果表明:对TiO2薄膜的表面进行适量的Ta元素修饰可以提高其光催化活性。  相似文献   
5.
氧化锌纳米棒有序阵列的制备及表征   总被引:2,自引:0,他引:2  
俞有幸  郝维昌  杜轶  王春忠  王天民 《功能材料》2007,38(8):1370-1372,1376
氧化锌是一种重要的化合物半导体,其低维结构在微电子器件领域具有潜在的应用前景.在温和的条件下利用软化学方法在沉积了单层ZnO颗粒膜的玻璃衬底上制备了直径为70~300nm,长约1μm的氧化锌纳米棒有序阵列,讨论了颗粒膜对阵列生长的作用以及水浴温度对晶体结构和形貌的影响.结果表明,产物为纤锌矿结构;ZnO颗粒膜为阵列的生长提供了分布均匀且固定的形核中心,对阵列的有序生长起诱导作用;随着反应温度的升高,阵列直径变小且排列更加有序,但过高的温度会抑制ZnO晶体内部的c轴择优取向作用.研究了ZnO阵列的光致发光特性,初步讨论了其发光机理.  相似文献   
6.
郝维昌  潘锋  王天民 《材料导报》2005,19(Z1):5-7,11
静电自组装技术是一种能够方便地实现低维纳米结构组装的新工艺.由于其具有工艺简单、所得体系热力学稳定性好等优点而受到众多研究小组的重视.详细介绍了静电自组装成膜驱动力的研究结果和近10年来取得的重要进展,并对静电自组装工艺的优缺点进行了评述.  相似文献   
7.
使用一种配套于磁控溅射设备的基片液氮冷却装置制备了小颗粒度纳米微晶NiOx电致变色薄膜.当溅射参数完全相同时,借助于对基片的冷却可有效控制并降低NiOx薄膜的晶粒尺度.冷却基片所制备的NiOx薄膜的电致变色性能明显优于室温时制备的薄膜,且该薄膜的O/Ni比率也明显高于室温时制备的NiOx薄膜的O/Ni比率.  相似文献   
8.
提拉速率对聚苯乙烯二维胶体晶体微观结构的影响   总被引:1,自引:0,他引:1  
通过控制提拉速率,采用液面漩涡法制备了高度有序的微米级聚苯乙烯(PS)二雏胶体晶体.利用扫描电子显微镜(SEM)和紫外可见分光光度计(UV-vis)考察了提拉速率对胶体晶体微观结构的影响.发现波面漩涡法制备二雏胶体晶体的过程中存在最佳提拉速率,且其随着PS微球粒径的增大而减小.理论研究表明:提拉速率对毛细管作用力和流体静压力有显著影响.提拉速率达到最佳时,毛细管作用力达到与流体静压力和静电斥力的平衡,此时组装的PS二雏胶体晶体质量最高.  相似文献   
9.
阐述了双柳煤矿选煤厂原煤泥水处理系统存在的问题,介绍了针对存在问题所进行的技术改造以及改造后系统的特点与取得的效果。  相似文献   
10.
离子注入对ITO薄膜电学特性的影响   总被引:1,自引:1,他引:0  
对系列In2O3∶Sn (ITO)薄膜样品分别实施了不同剂量的Sn+, Ag+ 和Mo+离子注入并将它们在250 ℃下进行了热处理.利用霍耳测量研究了原始样品及注入和退火前后各样品的电学特性.研究了ITO薄膜的电学参数受离子注入的种类及剂量的影响.实验证明不同种类的离子注入会不同程度地降低ITO的导电性能,但热处理的效应与之相反.3种金属中,Sn+离子对薄膜造成的注入损伤最小,而高价的钼离子可以替换铟离子的位置成为施主,当注入剂量为1×1015 cm-2时,经过Mo+离子注入和后续退火的ITO薄膜,载流子浓度提高了14%.  相似文献   
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