镁-镧镨铈混合稀土合金微观组织分析

本文作者用扫描电镜、透射电镜以及X射线面扫描等手段分析了镁 镧镨铈混合稀土合金的微观组织。结果表明,添加的镧镨铈混合稀土,只有少量固熔在镁基体中,绝大部分形成了稀土化合物,沿晶界呈网状分布。     

矩分析在硼同位素分离色谱中的应用研究

以D301-G树脂为固定相,水为流动相,通过矩分析研究2种硼同位素在给定条件下的色谱特征,基于平衡-扩散模型、线性驱动力模型估算了硼酸在固定相上的动力学参数。研究结果表明,同位素10B在树脂相上的色谱保留时间大于11B;硼酸在D301-G树脂相中的轴向扩散系数和集总传质系数均随温度的升高而增大,室温下轴向扩散系数为1.08 cm2/min,集总传质系数为0.65 min-1。     

同位素分离理论在硼同位素分离中的应用

离子交换色谱法是分离硼同位素的非常有前途的方法,然而工艺过程的影响因素较多,分离实验的工作量很大,为验证同位素分离理论在描述硼同位素分离中的有效性,并将其用于指导硼同位素分离过程,减少实验次数和不确定性,文中采用多柱串联色谱分离实验方法,研究了非稳态下硼同位素在色谱柱中的分布和Y.Fujii同位素分离理论在描述硼选择性螯合树脂分离硼同位素体系的有效性,并将其理论应用于制备工艺设计和验证实验。研究结果表明:Y.Fujii的同位素分离理论除可较好地描述该体系色谱带中同位素的分布情况,理论计算结果与实验数据吻合,制备验证实验的测定结果与理论设计吻合,Y.Fujii同位素分离理论能较好地指导硼选择性螯合树脂分离硼同位素体系的工艺过程。     

SiC基惰性基体复合材料相容性研究

为了利用同收的钚,开展了以SiC为基体的惰性基体燃料的复合材料的制备和材料制备过程中陶瓷组分间相容性研究.以氧化铈代替PuO2制备了固溶的氧化锆燃料小球,并采用电火花烧结制备了固溶ZrO2弥散在SiC基体中的复合材料,对材料结构和复合材料的界面进行了初步研究.结果显示,采用电火花快速烧结制备的复合材料界面没有明显的反应.这对于进一步优化材料的制备工艺,获得性能良好的惰性基体燃料研究奠定了基础.     

不同界面SiC纤维束复合材料的拉伸力学行为

利用国产三代SiC纤维通过化学气相渗透工艺(CVI)制备不同界面厚度和基体体积分数的SiC纤维束复合材料,并对其拉伸力学行为进行研究;同时,通过有限元方法研究界面厚度和基体体积分数对SiC纤维束复合材料热残余应力的影响。有限元分析结果表明:该纤维束复合材料的界面存在较为明显的径向和环向热残余应力,而且这两种应力均随着界面厚度增加而减小,随着基体体积分数的增加而增加。拉伸实验结果表明:随着界面厚度增加SiC纤维束复合材料的拉伸强度有增大趋势,且纤维拔出长度也相应增加;但在界面厚度相同的情况下,过高的基体体积分数将导致复合材料拉伸强度和韧性下降。     

镁-镧镨铈混合稀土合金微观组织分析

本文作者用扫描电镜、透射电镜以及X射线面扫描等手段分析了镁-镧镨铈混合稀土合金的微观组织。结果表明，添加的镧镨铈混合稀土，只有少量固熔在镁基体中，绝大部分形成了稀土化合物，沿晶界呈网状分布。     

真空制备新型镧镨铈-镁合金的显微组织和力学性能

通过氩气保护,在真空条件下制备新型镧镨铈(LPC)-镁合金,测量该试验合金的抗拉强度,观察其显微组织,并测量其显微成分,以确定稀土在试验合金组织中所处位置、存在状态.同时通过改变稀土的含量,了解其对力学性能的影响.结果发现就抗拉性能而言,镧镨铈(LPC)混合稀土可以代替富铈混合稀土用于ZM3合金.     

离子交换色谱中硼同位素交换反应平衡常数的理论预测

外部溶液相中B(OH)₃与离子交换树脂相中B(OH)₄^-、B₃O₃(OH)₅^2-、B₃O₃(OH)₄^-之间所发生的同位素交换反应的平衡常数K是离子交换色谱法分离硼同位素研究中的基本参数之一,但难以用实验手段精确测定。本研究利用密度泛函理论（DFT）在B3LYP/6—31G理论水平上计算了气态下B(OH)₃、B(OH)₄^-等的振动频率,用计算得到的频率,基于Urey模型求得B(OH)₃、B(OH)₄^-、B₃O₃(OH)₅^2-、B₃O₃(OH)₄^-的简约配分函数比（RPFR）,进而得到同位素交换反应平衡常数。结果表明,B(OH)₃和B(OH)₄^-间的同位素效应显著,其平衡常数K在25 ℃时为1.025 7,B(OH)₃与B₃O₃(OH)₅^2-和B₃O₃(OH)₄^-反应的平衡常数较小,分别约为1.017 2和1.008 4。     

柱色谱中非稳态同位素富集的同位素浓度分布

根据柱色谱分离同位素的一个实例,研究了非稳态条件下移动带后边界区内的同位素富集情况.根据一些基本的实验条件参数,先计算出富集的分离系数ε和斜率系数k,进而用一个公式来描述移动带中同位素的浓度分布,做进一步的数学处理还可求得实验系统的H(理论塔板高度,HETP)值.结果表明,所采用的理论公式能有效地从数学角度描述柱色谱分离过程中的同位素浓度分布.