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1.
张同俊 《电子制作.电脑维护与应用》2002,(6):60-61
无论是出产小型变压器的厂家,还是电子产品的生产企业,对成品的小功率电源变压器都有次级输出电压检测这一道工序。虽然用测量电压的仪表能测出变压器输出电压的确切数据,但在批量生产中工作效率太低。本文介绍的“小巧率变压器检测仪”,能够方便快捷地对小功率电源变压器进行检测,直 相似文献
2.
机械合金化过程中六方相晶格畸变特点的研究 总被引:2,自引:0,他引:2
通过分析球磨试样和球磨后退火试样的X射线衍射谱,研究了Ti,Al混合粉末机械合金化过程中六方相α-Ti和Ti3Al的晶格畸变特点。结果表明,六方相畸变特点为晶体常数减小和c,a轴比值c/a减小,其中α-Ti的(0111)面和Ti3Al的(2021)面原子错排最为严。讨论了位错滑移系统和空穴的引入与晶格畸变特点的联系。 相似文献
3.
对Ag/Cu薄膜退火应力的模拟 总被引:2,自引:0,他引:2
采用基片曲率法测量并研究了Ag/Cu薄膜的应力与温度的关系.初始应力为-250MPa压应力,退火后为370MPa拉应力.采用基于形变机制图的模型模拟了应力与温度关系的实验曲线,结果表明,温度和应力不同,在薄膜内起作用的主要形变机制也不同.可能的形变机制包括位错滑移、幂律蠕变以及扩散蠕变机制.薄膜比块体材料的应变速率低,在同样的应力下应变更加困难.在退火过程中,薄膜内先使应力松弛的是Ag,将Ag各蠕变机制中的激活能提高到块体材料的1.25~1.35倍,模拟曲线与实验曲线符合得很好。 相似文献
4.
5.
6.
用磁控溅射技术在钢基片上沉积出具有T区结构的TiB2薄膜,研究基片偏压对薄膜的影响。使用X射线衍射技术和扫描电镜分析薄膜的特性。发现在本研究工艺条件下,所有的薄膜均呈(001)晶面择优生长。当基片偏压在-50V时,薄膜的硬度为50GPa,抗塑性变形的能力为0.65GPa。加大基片偏压,导致薄膜晶粒尺寸减小,同时薄膜的硬度和抗塑性变形的能力也下降。扫描电镜分析显示,基片温度对T区结构的影响是明显的,提高基片温度,当Ts/Tm=0.18时,薄膜中出现”等轴”结构。 相似文献
7.
8.
Skutterudite材料因具有特殊的晶体结构成为当前最有前途的热电材料之一,为深入研究填充Skutterudite化合物的热传导机制,对化合物的声子振动模式及置换、填充原子对声子模的影响进行了研究.通过对CoSb3,Co3.5Fe0.5Sb12的偏振拉曼谱研究,确认了一个Ag模,且与理论计算吻合较好.对CoSb3,Co3.5Fe0.5Sb12和La0.6Co3.5Fe0.5Sb12拉曼谱的对比研究表明,单纯Fe置换对拉曼谱影响很小,而La部分填充则使部分拉曼峰明显展宽,分析认为,这一现象主要源于填充原子在晶格空隙中的扰动. 相似文献
9.
10.