JSM-6700F冷场发射扫描电镜的日常维护及常见故障排除

做好扫描电镜的日常维护工作并及时排除仪器常见故障是延长扫描电镜的使用寿命、维修周期和节约维修费用的重要手段。本文详细介绍了对JSM-6700F冷场发射扫描电镜进行日常维护的关键操作事项,并通过对JSM-6700F冷场发射扫描电镜实际操作中遇到的常见故障原因进行分析,阐述了真空系统、仪器控制系统电路、电子枪以及软件等方面故障的处理方法。     

背散射电子成像技术在氧化铈陶瓷低温烧结研究中的应用

本文成功将背散射电子成像技术应用于观察少量助烧结剂在氧化铈基陶瓷材料中的显微结构与分布形态.结合X射线衍射和能谱分析结果发现,Co基助烧结剂主要以晶格掺杂和晶界第二相的形式存在.当Co掺杂量小于其在氧化铈基陶瓷中的固溶极限时,主要以晶格掺杂的形式存在;当Co掺杂量大于其固溶极限时,多余的Co将以富集相的形式聚集在晶粒晶界上.     

淬火温度对Fe-Mn-Si-C合金形状记忆效应及显微结构的影响

研究了淬火温度对Fe-18.1Mn-5.5Si-0.32C舍金形状记忆效应的影响,采用透射电子显微镜观察了合金经700℃淬火后的显微结构,并通过能谱仪对其进行微区成分分析.结果表明合金经700℃淬火后,其形状回复率最高,达到94%;奥氏体基体内含有大量的层错及一些平直的热诱发ε马氏体,层错微区出现了碳的富集,这些碳原子对奥氏体基体起强烈固溶强化的作用,有利于合金的形状记忆效应的提高.     

纳米粉末样品制备方法对扫描电镜成像的影响

制备出分散良好的电镜样品对准确观察纳米粉末的形貌和尺寸尤为重要.以导电类铂和不导电类钒酸钇纳米粉末为研究对象,分别采用直接固定法和铜网碳载膜固定法制备样品,并对比这两种方法对扫描电镜成像的影响.结果表明:采用铜网碳载膜固定制备法可以有效改善纳米粉末样品的分散性,杜绝纳米颗粒与导电胶发生溶合,易获得纳米粉末样品扫描电镜真实像,明显提高扫描电镜观察的准确性和检测效率.     

Er3+掺杂对PbF2·SiO2玻璃陶瓷晶粒结构的影响

玻璃陶瓷是玻璃相通过部分晶化而得,是玻璃和晶体的复合体;通过控制晶化过程,可得到透明的玻璃陶瓷。稀土掺杂的透明玻璃陶瓷是一种很有前途的发光材料。本文报道Er3+掺杂对PbF2·SiO2透明玻璃陶瓷晶粒结构的影响。用Pb(AC)2·3H2O、Er(AC)3、TFA、TEOS等为原料,CH3COOH为水解催化剂,采用溶胶-凝胶法及后续热处理[1、2]制备出了xErF3-5PbF2-95SiO2(mol%,x=0,0·5)透明玻璃陶瓷。用JEM-2010型透射电镜(TEM)观察两种样品的显微结构。未掺杂Er3+(x=0)样品的TEM形貌像及其选区电子衍射如图1所示。电子衍射分析表明图中黑色球状…     

流延-共烧法制备掺杂氧化铈基阳极／电解质双层结构

采用甘氨酸／硝酸盐（GNP）法合成了具有较高烧结活性的Ce0.8Gd0.05Y0.15O1.9（GYDC）粉体，通过流延-共烧法制备了NiO—GYDC阳极／GYDC电解质双层结构。结果表明：GYDC电解质薄膜经过1400℃保温4h后可烧结致密，说明GNP法制备的GYDC粉体的烧结活性较高；通过流延．共烧法可以成功制备外观完好、平整的NiO-GYDC／GYDC双层结构，满足SOFC的组装要求。     

淬火温度对Fe-Mn-Si-Cr-Ni记忆合金形状记忆效应的影响

本文研究淬火温度对Fe-Mn-Si-Cr-Ni记忆合金形状记忆效应的影响，并从合金层错能和显徽组织两方面讨论了对其产生影响的原因。结果表明：合金的回复率随着淬火加热温度的升高而升高，700℃时达到最大值，随后又随温度的进一步升高而降低；淬火温度越高，热诱发ε马氏体数量越多，热诱发ε马氏体对形状记忆具有双重作用，适量的热诱发ε马氏体有利于提高形状回复率；随着淬火温度的升高，合金的层错几率有着和回复率相似的变化规律；层错几率越大，层错能越低，合金的回复率也就越高。     

流延-共烧法制备掺杂氧化铈基阳极/电解质双层结构

采用甘氨酸/硝酸盐(GNP)法合成了具有较高烧结活性的Ce0.8Gd0.05Y0.15O1.9(GYDC)粉体,通过流延-共烧法制备了NiO-GYDC阳极/GYDC电解质双层结构.结果表明:GYDC电解质薄膜经过1400 ℃保温4 h后可烧结致密,说明GNP法制备的GYDC粉体的烧结活性较高;通过流延-共烧法可以成功制备外观完好、平整的NiO-GYDC/GYDC双层结构,满足SOFC的组装要求.