基于DDS+ADC的综合演示平台的研制

介绍了一种基于DDS+ADC的综合演示平台.该平台包括用于信号产生的DDS板卡、用于信号采集的ADC板卡、用于缓存和传输的数据板卡以及用于通讯和控制的USB主控板等.综合演示平台配套软件采用Labview开发,拥有集通讯、计算、显示为一体的人机界面.DDS+ADC联合工作的性能为:SNR=70.8 dB,SFDR=84.9 dB.该平台具有精度高、完全脱离仪器、携带方便、界面友好、采用模块化设计、易于扩展等特点.     

半导体器件老炼筛选试验设计

老炼筛选试验是有效剔除内含固有工艺缺陷的半导体器件,以及保证半导体器件使用可靠性的重要途径。本文阐述了半导体器件早期失效的基本概念,并给出了半导体器件早期失效率的预计方法。在此基础上提出了半导体器件老炼筛选试验设计方法,以期最大限度地保证半导体器件出厂后的使用可靠性。     

一种新型机器视觉系统及其图像矫正算法探索

数字成像和图像传输技术的新发展,为研制新一代机器视觉系统提供了基础条件.基于此,提出了一种由多个像素少、成本低的摄像头构成的机器视觉系统的结构模型,并重点探讨了它的成像方法和图像矫正算法.这种新型的机器视觉系统可应用于模式识别,能获取并处理不规则的图像,有利于解决传统机器视觉系统的成本高和图像冗余数据量大的问题.     

一种T/R组件波控电路测试方案的设计与实现

T/R组件波束控制电路是相控阵雷达上的关键元器件,由于其输入信号及输出信号较多,且并非纯数字电路,内部往往集成有模拟电路部分,其测试比较困难。提出一种测试方案,并通过实际应用,得到比较满意的结果。该方案通过一定的升级扩展可具有一定的通用性,为该类电路的测试分析提供一种比较简单的思路。     

支持向量机在机械零件识别中的应用

提出了一种将支持向量机(SVM)用于机械零件识别的方法。实验采用了97张零件图片,9类零件其中一部分作为训练样本,另一部分作为测试样本。提取零件的 Hu 矩作为特征向量,并将 BP神经网络与 SVM 进行了比较。实验结果表明,以多项式为核函数的 SVM 有较高的识别率。     

运算放大器共模抑制比的仿真与测试

从运算放大器共模抑制比(CMRR)定义开始,对多种仿真和测试方法进行分析和比较,深入论述辅助元器件(如电阻和辅助放大器)对待测器件(DUT)仿真和测试结果的影响,分别总结出适合于仿真和测试的方法,为运算放大器设计过程中的仿真验证和封装后的测试提供参考。     

可疑目标区域的机器视觉检测算法

可疑目标区域的确定是大背景中微小目标的机器视觉检测的一个关键问题.以棉花中污染物的检测为背景,根据人类的视觉注意机制,提出了一种可疑目标区域的机器视觉检测算法:首先采用主成分分析法(PCA)和离散余弦变换(DCT)算法对分块图像进行数据压缩,然后采用BP神经网络、支持向量积(SVM)模拟人脑对检测目标区域的识别.结果表明:分块图像大小、数据压缩算法和模式识别方法对识别能力有较大的影响;本文提出的检测算法可以确定可疑目标区域.在实验分析的基础上,提出了提高精度和速度需要进一步解决的几个问题.     

基于加速退化试验的模拟IC寿命评估研究

为解决高可靠性、长寿命模拟集成电路的寿命评估问题,结合半导体器件退化失效的特点,提出了基于加速退化试验的模拟集成电路寿命评估方法。在此基础上,以某型电压基准模拟IC为研究对象,通过对退化数据的分析研究,获得了其在正常工作应力下的寿命数据。     

一种焊缝X射线数字图像的缺陷提取算法

准确提取焊缝X射线图像中的缺陷是图像自动识别的主要问题。针对这一难题,提出了一种以邻域灰度平方差变换为基础,结合灰度级形态学重构和边缘检测,辅之边缘保持滤波和已标注连接分量图像融合的缺陷提取新算法。该方法能可靠地提取出低对比度X射线数字图像中的焊缝缺陷部分。