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根据球面干涉检测中待测球面调整误差的高阶近似模型,提出新的基于泽尼克多项式拟合的球面调整误差校正方法.该方法根据测得原始面形数据的泽尼克多项式系数以及待测面数值孔径,得到调整误差所引入的低阶和高阶像差量,实现高精度球面调整误差校正.通过Zygo干涉仪及大数值孔径待测球面对提出的校正方法进行实验验证,校正精度达到了均方根值近0.001λ、峰谷值0.011λ.实验结果表明,该方法可以实现很高的球面调整误差校正,无需了解实际调整误差量,便于自动化处理,可以降低检测装置中对待测面调节机构精度的要求. 相似文献
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用于超光滑表面无损检测的光学轮廓仪 总被引:2,自引:0,他引:2
所述的光学轮廓仪是利用双焦透镜产生的偏振光束经被检面反射后形成了一共路干涉体系,因此该干涉体系可对超光滑表面做非接触无损检测而无需标准参考面;同时,利用双通道电子共模抑制技术可有效地抑制系统的各类噪声;计算机控制测量,即时给出表面粗糙度参数,测量结果与计量用WYKO轮廓仪比对,结果吻合。仪器特别适合于均方程极值Rq为纳米及亚纳米量级的表面的测试,尤其是软质金属材料及膜层表面。其横向分辨率为1μm,纵向分辨率为0.1nm。 相似文献
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一、研制经过随着近代科学研究在微观领域的深入发展,特别是在航天技术,微电子工业等方面的发展,对光学仪器的性能提出了更高的要求、各种类型的高性能物镜相继问世。如平视场复消色差高倍显微物镜、高对比高分辨率多光谱航摄镜。特种广角摄影物镜及用予大规模集成电路制造的超微精缩物镜、投影光刻物镜等。这些物镜的一个共同特点是,其成象分辨率接近或达到衍射极限。目前在光学设计上,由于借助大型电子计算机进行自动设计,加上选择光学材料的范围已大大扩大,因此在设计上较过去方便得多。但具体工艺上,透镜加工制造的误 相似文献
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为解决大口径光学元件表面疵病检测设备的精确测量、校准和溯源问题。设计了用于标定表面疵病检测系统的标准板,通过电子束曝光将定标图案转移至掩模板,再采用反应离子束刻蚀的方法制作标准板。通过扫描电镜测量标准板上各标准线的真实线宽尺寸,并以扫描电镜测量结果为参考值标定大口径表面疵病检测系统。利用所设计的标准板标定基于散射成像法的大口径表面疵病检测系统。结果表明,当疵病线宽尺寸大于45 μm时,疵病的散射像满足几何成像原理,当疵病宽度尺寸小于45 μm时,需按标定结果进行计算。 相似文献
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压电移相器的空间旋转误差建模与实验分析 总被引:2,自引:0,他引:2
通过对压电移相器在微位移过程中端面旋转的数学建模,对其空间旋转误差进行了理论分析;基于该数学模型,利用泰曼一格林干涉系统对两种不同工艺制作的移相器进行了在线检测,根据干涉条纹的旋转及间距变化,可以定量分析高精度移相器在微位移移相过程中其端面的旋转角度以及空间任意点的位移误差,并给出了相关实验结果.表明:用该方法在线检测各种不同工艺制作的移相器,对其端面上任意点由于端面旋转引起的空间位移误差检测灵敏度达到pm量级.在0~100 V驱动电压范围内进行在线移相检测,实验测量移相器的位移精度优于λ/200,对应相移精度高于0.06 rad. 相似文献
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大口径超光滑表面粗糙度非接触检测系统 总被引:2,自引:0,他引:2
介绍了一种应用激光双焦干涉原理测量大口径超光滑表面粗糙度的检测系统。该系统采用共路干涉和电子共模抑制技术,减小了测试环境的影响,消除了激光光强波动引起的系统误差。同时,采用紧凑的光学干涉头移动的扫描方式,因此能够测量大口径光学元件。系统的横向分辨力为0.5μm,纵向分辨力为0.1nm,系统的重复性优于2%。 相似文献
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介绍了一种利用非接触式方法实时扫描测量精密元件表面轮廓的技术,同时研究了研制了计算机自动控制的多功能表面轮廓仪,该仪器可对各种超光滑球面及平面进行平移和旋转的实时扫描采样,利用干涉共模抑制技术,有效抑制了各种噪声,测量数据可靠,实时显示表面轮廓参数及轮廓图,仪器横向分辨率为1μm,纵向分辨率为0.1nm。 相似文献