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1.
建立Ⅲ-Ⅴ族三元化合物半导体材料的分子束外延生长热力学模型。该模型与实验材料InGaP/GaAs,InGaAs/InP及已发表的GaAsP/GaAs,InAsP/InP的数据吻合得很好。将晶格应变能△G及脱附对温度敏感这两个因素同时纳入热力学模型中,束流和生长温度直接影响合金组分,晶格应变能是合金组分的函数。热力学模型计算结果反映了束流和生长温度是生长过程中最主要的影响因素。讨论和分析了四元半导体材料InGaAsP/GaAs的热力学生长模型。  相似文献   
2.
采用固态磷源分子束外延技术在InP(100)衬底上生长了高质量的InP外延材料.实验结果表明InP/InP外延材料的电学性质与诸多生长参数密切相关.根据霍耳测量结果,对生长条件和实验参数进行了优化,在生长温度为370℃,磷裂解温度为850℃,生长速率为0.791μm/h和束流比为2.5的条件下,获得了厚度为2.35μm的InP/InP外延材料.在77K温度下,电子浓度为1.55×1015cm-3,电子迁移率达到4.57×104cm2/(V·s).  相似文献   
3.
利用喇曼散射方法在77K温度下对不同淀积厚度的InAs/GaAs量子点材料进行了研究.在高于InAs体材料LO模的频率范围内观察到了量子点的喇曼特征峰,分析表明应变效应是影响QD声子频率的主要因素.实验显示,随着量子点层淀积厚度L的增加,InAs量子点的声子频率由于应变释放发生红移.在加入InAlAs应变缓冲层的样品中,类AlAs声子峰随L增大发生了蓝移,从侧面证实了InAs量子点层的应变释放过程.  相似文献   
4.
采用固态磷源分子束外延技术,在不同的生长条件下生长了InP外延材料,并用原子力显微镜对样品表面形貌进行了系统研究.实验结果表明,样品表面形貌的显著变化与生长模式发生变化有关;二维(2D)生长模式和三维(3D)生长模式之间存在转换的临界工艺条件.通过对实验数据的分析,绘制了InP外延生长模式对应工艺条件的区域分布图;在2D生长区域获得了高质量的InP/InP外延材料.  相似文献   
5.
郭俊杰  张琳  皮彪 《中国机械工程》2002,13(13):1081-1084
对使用2维检县(球板或孔板)快速检测三坐标测量机的空间误差,进行了较深入的研究,为了高效,准确地实现测量机的误差修正,提出了分离坐标测量机的21项几何误差的算法,并以龙门式结构的三坐标测量机为例,建立了其误差模型。通过计算机数据仿真,验证了此方法的可行性。  相似文献   
6.
采用固态磷源分子束外延技术,在不同的生长条件下生长了InP外延材料,并用原子力显微镜对样品表面形貌进行了系统研究.实验结果表明,样品表面形貌的显著变化与生长模式发生变化有关;二维(2D)生长模式和三维(3D)生长模式之间存在转换的临界工艺条件.通过对实验数据的分析,绘制了InP外延生长模式对应工艺条件的区域分布图;在2D生长区域获得了高质量的InP/InP外延材料.  相似文献   
7.
为优化和改善某重型汽车驱动中桥主减速器的润滑系统,在原有壳体基础上提出增加油勺和油道等部件的优化方案;运用移动粒子半隐式法(MPS)分析该优化方案的润滑效果;以一级柱齿轮和二级锥齿轮为研究对象,选取高速和低速2种典型工况,得到润滑油液的飞溅状态和速度分布。结果表明:2种工况下润滑油都能通过油勺和油道浸入到轴承和差速器等相关部件,润滑效果得到了改善,从而验证了优化方案的可行性。将移动粒子半隐式法(MPS)成功地运用到减速器润滑分析之中,为润滑系统的分析提供了一种新方法。  相似文献   
8.
利用喇曼散射方法在77K温度下对不同淀积厚度的InAs/GaAs量子点材料进行了研究.在高于InAs体材料LO模的频率范围内观察到了量子点的喇曼特征峰,分析表明应变效应是影响QD声子频率的主要因素.实验显示,随着量子点层淀积厚度L的增加,InAs量子点的声子频率由于应变释放发生红移.在加入InAlAs应变缓冲层的样品中,类AlAs声子峰随L增大发生了蓝移,从侧面证实了InAs量子点层的应变释放过程.  相似文献   
9.
1 INTRODUCTIONModulation doping produced high mobilitytwo dimensional electron gas ( 2DEG) in the Al GaAs/GaAs heterointerface by the physical separa tion of free electrons from positively ionized moth er donors[1, 2]. Modulation doped heterostructurehave attracted much interest for high speed de vices[3 5], low noise microwave amplifiers[6] and formillimeter wave integrated circuits(MMICs)[7] be cause of the extremely high mobility of two dimen sional electron…  相似文献   
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