钢丝磷化膜质量的评估方法

磷化膜质量检测方法上存在的缺陷，给优化钢丝磷化处理工艺、改进磷化膜质量带来较大的困难。根据试验结果，介绍用显微硬度、显微形貌和声发射技术检测钢丝磷化膜质量３种方法的基本原理和特点。     

SiC／Al复合材料断裂机制的声发射研究

用ＳｉＣ单纤维Ａｌ基模型复合材料使断裂源单一化，测定这些断裂源的声发射特征，成功地用声发射特征区分知识复合材料中的纤维断裂，纤维－Ａｌ基体间的界面断裂、基体断裂，结合金相观察，分析了这些断裂产生不同声发射特征的原因。     

表面离化函数φ（0）的研究

用试验方法测定了不同衬底材料上各种薄膜的表面离化函数Φ（０），并与Φ（０）的计算值加以比较。在计算中引入了一个有效的电子背散射系数，代表了衬底，薄膜原子序数不同时对Φ（０）的综合效应。在此基础上，详细讨论了Φ（０）值与衬底、薄膜二者的电子背散射系数，以及薄膜质量厚度的关系。     

硼的电子探针定量分析与质量吸收系数

本文用电子探针测量中的薄膜模型法测定了八种元素对ＢＫα射线的质量吸收系数，与文献上查犁数据相比相关甚大，用几套主修正公式进行反算，得到的强度比与实验测量的标准硼化中度比进行比较指出，我们的数据符合得较好。     

Fe-Mn-Al系相图的实验测定

用电子探针微分析方法测定了 Fe-Mn-Al 系富 Fe 角的五个等温截面,研究了碳对相界的影响。800℃时得到了α+γ+β三相区。碳能使γ相区扩大,高温时效果更显著。     

薄膜厚度的电子探针测量软件与应用

利用Ｓｅｗｅｌｌ的Ｘ射线激发深度公式建立起用电子探针测量有衬底纯元素薄膜厚度的应用软件，测量了Ｔｉ，Ｃｕ，Ｍｏ等四种厚度的薄膜标准的质量厚度，并对测量误差进行分析，最后给出了各纯元素薄膜厚度的测量下限。     

Sm—Fe—N合金中相的显微分析

应用电子探针，扫描电镜，Ｘ射线衍射等现代分析技术研究Ｓｍ－Ｆｅ－Ｎ合金中各相的组成，结构，以及氮化程中的相变。发现离子氮化后，磁性相Ｓｍ２Ｆｅ１７Ｎｘ转变为非晶态，并且部分分解为ＳｍＦｅ３Ｎｘ和α－Ｆｅ相。     

薄膜厚度的电子探针测定

由于电子束的穿透本领很低,在使用较低的加速电压时更是如此,因此用电子探针测定薄膜厚度是很灵敏的。据估计,对重金属膜可测出nm量级的差别。关于电子探针测量有衬底薄膜厚度已有不少的文献报导,在此基础上,本文采用改变加速电压的方法,测量了不同衬底上,不同厚度铝薄膜的X射线归一化强度,画出归一化强度和加速电压的关系曲线,得出归一化强度恰等于1的电压值E_d,然后选择X射线激发深度公式,计算出薄膜的质量厚度。并将此结果与化学分析法,重量法等的试验结果,以及Monte Carlo模拟计算值加以比较,结果说明:电子探针测定有衬薄膜厚度是一种简易可行,又有着一定准确度的方法。     

双涂层和梯度涂层改善SiCf/Al界面性能的微观机制

研究双涂层（RD）和梯度涂层（RG）处理改善SiCf/Al界面和复合材料性能的微观机制。发现RD试样中纤维外涂层氮化硼（BN）阻档了Al向界面内层C的扩散，从而阻止Al,C脆性相的生成，同样RG试样中C，Si梯度分布阻碍Al,C脆性相的形成，故这二种涂层处理均较单C涂层较好地改善了界面和复合材料性能。     

界面结构对SiCf／Al复合材料性能和声发射行为的影响

运用高分辨场发射扫描电镜（ＦＥ－ＳＥＭ）和声发射（ＡＥ）测试研究了ＳｉＣ纤维铝基复合材料的不同界面组成和界面产物及其对复合材料性能和ＡＥ行为的影响发现富碳自理的ＳｉＣｆ／Ａｌ生成Ａｌ４Ｃ３脆性界面,在伸过程中界面脆断产生许多中幅ＡＥ信号,而富ＳｉＯ２处理的ＳｉＣｆ／Ａｌ生成韧工较高的富氧产物,界面强度较高,在形变过程中不易发生界面断裂,不产生中幅ＡＥ信号。