InGaN基高压LED和传统大功率LED的发光效率比较

主要从三个不同角度探究并分析了基于In Ga N材料的高压LED的发光效率优于传统大功率LED的原因。为了保证实验结论的可靠性,文中所采用的实验样品具有相同的芯片尺寸和材料以及相同的封装结构。经过大量的实验证明,更均匀的电流分布和小芯片间隙的出光,使得高压LED的发光效率优于传统大功率LED。结果显示,在相同的1 W输入功率下,高压LED的发光效率比传统大功率LED高大约4.5%。     

固定相关色温下三基色合成白光LED的光谱优化

通常获得白光LED的高光视效能（K）往往是以降低其显色指数（Ra）为代价的,本文在固定相关色温（CCT）为3 000±10 K下,通过调配三基色白光LED光谱参数来寻求K和Ra的最佳平衡。模拟结果表明：当三基色白光LED的3个峰值波长分别为467、550和618 nm,半高宽（FWHM）分别为30、71和23 nm以及...     

可控温大功率LED光强空间分布测试系统的设计

发光二极管(LED)的光强空间分布特性决定了它能否满足特定场合的应用。大功率LED由于发热量大,其绝对光强空间分布(LISD)的测试也必须在特定热沉温度下进行才能得到准确可靠的结果。设计了一个可对大功率LED进行热沉温度控制且快速实现LISD自动测试的系统。该自动测试系统基于LEDGON-100测角光度计及其高精度的二维旋转台,配合测试适配器、温度控制器、光度探头、Keithley 2400源表和测试软件组成。测试软件基于Delphi程序语言开发。在控温条件下,该LISD自动测试系统稳定可靠,测试时间大大缩短,测试结果实时直观。利用该自动测试系统对具有朗伯型和蝙蝠翼型两大LISD类型的LED进行测试,获得它们的二维LISD和三维LISD。实验结果表明:随着热沉温度的增加,光强绝对值下降,而相对LISD却不变。     

两种高温老化方式对功率白光LED光热参数的影响

测试和比较了大功率白光LED在高温耐电(HTCD)和高温存储(HTS)两种老化条件的光热性能变化。结果表明,在HTCD老化下,光通量衰减达到40～60%;而HTS下的衰减只有10～14%。这说明,电流应力对LED的寿命影响比较大。利用热阻瞬态响应法测试和结构函数理论分析两种高温老化条件下LED的热特性,结果表明,在HTCD老化下LED热阻的变化较HTS更为明显,并且热阻变化大多体现在导热Ag胶层。这主要是由于高温条件下电流应力引起Ag颗粒的空间分布不均,使粘结界面产生空隙导致热阻发生不同程度的改变。