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随着现代科技的技术的不断进步,我国测绘技术在城镇地籍中掀起了测量浪潮,大大推动了测绘及时的发展,测绘技术对于城镇地籍测量工作有着重要的发展意义,但这同时也存在一定的发展问题,因此,必须清楚的认识城镇地籍测量中存在的问题,才能实现测绘技术的良好应用。 相似文献
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超导转变边沿传感器(TES)是光强单位坎[德拉]量子化所需的单光子探测器,金属超导薄膜物理特性的研究是TES研究的基础。采用不同电源功率磁控溅射制备高纯Al、Ti超导纳米薄膜,分析其薄膜生长速率随气压和功率的变化。利用表面应力仪及电学测量仪,分析薄膜表面应力及电学特征。最后将薄膜放入商用稀释制冷机中,进行超低温测试,获得其超导特性。研究发现超导转变温度Tc以及转变沿宽度ΔT是影响TES能量分辨率以及时间常数的重要参数。实验结果将为TES器件的制备奠定基础。 相似文献
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