数理统计方法在分析测试中的应用

八十年代初,为判明误差,应用数学、试验设计、数据分析等被广泛应用在分析测试中,因Excel能运算一些的数学公式,使数理统计方法在监测中的应用更为便捷,为查明监测误差,并把所有误差减少到允许的范围内,为保证监测质量做出了贡献。     

XRF测定铂制品中Pt、Au、Pd、Ag、Cu、Ni等6种元素含量

本文利用XRF金标样的多元素回归方程,对Pt、Pd的荧光强度进行修正,修正后的荧光强度当作Au、Ag的荧光强度代入回归方程中,利用计算机编程计算铂制品中的Pt、Au、Pd、Ag、Cu、Ni等6种元素的含量。该法测定的准确度优于0.5％,适用于Pt的测定范围为85％～99.92％.具有无损、快速、准确、可靠等优点。     

ED—XRF法对镀金饰品的测定

和ＥＤ－ＸＲＦ荧光能谱仪，利用金原子在Ｘ射线激发下所发射的Ｌβ线和Ｌθ线的强度比值来识别样品是镀金的还是Ｋ金。同时利用这个比值的大小来测定镀金层的厚度，可测镀金层厚度０－５μｍ，最大相对标准偏差１５％。     

选择激发基本参数法识别镀金层以及测定其厚度

本文选择了Mo靶和Sn靶作为二次靶激发样品,同时应用无标样基本参数法计算样品谱图的拟合金含量,以此来识别样品是镀金的还是K金的,并测定了镀金层的厚度,本方法测定镀金层的范围为0—6μm,测定的偏差≤0.15μm,相对偏差≤15％。     

X射线荧光法测量金薄膜和镀层的厚度

采用X射线荧光能谱仪,分别测量基底元素的强度,以求得金薄膜和镀层的厚度。用镀金片检验,当薄膜和镀层厚度t<3.0μm时,测量偏差<0.10μm,方法简便,可方便地用于镀层厚度的控制生产中。     

XRF靶线内标法测定金覆盖层的厚度

应用XRF靶线内标法测定Au的X—荧光谱线的强度,以此来测定饰品的金覆盖层的厚度,可以克服饰品的几何形状的影响。本文选择Rh的K_α线为内标线,Au的L_β线为分析线,以Au的L_β线强度对Rh的K_α线强度的比值为变量,研究了该比值与金覆盖层厚度的函数关系,以此测定金覆盖层的厚度,本方法测定金覆盖层厚度范围为0—5μm,测定结果与标称值的相对偏差≤15％。     

EDXRF发射比值法识别镀金层及镀金层厚度的测定

本方法利用Au原子在X射线激发下所发射的L_β线和M线的强度比值来区别镀金和K金,同时也利用这个比值的大小来测定镀金层的厚度,测定区范围为0—4μm,测定值与标定值的相对偏差小于12％。     

ED-XRF法对镀金饰品的测定

本文使用ED-XRF荧光能谱仪,利用金原子在X射线激发下所发射的L_β线和L_α线的强度比值来识别样品是镀金的还是K金。同时,利用这个比值的大小来测定镀金层的厚度。可测镀金层厚度0～5μm。最大相对标准偏差15％。     

头发样的X射线荧光光谱的测定

本文采用 ED—XRF 法直接测定头发样中微量元素 Cu、Fe、Zn、Mg、Ca,试验了最佳工作条件,方法 RSD=1.3—7.1%,分析结果与原子吸收法测定值基本一致。     

X—荧光能谱法测定磷青铜、青铜标样中的铜与锡

本文提出 X 荧光能谱法测定磷青铜,青铜标样中铜锡含量的方法。本方法采用能谱仪中定量分析软件,选择正确的工作条件,测定37个磷青铜、青铜中的铜与锡。结果表明磷青铜、青铜标样中铜含量在72.25%—94.50之间时,准确度<0.2%,相对标准偏差<0.5%。而锡含量在4.24%—7.92%之间时,准确度<0.2%,相对标准偏差<5%。