PET薄膜中32S离子径迹的热退火效应

采用径迹蚀刻的方法研究了热处理对聚对苯二甲酸乙二醇酯（PET）薄膜中重离子径迹的热退火效应。使用113.7 MeV的³²S离子在PET薄膜中产生垂直于表面且贯穿薄膜的离子径迹。对薄膜进行局部热处理，加热温度为70～240 ℃，时间为1～300 s。薄膜经过化学蚀刻成核孔膜后使用显微镜观测。结果表明：在相同的热处理时间下，随着热处理温度的升高，PET薄膜中离子径迹的热退火效应愈加明显；在热处理温度不变的情况下，随着热处理时间的增加，退火效应亦愈加明显。     

气体比例和工作电压对阻抗板探测器时间分辨率的影响

阻抗板探测器（ResistivePlateChamber，RPC）是利用高阻抗性材料制作的气体探测器，用于探测高能带电粒子的径迹和时间。RPC的制作工艺简单，容易进行批量生产。RPC具有可与闪烁体探测器相媲美的时间分辨率和很高的探测效率，双层RPC的探测效率在95％以上。RPC有两种工作模式：雪崩模式和流光模式。     

高能重离子碰撞中能量密度和粒子密度数值分析

分别用无穷级数展开方法和数值积分计算中的高斯-拉盖尔求积法对高能重离子碰撞中能量密度和粒子密度数值进行计算，并对结果及级数展开中的高次项和一次项的大小进行了比较。结果表明：高斯-拉盖尔方法可以作为一种实用的算法应用在高能重离子碰撞的计算中。     

高锰酸钾溶液对核径迹敏化新现象的研究

利用电导法研究高锰酸钾溶液预处理对聚对苯二甲酸乙二酯膜(PET)蚀刻速率的影响,用不同浓度的高锰酸钾溶液预处理1 h、2 h、3 h、4 h、5 h、6 h,径迹蚀刻速率在2 h时达到峰值,之后随预处理时间的增长而下降,基体蚀刻速率随预处理时间的增长而变小,半锥角随预处理时间增长而减小。在0.1 mol·L-1高锰酸钾溶液中分别加入5%、15%、25%、35%的2 mol·L-1硫酸溶液,实验结果表明,酸性高锰酸钾对径迹蚀刻速率影响较小,基体蚀刻速率随硫酸量的增加而变大,半锥角也相应地增大。另外,电导法中所用的直流电压大小对径迹蚀刻速率也有影响。     

高温高密物质的粒子密度、能量密度和化学势计算

高能重离子碰撞作为一个崭新和前沿的研究领域,对人们了解物质更深层次的性质,对于粒子物理、核物理和有关宇宙形成及演化的研究都有非常重要的意义。统计模型是研究高能重离子碰撞的重要理论模型,通过它研究相对论重离子碰撞中产生的共振物质的统计性质。在统计模型中系统的粒子密度、能量密度和化学势是几个重要的物理量。用无穷级数展开方法和数值积分计算中的高斯-拉盖尔求积法对高能重离子碰撞中能量密度和粒子密度数值进行计算,并对结果及级数展开中的高次项和一次项的大小进行了比较。比较表明:二种方法具有同样的精度,而高斯-拉盖尔…     

37 ^9Be（P，α）^6Li核反应截面的间接测量

核反应^9Be（P，α）^6Li在天体能区的裸核反应截面测量对核天体物理中大爆炸核合成及恒星核合成的机制研究具有非常重要的意义。然而，由于低能带电粒子核反应中库仑位垒和电子屏蔽效应的影响，直接测量^9Be（P，α）^6Li在低能区的截面非常困难。为此，本工作使用基于准自由反应机制的特洛伊木马方法对其进行间接研究。     

7Be在Au中衰变率的精确测量

对在通常实验室环境下注入到Au中的⁷Be发生电子俘获的半衰期进行测量。共测量4.8个半衰期，测得T_1/2=（53.245±0.003）d。此测量结果可作为研究⁷Be衰变率随环境不同而发生变化时的参照值。     

紫外光照射对聚丙烯核孔膜蚀刻的影响

采用主峰波长为365 nm的紫外光灯对经³²S离子和⁷⁹Br离子辐照过的16 μm厚的聚丙烯（PP）膜正反面分别敏化6、8、10、12 h。选取重铬酸钾和硫酸的混合溶液作为蚀刻液对样品膜进行蚀刻,采用电导法监测电流随蚀刻时间的变化,确定不同敏化时间下样品膜的导通时间。同种离子辐照后敏化时间越长,膜导通时间越短,径迹蚀刻速率也越快,且辐照离子的原子序数越大,该影响越明显。相同敏化时间（12 h）和蚀刻条件下,³²S离子辐照后膜的导通时间是⁷⁹Br离子辐照后的4.8倍。     

PET核孔膜蚀刻速率影响因素的研究

核孔膜是通过重离子照射薄膜后进行化学蚀刻所得到的高性能过滤材料,蚀刻速率是影响高质量核孔膜制备的重要因素。本文探讨了不同蚀刻液浓度、温度以及重离子辐照能量对蚀刻速率的影响。利用140 MeV的32S离子在室温和真空条件下对4层堆叠的PET(polyethylene terephthalate)薄膜进行了辐照。在对辐照样品进行化学蚀刻期间采用电导法确定了径迹蚀刻速率Vt。结果表明:蚀刻速率与蚀刻温度呈指数相关,随蚀刻液浓度增加而线性增大;径迹蚀刻速率随能量损失率(离子能损)增大。研究确定,在入射32S能量为1.6 MeV·u-1时,NaOH浓度为1mol·L-1、蚀刻温度为85°C时最有利于形成圆柱形微孔。     

阻抗板探测器工作电压和时间分辨率的测量及分析

在不同工作电压下对阻抗板探测器(resistive plate chamber,RPC)的信号进行了测试,并根据信号幅度的大小和形状判断出产生雪崩信号和流光信号的电压区域.研究了气体成分和工作电压对RPC时间分辨率的影响.时间分辨率随电压的增加先下降后上升,时间分辨率有最低点,随SF6气体比例的增加,时间分辨率最低点的电压向前移动了200 V.当电压为 10.2 kV、φ(SF6)=1.3%时,时间分辨率有最理想值.