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1.
IDDT: Fundamentals and Test Generation   总被引:5,自引:0,他引:5       下载免费PDF全文
It is the time to explore the fundamentals of IDDT testing when extensive work has been done for IDDT testing since it was proposed.This paper precisely defines the concept of average transient current(IDDT) of CMOS digital ICs,and experimentally analyzes the feasibility of IDDT test generation at gate level.Based on the SPICE simulation results,the paper suggests a formula to calculate IDDT by means of counting only logical up-transitions,which enables IDDT test generation at logic level.The Bayesian optimization algorithm is utilized for IDDT test generation.Experimental results show that about 25% stuck-open faults are with IDDT testability larger than 2.5,and likely to be IDDT testable.It is also found that most IDDT testable faults are located near the primary inputs of a circuit under test.IDDT test generation does not require fault sensitization procedure compared with stuck-at fault test generation.Furthermore,some redundant stuck-at faults can be detected by using IDDT testing.  相似文献
2.
全速电流测试的故障精简和测试生成   总被引:2,自引:0,他引:2  
针对全速电流测试方法测试生成算法效率低下的问题,提出故障压缩、故障模拟等故障精简的方法,以提高该方法的测试生成效率.实验结果表明,该方法使得需要进行测试生成的故障点平均减少了66.8%,该测试方法的测试生成的效率提高了200多倍.  相似文献
3.
用于I_(DDT)测试的BIST测试向量生成器   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大降低测试开销。本文采用一种具有规则性、模块化和层叠结构的自动控制单元(CA),来构造产生测试向量对的 BIST模块。实验证明,该方法用于瞬态电流测试是有效的。  相似文献
4.
一种基于区间约束的折半查找算法   总被引:1,自引:0,他引:1  
针对变化范围很大而又相对稳定的查找对象,给出一种基于区间约束的折半查找算法。当后一个查找对象在前一个查找对象附近时,在最坏状态和平均状态下,该算法与标准的折半查找算法比较,其查找长度元旦显著减少,而且代价很小。此算法适合用于类似过程控制中的对低频信号的实时查有处理,并在国家级新产品WPJ-3微机频率事故记录装置和WQP-4微机频率继电器中得到了成功的应用。  相似文献
5.
微机在电网质量监测和事故追忆中的应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
介绍一种由单片机和PC机组成的频率监测与分析系统。该系统在监测电网运行质量和进行事故追忆中,为我们提供了一种有效的手段。  相似文献
6.
一种基于伪随机激励的混合电路测试方法   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
在通过计算输入和输出的互相关函数得到特征空间的基础上,获取一种新的方法分析特征空间,从而判别电路有无故障。该方法提高了测试的效率和正确性,适用于内建自测试。  相似文献
7.
一种基于Loeffler算法的快速实现2D DCT/IDCT的方法*   总被引:1,自引:1,他引:0       下载免费PDF全文
提出了一种基于Loeffler[8]算法的快速实现二维离散余弦变换/反离散余弦变换(2D DCT/IDCT)的方法。采用行列分解的方式,仅使用一个1D DCT/IDCT处理核快速完成8×8的2D DCT/IDCT变换。通过合理安排时钟周期数和简化各周期内的操作,使1D DCT/IDCT模块能在八个时钟周期内快速完成一次变换。仿真试验表明,与目前使用相同FPGA芯片的商业IP核相比,所使用的资源减少了10%,而速度却提高了10%。  相似文献
8.
Hook技术在监控PSpice中的应用研究*   总被引:1,自引:0,他引:1       下载免费PDF全文
介绍了仿真工具PSpice的基本概念和Hook技术的基本原理,并分析了在进行模拟及混合信号电路测试的仿真试验时,如何利用Hook技术来监控PSpice的自动运行。  相似文献
9.
相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法   总被引:1,自引:1,他引:0       下载免费PDF全文
针对基于相容类加权的扩展相容性扫描树构造算法在生成相容类时存在的问题,对其进行3个方面的改进:选取包含X的扫描单元,选取度更小的扫描单元生成异或类,异或类再进行异或生成新的异或类。实验结果表明,该改进算法是有效的。  相似文献
10.
检测CMOS电路中的开路故障通常需要使用测试向量对。内建自测试(BIST)作为一种有效的测试技术可以大大降低测试开销。本文采用一种具有规则性、模块化和层叠结构的自动控制单元(CA),来构造产生测试向量对的BIST模块。实验证明,该方法用于瞬态电流测试是有效的。  相似文献
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