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在工程实践中,需要从具有多个相似点阵的已知点阵(Spot Array)集[S]中匹配出一个与未知点阵[P]最相似的点阵[P*],然后对两个点阵做样本点匹配。完成这个任务的关键挑战在于如何匹配出与未知点阵[P]最相似的已知点阵[P*]。这个问题比较新颖,目前少有理论研究,文中探索出一种基于图形的几何特征分析的描述算法,算法首先将每个点阵构建成一个唯一的简单图(Simple Graph)轮廓图形,同时为每个图形构建一个链式结构,然后利用轮廓图形的几何特征计算未知点阵与各已知点阵的相似程度,匹配出相似度最高的一个,最后利用链式结构完成两个点阵间的样本点匹配。该算法不受点阵的坐标系旋转和尺度缩放的影响。通过实验表明,该算法能够快速、准确地完成点阵相似度比较和样本点匹配任务。  相似文献   
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