X射线荧光光谱法测定生铁块中杂质元素

应用荧光光谱仪分析生铁块中Si、Mn、P、S、As、Ti。该分析方法简便、快速,结果较为满意,适用于炼钢生产过程中的在线分析和质量控制。     

X射线荧光光谱法测定球团矿的成分

采用粉末压片法制样，使用ARL9800XP型XRF—XRD结合型荧光光谱仪分析球团矿中TFe、FeO、SiO2、CaO、S、MgO、A12O3及P的含量。建立的工作曲线线性较好，且该方法简便、快速，精密度和准确度能够满足生产需要。     

X射线荧光光谱法分析锰铁

本文通过对X荧光光谱法测定锰铁中元素进行研究,试样采用粉末压片法制成,用国家标样和自制标样绘制工作曲线,取得了较好的效果.     

粉末压片X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素

介绍了X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素的方法。研究了粉末压片法中助研剂丙二醇的选择和用量,考察了氧化铝粒度对X射线荧光强度的影响。试验表明,样品的粒度达到40 μm以下,粒度效应减弱;对于10.0 g氧化铝样品,加2滴丙二醇,研磨40 s,并用硼酸镶边垫底,制备的测量样片效果较好。用系列氧化铝标准样品作校准曲线,对样品中11个元素进行测定,其SiO₂、Fe₂O₃、Na₂O、K₂O、CaO、Ga₂O₃、ZnO测得结果的相对标准偏差（RSD）均小于8.0%,P₂O₅、TiO₂、V₂O₅、Cr₂O₃的含量在3倍检出限以上,RSD小于10%,含量在3倍检出限以下的RSD小于17%。用氧化铝标准样品验证,测量结果与标准样品的认定值基本一致。     

压片制样X射线荧光光谱法测定除尘灰中全铁含量

采用粉末压片法制样X射线荧光光谱法分析除尘灰中的全铁含量。根据除尘灰中的全铁含量分布范围广的特点,采取在一个分析方法中,根据样品种类的不同,建立铁元素的不同分析通道的办法,并对每个通道进行独立校准,用相应分析通道的工作曲线计算分析结果。该方法分析速度快,分析结果与化学法测定结果相符,精密度、准确度能够满足生产需要。     

粉末压片X射线荧光光谱法测定球团矿中各主次成分

采用粉末压片X射线荧光光谱法测定球团矿中的各主次成分,结合本公司的实际生产工艺和要求,通过优化制样过程中的各项参数,确定最佳的制样条件,选用具有一定梯度含量的自产球团矿样品用化学分析进行定值,而后绘制工作曲线对生产样品进行分析。经实际使用表明,本法测量准确度、精密度较好,所得分析结果与化学分析结果一致。     

硅锰合金压片X射线荧光光谱法测定

本文介绍高硅锰合金的压片X射线荧光光谱法测定。对试样量、粘结剂的种类及配比、压力、静压时间等压片条件进行了实验,用硅锰合金标样及内控标样绘制工作曲线,采用PH模式对基体进行经验参数校正。本法具有准确、稳定、分析速度等快等特点,满足了生产测定要求。     

X射线荧光光谱法测定工业硅样品中Fe的不确定度评定

分析了运用X射线荧光光谱法测定工业硅中Fe含量时,可能对分析结果产生不确定度的各种原因.依次对分析重复性、标准物质、分析曲线回归、天平称量等方面引起的不确定度分量作出了评定,最后计算了合成标准不确定度以及扩展不确定度,并给出使用该方法检测工业硅中Fe含量所得分析结果的不确定度评定报告.从评定结果得出结论,拟合分析曲线的过程所引入的不确定度对整体影响是最大的.     

X射线荧光光谱法测定氧化锌粉中锌铁硫铜铅

以粉末压片方法自制样品,采用荷兰帕纳科Axios—PW4400型波长色散X射线荧光光谱仪一次测定氧化锌粉中的锌、铁、硫、铜、铅5种元素含量。试验测定结果与常规化学分析方法测定结果一致。分析结果准确、快速,成本低,适合湿法炼锌工艺系统中连续生产需要。     

X射线荧光光谱法测定钢水净化剂

采用粉末压片法制样，X荧光光谱法分析钢水净化剂（硅铝合金、硅铝钙钡、硅铝钡、硅钙线等）中的si、AL、ca、Ba、S、P，建立了较准曲线，使之测定方法简单、快速、准确。     

粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定硅锰合金中硅锰磷

基于对试样检测周期的要求,实验采用可溶性淀粉为稀释剂兼粘结剂进行压片制样,选取与待测试样组成、结构及粒度相似的具有一定梯度含量的硅锰合金试样系列,经国家标准方法确定硅、锰和磷值后作为校准样品,采用能量色散X射线荧光光谱法测定硅锰合金中硅、锰、磷。通过正交实验,确定优化的制样条件为:称取4.000 0g样品及0.400 0g可溶性淀粉,混合均匀后,于30t的压力压制样片,所得样片强度适中、均匀光滑,重现性好。精密度试验结果表明,硅锰合金中硅、锰、磷测定结果的相对标准偏差(RSD,n=10)分别为0.59%、0.19%和5.7%;正确度试验结果表明,实验方法的测定值与国标方法相一致,满足冶炼现场快速检验的需要。     

X射线荧光光谱法测定高纯石墨中杂质元素

高纯石墨的传统湿法化学测定,需要高温灰化处理样品,程序相对繁琐.试验通过高纯石墨和金属离子溶液配制出有含量梯度的系列高纯石墨定值标样,并经电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)定值,解决了高纯石墨标准样品缺失的问题.试验对比了不同炭素基体试剂的形貌,确定使用高纯石墨作标准样品的基体试剂,利用ICP-AES方法...     

X射线荧光光谱法测定石灰石中多组分含量

采用粉末压片法制样,建立了X射线荧光光谱法测定石灰石中10种组分(CaO、SiO₂、MgO、Fe₂O₃、Al₂O₃、MnO、TiO₂、K₂O、Na₂O、SrO)含量的方法。通过试验确定石灰石样品粒度达到74 μm以下,3.00 g样品称样量,30 t压力压片的制样条件。试验发现,压片时利用硼酸镶边和硼酸衬底,不另外添加粘结剂可解决样品粘结问题;利用经验α系数法校正基体效应,校正后校准曲线的离散度较小,有效地消除了重叠谱线干扰。各组分的检出限在0.47~188.08 μg/g之间。对石灰石试样进行精密度考察,各组分含量的相对标准偏差(RSD)在0.042%~5.7%范围内;对石灰石标准样品进行分析,各组分的测定值与认定值相符。方法满足进出口商品检验工作对效率和准确度的要求。     

X射线荧光光谱法测定冶炼锡烟尘中10个组分

采用硼酸衬底直接压片法制取锡冶炼烟尘粉末的片状试样,然后用X射线荧光光谱法测定烟尘试样中Al_2O_3,As,SiO_2,Fe_2O_3,CaO,MgO,Pb,S,Sn,Zn含量。元素之间谱线干扰采用ARL9400WinXPF 2.0软件中的Trail-Lachance模型进行校正。对一样品的各组分进行11次测定,得到相对标准偏差在0.09%～3.66%之间,测定结果与滴定法和原子吸收光谱法吻合较好。方法快速、准确,可满足生产快速分析的要求。     

粉末压片-X射线荧光光谱法测定含碳化硅铝质耐火材料中8种组分

含碳化硅耐火材料已广泛地应用于冶金炉料中,目前对含碳化硅耐火材料测定常采用湿法分析,然而这些方法繁琐耗时,不适合大批量检测要求。实验采用聚酯(PET)薄膜包裹粉末压片法制样,以微晶纤维素为粘结剂,选取与待测试样粒度一致、基体相似、各成分含量有梯度的铝硅系耐火材料标准样品和碳化硅标准样品,按照不同的比例,配制成各组分含量从低到高具有一定梯度含碳化硅铝质耐火材料校准样品,对其拟合校准曲线,建立了X射线荧光光谱法(XRF)同时测定含碳化硅铝质耐火材料中TSi、Fe₂O₃、Al₂O₃、CaO、MgO、TiO₂、P₂O₅、K₂O含量的快速分析方法。采用PET薄膜包裹压片不仅减少粉尘污染,把对仪器损坏的几率降到了最低,而且可以防止压片暴露在空气中,增加压片保存时间。对含碳化硅铝质耐火材料试样进行了精密度考察,各组分测定结果的相对标准偏差(RSD,n=10)为0.08%～3.7%。采用实验方法对合成含碳化硅铝质耐火材料校准样品(未用于校准曲线绘制)和实际样品进行测定,结果与参考值或国标方法的分析值相吻合。     

X射线荧光光谱法测定白云石、石灰石中氧化钙、氧化镁和二氧化硅

将白云石、石灰石标准样品直接压片, 通过灼烧减量对氧化钙、氧化镁和二氧化硅含量进行校正, 根据其含量与强度的对应关系绘制校准曲线, 建立了X射线荧光光谱法(XRF)测定白云石、石灰石中这3种主要成分的方法。对一部分试样直接压片测定, 同时另一部分试样进行灼烧减量试验, 可大大节约标准样品的用量。灼烧时间试验表明, 试样在1 100 ℃下灼烧0.5 h就可达到恒重;粒度试验表明, 样品粒度大于200目时可消除粒度效应的影响。用CaO和MgO含量进行基体校正, 可消除其对低含量SiO₂的影响;采用经验系数法可消除元素间的吸收-增强效应。精密度试验结果表明, 氧化钙、氧化镁和二氧化硅测定结果的相对标准偏差(n=8)在0.038%~3.5%之间;对石灰石和白云石标准样品和实际样品进行准确度考察, 测定值与认定值或滴定法的测定值一致。     

粉末压片-X射线荧光光谱法测定含铌多金属矿样中铌

采用粉末压片制样,使用X射线荧光光谱仪对含铌多金属矿样中的铌进行测定。由于含铌的多金属矿标样极少且含量较低,实验选取钽矿石标准样品、矿区具有代表性的化学法定值多个样品,及其他土壤、岩石、多金属矿物标准样品、矿区定值样品混合配制的校准样品,制成一套铌含量5.9～2 700 μg/g、梯度适当的校准样品系列,绘制的铌校准曲线相关系数为0.998 6。采用经验系数和康普顿散射线内标法校正了基体效应,用Omnian 近似定量软件、化学分析法与岩矿鉴定分析,确定了矿区矿物中主要成分SiO₂、Al₂O₃、CaO、MgO、K₂O、Pb、Zn、Cu、Fe、Zr、Mo、Rb、Hf、Th、U、Ti、Ga及稀土的最高允许量。综合考虑样品基体对铌检出限的影响,实验选取8个标准样品计算出检出限的平均值为1.62 μg/g。对岩石标样进行精密度考察,结果的相对标准偏差(RSD,n=12)为2.2%。对标准样品及矿区实际样品进行分析,测定值与认定值、实验室内其他方法的测定值及其他实验室的测定值吻合,满足《地质矿产实验室测试质量管理规范》的要求。     

波长色散X射线荧光光谱法测定氧化钼中主次成分

采用粉末压片法制取试样,波长色散X射线荧光光谱法测定氧化钼中的Mo、Pb、Cu、Fe、Si O2、CaO、K等7种成分。对仪器参数、基体干扰、曲线拟合进行了研究,试验了各成分的通道类型、晶体类型、探测器类型、管压、管流等分析条件后确定了最佳分析参数。选择了与试样基体相匹配的定值样品建立校准曲线,采取经验系数法对基体效应进行校正。对于主次量组分,相对标准偏差低于1%(n=11)。方法用于实际样品的分析,其荧光分析值与湿法分析值相符。方法能够很好满足氧化钼的主次成分分析。     

粉末压片-波长色散X射线荧光光谱法测定煤中氟

快速准确测定煤中氟含量,对查清我国煤中氟的分布规律以及生产控制有着重要意义。将样品粉碎至粒度小于74μm,采用硼酸镶边,在压力35t条件下保压25s,制成样片,采用经验系数法校正基体效应,建立了粉末压片制样-波长色散X射线荧光光谱法测定煤中氟含量的方法。采用不同氟含量(质量分数范围37~1496mg/kg)的煤标准样品绘制校准曲线,校准曲线线性相关系数为0.9998,方法检出限为3mg/kg。采用实验方法对3个不同氟含量的煤实际样品平行测定10次,测得结果的平均值与国家标准方法GB/T 4633—2014采用的高温燃烧水解-氟离子选择电极法基本一致,相对标准偏差(RSD,n=10)为1.9%~3.5%。将实验方法应用于煤标准样品中氟含量的测定,测得结果与认定值基本一致。