尘土进入手机模拟测试方法

针对尘土进入电器机理及实验模拟方法展开研究.影响尘土进入的因素有外界气流、电器密封结构、电器的电场、热场及外界动态环境等.首先,利用有限元建模,分析了电场因素对尘土进入的影响,通过对实验结果方差的分析,验证了有限元分析结论.然后,针对动态环境因素进行了振动模拟实验,研究振动模式与频率影响.最后,结合前期研究,综合得到影响尘土进入的主导因素是外界气流、密封结构及动态环境,而电器电场、热场因素可忽略,并依此给出了实验模拟系统的设计原理图.     

尘土颗粒影响下电路板电化学迁移失效寿命建模探索

针对离散尘土颗粒与温度、湿度、电场强度交互作用的复杂条件下,难以有效建立电路板电化学迁移的失效物理模型的问题,通过温湿偏置加速实验,模拟不同积尘密度下电路板的电化学迁移失效,分析颗粒分布密度对电路板绝缘失效时间的作用特性.采用正交实验获取不同尘土颗粒密度、温度、湿度、电场条件下电路板绝缘失效的寿命数据.基于数据驱动的方法,探讨电路板在尘土颗粒污染下的电化学迁移失效寿命建模.对比了多项式回归、机器学习中的梯度提升回归树和随机森林3种方法在尘土分布密度的高低区间内的寿命预测效果.讨论了尘土颗粒污染下利用机器学习建立电路板电化学迁移失效寿命模型的有效性.     

基于交互技术与区域识别的电器电场求解器研究

将自带交互式绘图功能与区域识别相结合，并基于有限元数值求解技术，构建电器电场求解器.该求解器包括前处理模块、电场数值计算仿真模块以及后处理模块.其中，前处理模块可通过初始剖分节点数据排序算法有效实现基于场值和位值的有限元网格剖分单元的自动加密与调整，以提高电场数值求解的效率.并将电场求解器应用于实际断路器产品电场数值计算与分析中，形成了一套可进行多重介质复杂结构的电器电场求解器，为电器电场的数值实验研究提供了可实现的交互式平台.     

影响陶瓷泥浆吸浆速度因素的研究

本文研究了陶瓷泥浆性能、石膏模性能和外界条件等因素对陶瓷泥浆及浆速度的影响。实验表明影响泥浆吸浆速度的因素是复杂的，多方面的。     

压接型IGBT芯片动态特性影响因素实验研究

压接型IGBT器件内部具有复杂的电-热-力环境，直接影响了其内部IGBT芯片的动态特性，进而决定了整个器件的安全工作能力。为此，研究不同影响因素下的压接型IGBT芯片动态特性具有重要意义。为了全面获得电-热-力综合影响下压接型IGBT芯片的动态特性，利用所研制的具有多因素解耦、灵活调节能力的双脉冲实验平台，针对一款3.3kV/50A压接型IGBT芯片，测量获得了不同母线电压、负载电流、驱动电阻、温度及机械压力下的双脉冲实验波形。分析了不同影响因素对双脉冲波形的影响规律，对比了不同影响因素对IGBT动态特征参数影响程度，结果表明母线电压主要影响关断过程，负载电流、驱动电阻和温度主要影响开通过程，机械压力对开通关断过程的影响很小，研究结果对IGBT芯片建模及压接型IGBT器件安全运行具有重要的指导意义。     

电场辅助水合物生成与分解研究进展

水合物技术在天然气储运、二氧化碳捕集与封存、气体分离和冷能等领域具有广阔的应用前景。自然条件下,水合物普遍存在着生成速率低、应用环境限制多等因素,因此常采用物理法或化学法来改善其工业化生产条件。物理法和化学法具有生成速率高、储气量高的优点,但存在能耗高、设备成本高、环境污染等问题。近年来,电场对水合物的影响及其作用机理吸引了众多学者的关注与研究。本研究综述了学者们在不同电场环境下对TBAB、THF、CH_4、CO_2水合物生成与分解进行的分子动力学模拟以及实验的研究进展,包括研究条件、作用效果以及电场对水合物的作用机理。从众多的研究结果得出,电场对水合物的生成与分解具有积极影响,有利于实际应用,值得继续研究及探索。     

稠酒稳定性研究

本文针对稠酒放置过程中有分层产生这一问题，进行了一系列实验研究．在实验中选择了琼脂、羧甲基纤维素钠、乳化剂、淀粉等作为添加剂，来提高稠酒稳定性．根据实验结果，从理论上对影响稠酒稳定性的因素进行了分析．     

湿法磷酸脱硫（SO4^2—）净化研究

针对云南湿法磷酸进行了脱除硫酸根的实验研究，考察了沉淀剂用量，反应时间及温度等因素对硫酸根去除率的影响     

织机凸轮式打纬机构动态响应研究

本文在考虑凸轮轴挠度和系统阻尼因素后，比较系统地分析了推导了凸轮式打纬系统对外界激励的动态响应方程，介绍了一种对工程应用中地介变系数线性非齐交方程具有普遍适用意义的数值求解简化方法，并针对某些外界激励输入，计算得出了系统相应的动态响应及剩余振动。     

TCP－HA－BG多孔复合生物陶瓷降解性能研究

从物理化学、物质结构、热力学、断裂力学等观点出发，远用原子吸收光谱电子计算机图象分析仪等手段，考察了该系统复合陶瓷的体外静、动态溶解性能及动物体内降解性能，分析了影响材料降解能力的各种内在及外界因素。得出材料的降解机理主要是液体介导过程。     

电力系统低频低压减载装置测试研究

针对电力系统新型低频低压减载装置测试的难题——不能定量地、准确地校验频率下降率ｄｆ／ｄｔ、电压下降率ｄｕ／ｄｔ定值,作者提出了一种解决方法：用单片机控制技术定量产生电压幅值、频率、ｄｕ／ｄｔ和ｄｆ／ｄｔ信号,用这些量来模拟电力系统电压、频率的静态与动态特性,并用以对减载装置的性能进行测试。文中详细介绍了实现方案、技术特点、产生电压频率以及它们的变化率的原理和硬软件构成。     

Inertia Matching During Dynamic Simulation of Vehicle Drive System on Test Bench

Framework and basic parameters of a test bench for motor drive system of dectric vehicle (EV) are illuminated. Two kinds of electric drive models, one was for the electric vehicle drived on real road, the other was for that on test bench, are put forward. Then, dynamic analysis of these models is made in detail. Inertia matching method of the test bench is researched and some useful formulas and graphs are brought forward. The experiment of an electric bus is introduced in order to explain the usage of this inertia matching method.     

提高电除尘器除尘效率措施的研究

电除尘器是工业上广泛应用的一类除尘装置,在对电除尘器的工作过程与特点进行分析的基础上,研究了提高电除尘器除尘效率的措施,并对各种改进措施的应用效果进行了讨论.     

气体放电灯的电压电流函数

本文主要研究气体放电灯在音频至射频段的电压电流函数。为此，我们采用新型电子仪器设备，对气体放电灯在该频段的动态特性进行了实验测试得到了一些新的实验结果，此结果说明气体放电灯的电路模型是不能用Ｒ、Ｌ、Ｃ及其组合描述的，它应该属于第四类电路元件－流控忆阻器。     

电动汽车电气驱动系统

针对电动汽车对驱动系统的基本要求，对其驱动电机及电力电子器件特性进行了分析和比较，就电动汽车电气驱动系统中驱动电机的应用、电力电子器件的发展趋势及器件的选用准则提出了一些建议。     

440 t/h循环流化床锅炉性能试验与结果分析

介绍了大连泰山热电厂440 t/h循环流化床锅炉的性能试验方法.性能试验包括热效率测定、空气预热器漏风试验、锅炉主要辅机电功率测定试验等.锅炉性能试验的项目主要有测量仪器的选定、测量方法及结果分析.通过性能试验的结果,总结出锅炉存在的问题,并提出解决方案.     

用于事故处理的电网结构知识通用表示方法

分析了目前使用的电网结构知识表示的缺陷，提出了用于事故处理的电网结构知识的通用表示方法。该方法改变了以母线为核心的知识表示，提出了以电气设备（包括开关、母线、线路、变压器、发电机）为基本对象的表达方式，电气设备之间通过隔离开关相连接。该知识表示方法适用于各类电网，能完全解决以往的知识表示方法存在的问题。     

电子陶瓷薄膜动压悬浮流延的动压场分析

基于硬磁盘存储系统中磁头相对磁盘的动压悬浮理论的电子陶瓷薄膜流延法是陶瓷薄膜流延领域的一种新技术之一.利用该技术可以在不提高流延系统几何运动精度的情况下流延出超精密和超薄的电子陶瓷薄膜.本文基于流体Reynolds方程建立了流延浆料的流体动压方程,用MATLAB计算并获得流延口的压强分布形态,并且总结出浆料的物理特性、流延浆料输入压强、流延口几何参量以及流延速度对流延动压场分布的影响规律.     

40 nm IC静态和动态 ESD测试及失效分析

结合电网内使用电子器件面临的复杂电磁环境,介绍芯片在静态和动态下静电放电(electrostatic discharge,ESD)的防护能力测试,分析了ESD器件充放电模式(CDM)失效的现象和定位方法. 针对40 nm LQFP64封装芯片,详细介绍ESD测试过程和失效判定分析过程,综合运用激光束电阻异常侦测、扫描电子显微镜等手段完成对失效位置的定位和失效点的精确分析. 通过测试结果分析其失效机理,ESD保护电路中的晶体管,在电阻率下降、电流密度增加导致温度升高的正反馈作用下保护电路中的晶体管发生熔断,从而导致ESD保护电路失效.