芯片样品验证平台自适应和同步测试功能的设计与实现

目前,芯片设计公司在对量产级的芯片进行样品验证时,传统的样品验证方法大多是基于芯片自身特点来设计相应的测试设备,然后通过测试夹具对芯片样品逐一测试,不同的芯片会设计不同的测试设备。提出了一种自适应且可同步测试的样品验证平台方案,既可以实现同时测试多颗芯片,也可以对不同接口的芯片进行测试;既可以进行可靠性实验测试,也可以进行其他功能的测试,大大节省了测试设备的维护成本,提高测试效率。     

基于DSP芯片的高速数字电路模块BIT设计

随着雷达数字化和智能化,含有多个DSP芯片的高速数字电路模块得到了越来越广泛的应用;针对基于DSP芯片的高速数字电路模块构成的信号处理系统诊断能力弱的问题,提出了通过优化模块BIT软件设计提高模块故障诊断能力的方法;分析了该类模块的BIT测试需求,着重介绍了模块主要BIT测试项目的测试原理和设计方法;通过模块自检软面板对模块BIT测试方法进行了验证;试验结果表明该方法具有实用性强、成本低等优点。     

载人航天器自动化测试系统设计与应用

针对现有航天器测试不具备流程化、自动化程控的问题,提出了一种载人航天器自动化测试系统。该系统以测试项目模块化思想为依托,提供了测试子项目设计平台,自动生成测试程序、测试细则文档,自动执行测试程序并实现无人值守,在出现异常时根据程序设计自主跳转或等待人工决策,实时记录测试过程信息,测试结束后自动生成测试报表并评估当前测试是否有效通过。对系统方案、接口方式、部署及管理模式进行了分析,通过型号测试进行了试验验证,该系统实现了测试各阶段流程化、自动化程控,提高了测试效率。     

基于SM8260的双CPU协作能力测试平台设计

随着现代超大规模集成电路设计与制造工艺的快速发展，芯片的测试与验证所需的代价也越来越高。本文给出了SM8260芯片协作能力测试平台设计的方案，可基于该测试平台进行相关功能的验证与性能测试。     

嵌入式软件测试工程化研究与实践

随着嵌入式系统在各行各业应用的迅速发展,其核心控制软件也变得日益庞大和复杂,实行有效的嵌入式软件测试显得越来越重要.首先分析了嵌入式软件的特点及嵌入式软件测试的重要性,接着阐述了一种有效的嵌入式软件测试工程化方法,并结合一个实际测试项目验证了该方法的有效性.     

芯片验证分析及测试流程优化技术

分析了不同测试项目对于一款采用0．18μm工艺流片的高性能通用处理器芯片失效的发现能力．以失效分析的数据作为基本数据结构,提出了测试项目有效性和测试项目耗费时间的折中作为启发式信息的优化算法,利用该算法生成的测试流程可以减少失效芯片的测试时间．该算法和动态规划算法相比,计算复杂度从O（dn^2n）降低到O（dn^3）．最后用实验数据证明了该算法的有效性．     

基于Testbench的FPGA实物自动化测试环境设计

针对FPGA软件测试过程中仿真测试和实物测试的不足,提出了一种基于仿真测试用例的实物自动化测试环境,将用于仿真测试的Testbench进行解析处理,形成能够用于FPGA实物测试的传输信号,通过执行器将此信号转换为作用于被测FPGA芯片的实际信号,并采集被测FPGA芯片的响应,实现对FPGA的实物自动化测试。采用实物自动化测试环境验证平台对设计架构进行了验证,取得了良好的效果。     

基于TPS40平台的降压型DC-DC电源设计和测试

在TPS40平台上设计降压式DC-DC直流电源电路,对电路进行了验证测试。设计中电路选用了TPS40021为控制芯片,给出了设计电路原理图,并进行了电路相关数据分析,电源转换效率分析和幅频特性分析。     

面向诊断驱动测试模式的故障字典推理算法研究

诊断驱动测试是一种智能测试模式,可以有效缩短测试时间,提高维护效率。故障字典是一种传统的故障诊断方法,大量地应用于生产生活中。本文根据诊断驱动测试模式的需求,设计了故障字典的新推理算法,并提出了测试项目的优选原则。本文提出的方法已经在自动测试设备的软件平台上得到了实现和验证。     

基于TPS40平台的降压型DC-DC电源设计和测试

本文在TPS40平台上设计降压式DC-DC直流电源电路,对电路进行了验证测试。设计中电路选用了TPS40007为控制芯片,给出了设计电路原理图,并进行了电路相关数据分析,电源转换效率分析和幅频特性分析。     

实例研究-模糊芯片F200的设计、验证和测试

本文介绍模糊推理协处理器VLSI芯片F200的设计,给出了详细的芯片设计流程,并重点讨论了有关芯片的可测试性设计、设计验证和测试等问题。     

用于验证工艺开发包的测试芯片自动生成流程

在工艺开发包的验证过程中,需要手动地在版图编辑器中对参数化单元进行实例化和摆放绕线,由此产生大量测试芯片。为此,提出一种用于验证工艺开发包的测试芯片自动生成流程,采用软件接口产生Skill脚本和工艺开发包交互,以获取工艺开发包的信息、发送命令对工艺开发包进行操作的方法,能自动地对参数化单元予以实例化,自动地摆放绕线,并实现测试芯片版图的布局规划。用该软件接口针对某代工厂的40 nm半导体工艺开发包开发一套测试芯片,产生一条测试芯片的平均时间为5.2 s左右,结果证明该方法是有效的,能缩短工艺开发包的验证时间。     

嵌入式处理器在片调试功能的验证

以龙芯1号处理器为研究对象,探讨了基于JTAG的处理器在片调试功能的验证方法.根据在片调试的结构特征建立了功能覆盖率模型,并以访存模式为基准分步建立虚拟验证原型.整个验证将定向功能测试和指令集随机测试有机地结合起来,迅速定位了设计中多个难以发现的错误.最终验证的功能覆盖率达到100%,FPGA原型经长时间运行无误.     

光电侦察装备维修性验证试验技术研究

为了解决目前光电侦察装备维修性验证试验难以为装备承制方和配属部队提供有用、好用维修性信息的问题,立足光电侦察装备维修性验证试验的基本内涵,提出了光电侦察装备维修性验证试验的关键技术,明确了光电侦察装备维修性试验实施中需要关注的重点问题。为光电侦察装备维修性试验的设计与实施提供理论依据和指导。     

基于典型集成电路的自动测试演示验证研究

当前国产超大规模集成电路测试设备由于技术指标、工作可靠性、制造成本等诸多因素,在国内尚未得到大规模的市场应用;从集成电路的测试需求出发,给出了自研超大规模集成电路测试系统的总体架构组成,重点开展了基于典型集成电路的自动测试演示验证方法研究,并以国产某型超大规模静态存储器芯片作为演示验证的对象,利用自研测试系统完成了基于静态存储器芯片的自动测试演示验证试验;试验结果表明基于典型集成电路的自动测试演示验证方法和过程合理可行,能够为国产新研超大规模集成电路测试系统推广前的自动测试演示验证提供参考,同时可结合不同类型集成电路的测试需求深入应用到各类集成电路的测试过程。     

基于模型和库的处理器伪随机激励生成器设计与实现

面对处理器巨大的验证空间,伪随机激励生成器成为处理器研发中必不可少的工具。处理器设计改变尤其是架构和指令集的变化会导致之前的处理器测试集合部分甚至全部失效,验证维护成本巨大。提出一种层次化的、基于模型和库的处理器伪随机激励生成器实现方法,针对处理器设计的特点,基于指令树建模、多维访存地址建模和处理器专家库建模等关键技术重点解决处理器研发中测试集合如何高效重用的难题。实际应用表明,该方法能够很好地适应处理器设计变化,增强处理器激励生成器的易用性和可重用性,测试集合移植重用率可以达到95%以上,显著缩短处理器更新换代时的验证周期。     

基于无线传输的机轮胎压测试系统的设计

本文首先针对机轮胎压的测试需求进行了分析,然后简要介绍了传统机轮胎压测试技术,同时提出了一种适合的基于无线传输的机轮胎压测试技术,对其中的系统功能设计、胎压采集原理、数据收发无线通信技术、供电设计等关键技术进行了深入的探讨和研究,为机轮胎压的采集和实时监控提供了技术方法和支撑,最后通过实验室对比验证,试验结果满足飞行试验的测试需求,未来可以应用在飞行试验中满足飞机性能试飞和安全监控的需要。     

数据传输通路检查方法及应用

在对大规模集成电路设计的系统级功能验证工作中，数据传输通路的检查是一个非常重要的环节。基于存储映像的方法和端口到端口的方法是两种常用的检查数据传输通路的方法。它们在开发周期选择、代码复杂度、测试覆盖率、可重用性等方面存在的差异，导致各自有不同的应用范围。该文在时比这两种方法的基础上，设计并实现了龙芯2号配套北桥功能验证工作中对于数据传输通路检查的方案。     

测试性试验概念及模型研究

目前在工程实际中，由于缺乏系统完善的测试性试验体系，导致对测试性指标的考核缺乏有效的手段，为了解决这个问题，将测试性验证试验的思想扩展到了全寿命周期，创造性地提出了测试性设计试验、测试性测定试验、测试性验证试验和测试性使用评价四类测试性试验，构成了测试性试验体系的框架；并从测试性试验概念、分类、内容、要素和模型等几个方面阐述了测试性试验的概念及其内涵，为进行测试性试验方面的研究奠定了概念基础。     

飞行器性能样机虚拟试验系统研究与实现

为实现航天飞行器研制中性能样机模型的充分利用,提出了飞行器性能样机虚拟试验系统的总体方案,通过试验基础数据库、试验数据管理、验证辅助工具、虚拟试验应用等子系统划分和工作流程设计,提供对虚拟试验的全流程支持。系统突破了试验数据对象化管理、试验流程建模等关键技术,并基于虚拟试验支撑平台VITA完成了相应系统实现,在多个飞行器研制过程中开展了典型应用。