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本文阐述了基于布尔函数的组合电路测试生成方法,给出了测试生成的基本运算规则及测试生成的算法-任意路径敏化法,该算法适用于布尔函数的任何表示形式,与基于布尔函数的其它算法相比,该算法不用复杂的布尔运算。只须按给出的规则作简单的判断和计算就可以生成给定邦联伯测试码,因而计算工作要小得多,该算法用于大型组合电路的测试生成,可以增加扇出分支处的一敏化条件。减少信号冲突和回溯次数。大大加快了大规模组合电路以及印制电路板的测试生成速度。 相似文献
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本文以门级组合电路为对象,以主路径敏化算法为基础,研究提高测试生成效率的策略,实现结果表明,按本文提出的策略所研制的测试生成系统,不仅效率较好,且得蝗测试集也较小。 相似文献
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本文介绍一个不完全Scan结构MOS电路的测试生成算法DALG—EX18。该算法充分考虑不完全Scan结构的特点,同时也考虑MOS电路中由三态器件引出的一些特性,在传统5值D-算法基础上,引入18值及其计算规则,加入新的处理步骤,并辅以可观值/可控值引导D-驱赶和一致性操作,从而提高故障覆盖率,加快测试生成速度。DALG—EX18算法已用C语言在VAX 11/750机上实现,一些电路的实验结果表明,该算法是有效的。 相似文献
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如何高效地解决数字电路测试生成问题是VLSI领域中的核心。通过对蚁群算法在不同类型的组合优化和搜索问题上的应用研究,基于组合电路测试的路径敏化方法,借助SAT确定性算法工具,提出了一个新的蚁群算法模型来解决组合电路测试生成问题,并通过实验验证其可行性。 相似文献
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一种存储器板的测试生成技术研究与实现 总被引:1,自引:0,他引:1
为了达到较高的故障覆盖率,研究了一种可把存储器板故障定位到器件级的测试生成方法;该方法首先从功能上对电路从控制总线、数据总线、地址总线以及RAM组进行分块,再结合路径敏化法使测试接近实际工作状况激活故障点的方式编写测试激励,最后通过数字仿真软件——LASAR仿真软件生成可加载到众多测试系统上的符合国际标准数字测试交换格式DTIF(IEEE 1445)的标准测试数据;仿真结果表明,该方法操作简单、有效,故障覆盖率达到了90%,是一种很可行的存储器板测试生成方法。 相似文献
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本文提出了一种新的CMOS电路开关级测试生成算法,该算法以Hayes模型为基础,以开关级代数为工具,充分利用CMOS电路自身的特点,生成CMOS电路的完全测试集,这种算法较之于已有的算法简单而有效,检测CMOS电路的常开型故障需一对测试码,本文给出了一种简单的求一对稳健测试码的方法,基于这种算法,我们开发了一个测试自动生成软件。 相似文献
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基于分支限界搜索的自动测试向量生成(ATPG)是数字电路测试中的关键技术,搜索中的回溯次数对ATPG性能造成很大影响.为了减少ATPG回溯次数,提出一种基于K近邻(KNN)的数字电路ATPG方法.将机器学习中的KNN算法引入POEDM测试生成算法, KNN结合电路结构数据和可测试性度量信息来指导PODEM算法中回退路径的选择,替代传统的启发式策略,以尽快地到达有效决策点,减少回溯次数.在ISCAS85,ISCAS89和ITC99基准电路上进行验证,与传统启发式策略以及一种基于人工神经网络(ANN)的回退路径选择策略相比,所提方法在回溯次数、回退次数、运行时间和故障覆盖率指标方面分别实现了最高1 625.0%, 466.0%, 260.0%和2.2%的改进.同时,相比基于ANN的方法, KNN没有显式的训练过程,在搭建模型阶段能够节省一定的显存资源开销,并且可以使用更少的训练集样本得到有效的预测模型. 相似文献
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印制板级边界扫描接口线的测试 总被引:1,自引:0,他引:1
边界扫描设计正逐步成为可测性设计的主流。本文首先简要介绍边界扫描器件的结构,然后详细讨论印制板级边界扫描接口线的故障模型和测试原理,并给出相应的测试电路和测试算法。最后通过一个测试实例说明测试算法的时间特性。 相似文献
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数字电路板故障诊断测试数据自动生成 总被引:4,自引:4,他引:4
针对目前数字电路板故障诊断测试数据生成效率低的难题,文章引入基于国际先进的D前沿敏化和时间帧展开算法的电路板故障诊断测试数据自动生成系统,系统集成图形化电路输入、测试向量与故障字典自动生成、故障模拟和测试数据效能评估等功能,应用该系统可有效避免人工生成电路板测试数据,对提高数字电路板故障诊断效率和精度具有重大的现实意义。 相似文献
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杨名利 《计算机工程与应用》2009,45(30):76-79
定义了(N,M)三态编码电路模型。基于三态数据编码(BCT)算法,讨论了三态编码的硬件设计方法。设计了“除3求余”电路模块,并采用“模块组合”设计方法,实现了任意(N,M)模型的三态编码电路。该方法的主要优点是能够适应定义模型下的不同规模的动态需求。最后,作为示例,给出了(4,2)三态编码模型的硬件结构电路。 相似文献
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随着深亚微米技术,串扰噪声问题越来越严重。利用MAF模型的基本思想,探讨了一种串扰时延最大化算法,并且利用被修改的FAN算法,生成测试矢量。对于一条敏化通路,利用被修改的FAN算法适当地激活相应的攻击线和受害线,使电路在最恶劣情况下引起最大通路时延,从而实现更有效的时延测试。在标准电路ISCAS’85上进行实验验证,结果表明:该算法对于多攻击线的串扰时延故障的测试矢量产生是有效的。 相似文献
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1.引言 为了解决数字电路的测试问题,国内外不少专家学者已经做了大量的研究工作,比如在测试产生方法的研究成果中,有布尔差分法、D算法、PODEM算法、FAN算法、主路径敏化法等。虽然已经取得很大进展,但是大型数字电路测试产生问题的计 相似文献
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具有三态特性的器件十分普遍。对三态器件的三态特性的测试也越来越显得重要但是在通常的测试程序设计中存在着这样一个缺点:常态真值表和三态真值表总是分开设计的,并且常态真值表只用于常态测试,三态真值表只用于三态测试。 相似文献
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基于扇出源单故障传播的开行码临界路径跟踪故障模拟 总被引:1,自引:1,他引:0
本文提出了一种快速的组合电路故障模拟方法-基于扇出源单故障传播的平行码临界路径跟踪法,临界路径跟踪法是一种十分快速的,但近似的组合电路故障模拟方法,将其同平行码故障模拟结合起来,其效率波进一步成倍地提高,为使其成为一个完全的算法,对每个非停止线扇出源故障,我们采用了平行码单故障传播法,同时,为加快其速度,本文提出了若干加速技术,用于故障模拟的各个部分,例如,事件驱动,多级活动事件栈,测试码标记向量 相似文献
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本文针对HS一3282ARIN429数据输入格式的特殊要求,在DIC一8032测试系统上给出了巧妙的解决方法,满足了器件要求。由于该电路可以对数据进行单一并转换和并一串转换,并有多种工作方式,这就要求有大量的测试图形。本文采用的是宏定义法生成输入图形,然后用ROMCOPY程序生成测试矢量的方法,减少了手工填写码点的工作量。HS一3282测试程序经过实际运用证明:测试码点完整、全面,测试方法严谨、可靠。 相似文献
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探讨如何利用针对固定型故障测试产生的比较成熟的算法,结合时滞故障的特点,进行路矩时滞故障的强健测试产生,在十值逻辑完备的基础上,提出最大输入组的概念,减少测试过程中不完善和重复的选择;给出多路回退过程中的目标传播规则,以减少传播过程中的目标个数,加快回退速度;改进了路径敏化方法,强调了对局部结果的保存和利用,减少重复计算,探讨了时滞测试中XOR/NXOR门的直接处理方法,在FAN算法基础上,实现了 相似文献