串扰时延故障的SAT-ATPG算法研究

随着芯片运行速度不断提高,对串扰时延的测试已成为一个迫切需要解决的问题;文中提出一种面向多条攻击线的受害线上最大串扰噪声的测试生成方法;此方法建立了串扰通路时延故障模型、分析了布尔可满足性问题、讨论了七值逻辑,研究了串扰时延故障测试转换为CNF的逻辑表达式,在非鲁棒测试条件下约简CNF范式,并提出了串扰时延故障的SAT-ATPG算法;最后通过实例分析,对本文算法进行验证;结果表明:该算法对串扰时延故障的测试矢量的生成是有效的。     

基于SAT的串扰时延故障测试

随着深亚微米技术的不断发展和芯片运行速率的不断提高,串扰噪声问题越来越严重,对串扰时延测试已成为一个迫切的问题。在组合电路的基础上,将SAT（布尔可满足性）方法引入到串扰引起的时延测试中,通过词法分析和语法分析直接提取Verilog（硬件描述语言）源码的形式模型,组合成CNF（合取范式）形式。并在非鲁棒测试条件下,激活串扰时延故障,约简CNF范式表达式,最终输入SAT求解器得到测试矢量。在标准电路 ISCAS’85上进行实验验证,结果表明：该算法对于串扰时延故障的测试矢量产生是有效的。     

针对串扰引起的时延故障的测试产生

串扰的出现可能会导致电路出现逻辑错误和时延故障．因此，超深亚微米工艺下，在设计验证、测试阶段需要对串扰问题给予认真对待．由于电路中较长的通路具有较短的松弛时间，因此容易因为串扰问题产生时延故障．针对这类故障给出了一个考虑较长通路上串扰现象的时延故障测试产生算法，该算法采用了波形敏化技术．实验结果表明，采用文中的技术可以对一定规模的电路的串扰时延故障进行测试产生．     

面向串扰时延效应的时序分析方法及在集成电路测试中的应用

随着特征尺寸进入纳米尺度,相邻连线之间的电容耦合对电路时序的影响越来越大,并可能使得电路在运行时失效.准确和快速地估计电路中的串扰效应影响,找到电路中潜在的串扰时延故障目标,并针对这些故障进行测试是非常必要的.文中提出了一种基于通路的考虑多串扰引起的时延效应的静态时序分析方法,该方法通过同时考虑临界通路及为其所有相关侵略线传播信号的子通路来分析多串扰耦合效应.该方法引入了新的数据结构"跳变图"来记录所有可能的信号跳变时间,能够精确地找到潜在的串扰噪声源,并在考虑串扰时延的情况下有效找到临界通路及引起其最大串扰减速效应的侵略子通路集.这种方法可以通过控制跳变图中时间槽的大小来平衡计算精度和运行时间.最后,文中介绍了在基于精确源串扰通路时延故障模型的测试技术中,该静态时序分析方法在耦合线对选择和故障敏化中的应用.针对ISCAS89电路的实验结果显示,文中提出的技术能够适应于大电路的串扰效应分析和测试,并且具有可接受的运行时间.     

HT模型矢量生成的硬件电路设计与实现

为提高高速互连电路中串扰的测试速率,减少IC测试人员的分析和研究时间,降低测试成本;在对半跳变(Half transition,HT)模型进行深入研究的基础上,得出HT模型矢量跳变的规律,并依此设计了HT模型矢量生成电路;该设计采用Verilog HDL语言对HT故障模型矢量进行RTL级建模,在Cyclonell器件(EP2C8T144C8)完成了电路实现,并用安捷伦逻辑分析采集实验数据进行实际验证;仿真和验证表明,该设计有效地生成多互连线系统HT模型测试矢量,适用于串扰故障的测试分析和研究.     

针对线间串扰现象的静态定时分析

超深亚微米工艺下，线间串扰是导致电路故障的主要原因之一。尽管可能导致故障的线间串扰的数量巨大，但真正会引起故障的线间串扰却相对较少。因此，如果能在对电路验证或测试前进行静态定时分析，找出那些导致电路故障的线间串扰，则可以有效提高测试生成效率，并降低测试成本。基于此目的，文章在静态定时分析中引入对线间串扰 扰现象的分析，在线时延模型的基础上使用重叠跳变对故障模型，只需要求出与最长通路的重叠跳变对即可。在对ISCAS89基准电路的实验中，各电路需要测试的串扰数平均减少至10％以下。相对于已发表的实验结果，本文的实验结果具有较高的CPU效率。     

考虑时延偏差的数字电路时延测试综述

先进集成电路工艺下,时延测试是数字电路测试的一项重要内容。各种时延偏差来源如小时延缺陷、工艺偏差、 串扰、电源噪声、老化效应等,影响着电路的额定时钟频率,是时延测试中需要考虑的因素。文章在介绍电路时延偏差 问题的各种来源的基础上,给出了针对不同的时延偏差问题所涉及的分析、建模、测试生成与电路设计等关键技术。进 一步介绍了中国科学院计算技术研究所近年来在考虑时延偏差的数字电路时延测试方面所做的研究工作,包括：考虑串 扰/电源噪声的时延测试、基于统计定时分析的测试通路选择、片上时延测量、超速测试、测试优化、在线时序检测等方 面。文章最后对数字电路时延测试技术的发展趋势进行了总结。     

基于片上网络改进HT模型的测试方法及仿真

No C结构规模巨大,内部电路互连非常复杂,No C内部串扰严重影响了片上系统的信号完整性。基于改进HT模型提出一种串扰测试的方法,实验结果表明,在改进的HT模型来中,N根传输线传统串扰测试方法需要测试6N次,而此方法只需要18次,从而有效地减小了开销。基于改进的HT故障种类模型设计了一套基于改进HT模型的测试代码,根据测试代码利用Pspice仿真软件设计了一种测试代码电路,该测试电路是利用16位数据选择器和16进制计数器构成,并对测试电路进行仿真测试,测试结果表明该电路能够满足测试要求并且具有可移植的优点。     

可逆电路的符号综合方法

描述一种基于矩阵模型和符号代数理论的可逆电路的综合方法,其中考虑到面积、时延、串扰等约束.实验结果已清楚地表明了利用这种启发式算法与现有的综合方法相比,在面积上所得结果近似,而总串扰得到了明显的改善.并且其路径时延要减少5%到20%之多.这种综合方法大大的改善了电路的性能,并且对输入输出较多的可逆电路的综合具有潜在的优势.     

基于测量的时延故障诊断

与时延测试相比,时延故障诊断需要更精确的故障模型。该文提出了采用精确测量的时延模型和时延故障模型。在这种模型下,利用电路通路图的原理,得到与被测电路的拓扑结构有关的一个精简测试集。测试集的大小与电路的大小保持线性增长关系;其中的每一个测试对应于一条通路的单跳变敏化向量,将测试集中的单跳变敏化向量送入被测电路,可以用测试仪测量相应通路的延时,得到电路关于此测试集的时延故障症候。该文对时延故障症候提供     

一个有效的通路时滞故障测试生成系统DTPG

本文提出了一种两向量测试模式下的通路时滞故障分类，并在此基础上设计并实现了一个有效的通路时滞故障测试生成系统ＤＰＴＧ，该系统可识别强健可测通路、非强度可测通路和功能可敏化 通路。     

调整门和连线尺寸以减小串扰的拉格朗日松弛法

本文给出了一个布线后减小串扰噪声的算法。该算法通过调整逻辑门和互连线的尺寸有效地减小了串扰噪声，在减小噪声的同时约束电路的最大延时，使得在串扰噪声和时序都满足约束的条件下最小化芯片面积。算法保证了改变逻辑门和线网尺寸不会破坏电路的时序约束。实验结果证明，本算法有效地减小了串扰。此算法不需回到布线阶段来优
优化串扰，减少了设计迭代次数，加快了设计收敛时间。     

Evaluation of Flow-Aware Networking (FAN) architectures under GridFTP traffic

QoS in grid networks is a very important issue. In this paper, we compare two scheduling algorithms of the Flow Aware Networking (FAN) architecture under Grid traffic. The metrics used to compare both serve to allocate the bandwidth. Additionally, we provide the comparison of one of the FAN architectures against DiffServ and under Grid traffic. Metrics studied here are average goodput and average delay. Finally, we provide a survey of the most important IP-based QoS architectures for Grid networks. We assume that Grid traffic is only composed by GridFTP sessions that arrive following a stationary Poisson process. We conclude that FAN based on the Priority Fair Queuing (PFQ) scheduling algorithm gets the better performance and that FAN architectures perform better than Diffserv.     

Design for Testability for Complete Test Coverage

Some design-for-testability techniques, such as level-sensitive scan design, scan path, and scan/set, reduce test pattern generation of sequential circuits to that of combinational circuits by enhancing the controllability and/or observability of all the memory elements. However, even for combinational circuits, 100 percent test coverage of large-scale circuits is generally very difficult to achieve. This article presents DFT methods aimed at achieving total coverage. Two methods are compared: One, based on testability analysis, involves the addition of test points to improve testability before test pattern generation. The other method employs a test pattern generation algorithm (the FAN algorithm). Results show that 100 percent coverage within the allowed limits is difficult with the former approach. The latter, however, enables us to generate a test pattern for any detectable fault within the allowed time limits, and 100 percent test coverage is possible.     

数字电路串扰故障测试的路径敏化方法研究

数字电路集成度的提高特别是近年来系统芯片的出现,信号线之间的间距不断缩小,使得信号线间容易发生串扰.文章首先对串扰故障模型,特别是信号线间容性和感性耦合所产生的串扰及其特征进行了讨论,其次针对数字电路中串扰故障的检测,研究了基于路径敏化的测试矢量生成方法,给出了方法的实现步骤.     

一个实用化的测试产生系统COMPA—ATPG

本文介绍了一个在康发工作站实现的测试产生系统COMPA-ATPGS。该系统以FAN算法为基础,通过对电路结构分析来产生组合电路的测试码,进而帮助设计者产生整个电路的测试码。实验证明,该系统对组合电路的故障覆盖率可达90％以上。