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详细介绍了基于数字图像处理算法的皮肤测试仪的设计过程.该皮肤测试仪以台湾义统公司的ET44M210作为MCU实现对整个系统的控制;以台湾义统公司的ET21X130B模块作为影像传感器,实现肤质图像数据的实时采集;通过PC中数字图像处理算法软件对肤质的重要参数进行分析比对.实践表明,该皮肤测试仪十分适合家庭及爱美人士作为便携式皮肤测试仪使用. 相似文献
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《电子世界》2016,(1)
当今社会,蓄电池有着广泛的应用,虽蓄电池作为能源能起到重要作用。蓄电池的品质作为重要指标,需要有效的对其进行检测,考虑到电池的电导与品质之间较强的相关性,设计了本套基于51单片机的电导测试仪对其品质进行检测。该电导测试仪以交流注入法作为基本测量依据,即对待测蓄电池和参考电阻注入交流信号,然后通过对比两者的压降来求得蓄电池的内阻,进而转化为电导。在硬件上,采用功能齐全、操作简单的AT89C51单片机作为控制和显示单元,以ICL8038构成信号发生电路,经放大后再通过幅度和相位检测电路,最终实现电导的实时测量。通过对比测试,该电导测试仪测量迅速、结果准确且稳定性好,能够满足实际的需要,具有一定的应用价值。 相似文献
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基于AVR单片机的E1接口测试仪的实现 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍了具有Ping功能的基于AVR单片机的E1接口测试仪的实现,目的是为了实现对E1线路的测试,包括对物理层(E1)、链路层(PPP)以及网络层(IP)的测试。首先介绍了E1基础知识,测试仪所采用的DS21554芯片以及PPP协议,测试仪的基本结构和具体工作方式,包括硬件连接图和软件流程图。然后给出了测试仪的测试结果列表。最后简单介绍了测试仪的优点。 相似文献
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首先,分析了烙铁测试仪目前的校准现状;其次,指出依据JJF 1629—2017 《烙铁温度计校准规范》无法满足烙铁测试仪全项目的校准;然后,参考校准电压及电阻的相关规程规范,对烙铁测试仪的漏电电压及接地阻抗校准方法进行研究;最后,以型号为HAKKO FG-101的烙铁测试仪为例,介绍用多功能校准器作为标准器校准烙铁测试仪的漏电电压及接地阻抗的方法。 相似文献
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以"三微"技术为典型特征的存储测试仪出于对功耗、体积及可靠性等的特殊要求普遍通过并口与计算机进行数据交换.如今USB2.0接口己成为计算机的主流外设接口,传统的存储测试仪在接口方面具有一定的局限性.针对这一不足,在不改变存储测试仪结构的前提下采用CY7C68013A开发了USB2.0接口卡,使得存储测试仪可以通过USB接口直接与计算机进行数据交换,极大地提高了数据传输速度.此外,还给出对存储测试仪接口设计的改进措施. 相似文献
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为了提高测量漏电保护器漏电动作特性参数的准确性,减少测量时间,实现漏电保护器的在线和非在线检测,设计了一种手持式漏电保护器测试仪。该测试仪采用ATmega32作为控制与数据处理核心,能自动对漏电保护器特性参数进行测试,既能检测非在线运行的漏电保护器,又能检测在线运行的漏电保护器,为漏电保护器的性能研究、质量检验及漏电保护技术的应用提供了有效手段。 相似文献
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本文提出了使用激光信号模拟器和激光信号测试仪作为试验设备 ,用激光信号测试仪和激光侦察机同时接收激光信号模拟器发射的信号 ,并对接收信号进行比较的试验方法。文中简单介绍了试验设备 ,对数据处理过程进行了详细说明。 相似文献
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《电子技术与软件工程》2017,(17)
许多电能设备对电源的电压电流精度要求很高,因此,高精度的电压电流测试仪是非常重要的。采用嵌入式ARM Cortex-A9处理器、24位模数转换器件LTC2449和高增益放大器AD8221等元器件设计一个电压电流测试仪,能实现对电压电流的高精度测试要求。该测试仪还具有触摸屏人机接口与温度检测等功能。 相似文献
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智能型线缆测试仪基于FPGA技术,采用开尔文测试法进行测量。测试仪使用高精度可调恒流源提供系统测试电流,通过万能转接板,实现了对线缆进行即插即测和自学习智能测试。上位机通过CAN总线与测试仪进行通讯,测试信息在上位机中进行分析计算,并通过友好的人机界面显示测试结果。 相似文献
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介绍了防滑刹车控制盒测试仪的原理,该测试仪采用功能强大的微处理器MSP430F5438,使用内部12位AD采集刹车电流,通过DDS模块产生正弦信号,模拟机轮转速信号。采用OCMJ15X20D触摸屏模块作人机界面。经试用,测试仪测试精度高,使用方便,操作简捷。 相似文献
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根据国家测试标准(GB6570-86)的要求,考虑到视频阻抗(Rv)测试仪所需偏置电流较小和恒流源稳定度较高的特点,选取了LM334集成电路作为恒流源的核心,采用由感容并联谐振回路组成的选频带阻电路,设计出具有操作便捷,性能可靠和制作成本低等显著特点的Rv测试仪,满足了测试精度的要求并获得实际应用. 相似文献
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本设计采用ARM7系列LPC2103作为主控芯片,能够对74系列和CMOS40系列等芯片快速检测,并可以将被检测芯片的信息和检测结果在LCD液晶显示屏幕上显示出来,该测试仪支持存储信息升级以适应新的集成电路检测的要求。 相似文献