环形腔氦氖激光器加速寿命试验分析

为了找到特定条件下使用环形腔氦氖气体激光器寿命估计理论模型与寿命试验方法,文中假设环形腔氦氖激光器的工作寿命分布规律,在大电流应力下满足威布尔分布,选取电流作为加速应力,对环形腔氦氖激光器进行加速寿命试验。通过最小二乘法对试验数据进行处理,试验结果验证了假设的正确性,得出了环形腔氦氖激光器在正常工作电流下的特征寿命,可以通过大电流应力下的特征寿命来计算,有效缩短了试验时间。     

关于系统保证寿命的试验研究

以四组高温电负载恒定应力对半导体收音机机芯作加速寿命试验。对寿命数据分别作图估计和最好线性不变估计。在每母加速应力下，样本寿命分布均为双参数指数分布，均匀在保证寿命。平均寿命的加速规律符合Ａｒｒｈｅｎｉｕｓ方程。保证寿命与加速应力之间存在负指数关系。推算样本在正常应力下的保证寿命为５４８１小时。     

步降加速寿命试验优化设计Monte-Carlo仿真

针对加速寿命试验存在试验时间长、费用高、效率低的问题,提出了一种基于Monte-Carlo仿真的步降加速寿命试验优化设计方法。采用Monte-Carlo对步降加速寿命试验进行仿真模拟,以正常使用应力下的p阶分位寿命渐近方差估计和各应力水平下的特征寿命之和最小为目标,以各试验应力水平及对应应力下的试验截尾数作为设计变量,采用MLE理论进行统计分析,建立了基于仿真的步降加速寿命试验优化设计模型。最后通过实例分析,表明该方法具有可行性、有效性,为电子装备寿命预测的加速试验方案优化设计提供技术支撑。     

步降加速寿命试验优化设计Monte-Carlo仿真

针对加速寿命试验存在试验时间长、费用高、效率低的问题,提出了一种基于Monte-Carlo仿真的步降加速寿命试验优化设计方法.采用Monte-Carlo对步降加速寿命试验进行仿真模拟,以正常使用应力下的p阶分位寿命渐近方差估计和各应力水平下的特征寿命之和最小为目标,以各试验应力水平及对应应力下的试验截尾数作为设计变量,采用MLE理论进行统计分析,建立了基于仿真的步降加速寿命试验优化设计模型.最后通过实例分析,表明该方法具有可行性、有效性,为电子装备寿命预测的加速试验方案优化设计提供技术支撑.     

第四章 恒定应力加速寿命试验及数据处理

对于长寿命高可靠器件体寿命特性的评估,用常规的长期寿命试验是非常困难的,这要耗费大量试验样管,很长的时间,有的甚至来不及做完试验,这种器件就被淘汰了,即使采用截尾试验,要达到一定失效数,也需很长时间。解决这个矛盾的办法是采用加速寿命试验。所谓加速寿命试验就是将待试样管置于高于正常工作的应力水平下进行试验,加快样管的失效过程,缩短试验周期,以便在较短的时间内预测正常应力条件下的寿命特征。加速寿命试验的理论基础实质上是反应率动力学。     

基于BP神经网络的电子元器件寿命预测

电子元器件的寿命预测对于制订寿命试验的规划,确定所需的试验时间及试验经费,都有十分重要的指导作用.基于BP神经网络提出了一种电子元器件寿命预测的方法,该方法可对当前样本的未来观测值或未来样本的观测值进行预测.对MOS电容的加速寿命试验数据进行了仿真试验,结果表明该方法可较好地预测MOS电容在相应的应力条件下的失效时间,且精度较高.     

环保电子节能灯加速寿命试验数据的统计分析

提出一种利用加速寿命试验对环保型电子节能灯进行寿命检测的新方法.该方法采用威布尔分布函数描述其寿命分布,利用最小二乘法结合阿伦尼斯加速模型完成了对试验数据的统计和分析.试验和分析结果表明,该方法能极大缩短寿命检测时间,实现了在短时间内对正常应力下环保型电子节能灯寿命的科学估计.     

大电流应力下环形腔气体激光器的寿命特性

为了获得环形腔气体He-Ne激光器寿命分布规律及试验方法,文中在已有试验的基础上,假设环形激光器的工作寿命分布规律,在大电流应力下仍符合威布尔分布。采用恒定应力加速寿命试验方法,在最短的试验时间得到一批寿命试验数据,并利用拟最优线性无偏估计方法对数据进行处理,得到环形激光器的寿命参数。运用此方法可以快速、准确地估计出环形激光器的寿命。     

双应力交叉步降加速寿命试验优化设计Monte-Carlo仿真

为进一步缩短试验时间,实现产品可靠性的快速评定,在综合应力加速寿命试验优化方案设计的基础上,提出了一种基于Monte-Carlo仿真的双应力交叉步降加速寿命试验优化设计方法。采用Monte-Carlo对步降加速寿命试验进行仿真模拟,以正常使用应力下的p阶分位寿命渐近方差估计为目标函数,以各试验应力水平及对应应力下的试验截尾数作为设计变量,采用MLE理论进行统计分析,建立了基于仿真的双应力交叉步降加速寿命试验优化设计模型。最后通过三次样条插值拟合理论对目标函数进行拟合,降低了仿真规模,提高了试验效率,为电子装备寿命预测的加速试验方案优化设计提供技术支撑。     

基于可能性理论的随机应力加速寿命试验分析方法

在加速寿命试验中,随机应力的影响是普遍存在的,但目前对随机应力条件下的加速寿命试验分析缺乏有效的方法.以可能性理论为基础,将随机应力转化为一个模糊应力,通过确定该模糊应力的可能性分布函数.建立随机应力条件下的寿命分布模型.提出一种通过求取模糊数的上、下可能性均值来减小模型误差的方法,并以阿伦尼斯模型为例,分析了温度随机应力条件下的寿命分布模型,结果证明该方法是有效的.     

竞争失效产品加速寿命试验优化设计Monte-Carlo仿真

针对竞争失效产品加速寿命试验存在试验时间长、费用高、效率低的问题,提出了一种基于Monte-Carlo仿真的竞争失效产品加速寿命试验优化设计方法。采用Monte-Carlo对竞争失效产品的加速寿命试验进行仿真模拟,以正常使用应力下的p阶分位寿命渐近方差估计最小为目标,以各试验应力水平及对应应力下的试验截尾数作为设计变量,采用MLE理论进行统计分析,建立了基于仿真的竞争失效产品加速寿命试验优化设计模型。最后通过GA-BP神经网络对目标函数进行拟合,降低了仿真规模,提高了试验效率,为电子装备寿命预测的加速试验方案优化设计提供技术支撑。     

基于蚁群神经网络的LED灯管寿命预测

针对高可靠性、长寿命复杂产品的可靠性评估过程,在加速寿命退化试验数据的基础上,提出了一种基于试验数据驱动的自适应智能方法,并对某型LED灯管的寿命与可靠性进行预测分析.首先,通过指数模型拟合性能退化曲线,推算出各组应力条件下的伪失效寿命值;再将蚁群算法结合BP神经网络等智能算法应用于寿命预测模型的建立,根据试验证明寿命服从对数正态分布,且检验寿命必须满足置信度区间范围内;最后,预测出正常应力条件下LED灯管的工作寿命.结果表明,基于蚁群神经网络预测LED灯管寿命的方法,预测误差较小,收敛速度快,能够满足工程要求.     

融合非线性加速退化模型与失效率模型的产品寿命预测方法

针对高可靠性产品寿命数据少、获取成本高的问题,基于充分利用产品在研制、加速试验等不同环境下的退化数据、失效数据等可靠性数据的思想,提出了一种融合非线性加速退化模型和失效率模型的产品寿命预测方法.首先,根据退化数据对非线性退化过程进行分析,估计退化过程的参数;然后,根据加速退化数据及相应的加速退化模型估计加速退化模型的参数,从而得到退化参数与应力之间的关系.进一步,利用比例风险模型融合产品的寿命数据和未失效截尾数据,并基于此计算产品的可靠度函数、预测产品的寿命.实例应用验证了所提方法的有效性,同时说明了所提方法的应用价值.     

基于粒子群算法的步降加速退化试验优化设计

针对解析方法难以得到或者不能得到步降加速退化试验最优方案的难题,提出一种基于粒子群算法的Monte-Carlo仿真步降应力加速退化试验优化算法。该算法通过大量的重复模拟试验生成试验退化数据,寻找最佳监测频率、检测次数和样本量,以正常使用应力下的对数p阶分位寿命渐近方差估计最小为目标,采用粒子群算法对退化试验数据采用极大似然估计进行统计分析,建立了基于仿真的步降应力加速退化试验优化设计模型。基于算例,给出了不同约束条件下的优化设计方案,得到了该方法也满足小子样产品步降加速退化试验优化设计的结论,并最终得到其最优试验方案。     

双应力步降加速退化试验优化设计Monte-Carlo仿真

针对高可靠长寿命产品在双应力退化试验中存在的时间长、费用高、效率低的问题,提出了一种基于Monte-Carlo仿真的双应力步降加速退化试验优化设计方法。采用Monte-Carlo对加速试验进行仿真模拟,以监测频率、样本量大小、监测次数作为设计变量,以总的试验费用作为约束条件,以正常使用应力下的p阶分位寿命渐近方差估计作为目标函数,建立了基于Monte-Carlo仿真的双应力步降加速退化试验优化设计模型。通过仿真实例验证了该方法的有效性、可行性,为电子装备寿命预测的加速试验方案优化设计提供了理论支撑。     

温度应力下基于步进加速退化试验的电子器件寿命预测

为实现高可靠性长寿命电子器件的寿命预测,根据Arrhenius模型,结合产品的线性退化轨迹模型,对于温度应力下性能退化性步进加速寿命试验,提出一种不同温度应力下时间折算方法,并且推导了它们之间的变化计算公式。在四种不同的温度下,对某型号集成运放进行步进加速试验,并利用此方法处理数据。结果表明,样品的伪寿命符合对数正态分布,其加速模型符合Arrhenius加速方程,据此可以求出样品中位寿命,实现寿命预测。     

集成电路互连线电迁移测试方法与评价

介绍了研究集成电路互连线电迁移的两种方法：加速寿命试验和移动速度试验。对加速寿命试验进行了分析和评价。分析表明,加速寿命试验方法存在高应力条件与正常工作条件下互连线电迁移中金属离子扩散机制不同、BLACK方程的使用范围有限、受试件特殊结构影响和电阻温度系数TCR随温度变化等问题。介绍了一种改进方法。详细介绍了移动速度试验,指出了其在互连线电迁移研究中的应用。     

Weibull分布下基于MAM的白光OLED寿命预测

为了得到白光有机发光二极管(OLED)寿命信息,降低试验成本,开展了三组恒定电流应力加速寿命试验。采用Weibull函数描述其寿命分布,基于图分析法(MAM)和MATLAB绘制的Weibull概率双坐标纸,描点作图并估计形状参数和尺度参数,实现了白光OLED的寿命预测。数值结果表明,白光OLED样品在各加速应力下失效机理保持不变,加速模型满足逆幂定律,精确计算的加速参数使得OLED寿命快速估算成为可能。     

步进应力加速寿命试验的分析

本文以“产品的残余寿命仅依赖于当时已累积失效的部分和当时的应力条件,而不考虑如何去累积这部分”的假设为基础,采用时间折合的方法分析了Arrhenius模型的步进应力加速试验结果。这种分析方法把步进应力试验中得到的累积失效分布看成是由恒定应力条件下累积失效分布的各段组成。利用CG35晶体管在150℃、175℃、185℃、200℃、210℃条件下的步进温度贮存加速试验结果的简易分析为例做了说明。并用150℃、175℃、210℃,恒定温度贮存加速试验结果做了验证。步进应力试验结果与恒定应力试验结果二者有好的一致。     

基于MAM的真空荧光显示器寿命预测

为了在短时间内得到真空荧光显示器(VFD)的寿命信息,降低寿命预测成本,通过加大阴极温度开展了恒定和步进应力加速寿命试验,建立了加速寿命试验模型,采用威布尔函数描述VFD的寿命分布,在图分析法(MAM)的基础上,基于MATLAB软件强大的计算和可视化绘图功能,绘制了威布尔概率双坐标纸,估计了加速参数,完成了VFD寿命的预测.试验数据的统计和分析结果表明,VFD在各加速应力水平下的失效机理不变,加速模型符合线性的阿伦尼斯方程,基于MATLAB的图分析法使得短时间内精确预测VFD的寿命成为可能.