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相似文献
 共查询到14条相似文献,搜索用时 156 毫秒
1.
程龙  冯静  孙权  周经伦  蔡永超 《电子学报》2012,40(12):2549-2552
 对某些非连续运行的设备,贮存状态和工作状态会交替出现,工程上可通过观测其关键性能参数变化监控设备健康状态,并以此为依据对其寿命和可靠性进行预测分析.针对该类设备,本文综合分析其贮存和工作条件下性能退化规律,建立设备贮存-工作联合退化模型,利用性能退化数据的拐点特性对该联合退化模型的参数进行估计,在此基础上,实现设备的可靠性分析和寿命预测.最后以金属化膜电容器为例建立了联合退化模型,分析该电容器的可靠性并预测寿命.  相似文献   

2.
电子产品退化失效的BS模型   总被引:5,自引:2,他引:3  
退化失颜色的电子产品的寿命试验通常只能得到性能退化的数据,使用传统的方法很难对其可靠性进行评估。考虑到电子产品的退化类似于材料的疲劳,以金属化膜电容器为例,研究了BS模型在电子产品可靠性中的应用。从金属化膜电容器的失效过程推导出了该类型电容器的BS模型,经过计算比较,BS模型对脉冲电容器可靠性的评估要优于Weibull等其它模型。该实例证明BS模型能应用于电子产品的退化失效。  相似文献   

3.
金属化膜脉冲电容器可靠性研究   总被引:2,自引:1,他引:1       下载免费PDF全文
赵建印  彭宝华  孙权  周经伦   《电子器件》2005,28(4):703-705,709
高储能密度金属化膜脉冲电容器是一种高可靠性、长寿命的器件,在短时间内很难得到它的失效数据,因此无法采用基于失效数据分析的传统可靠性分析方法来研究其可靠性。金属化膜脉冲电容器的失效是退化型失效,根据其失效机理,给出了电容器容值退化失效模型,依据该模型和电容器的容值退化数据,对该型电容器进行了可靠性研究,该型电容器的平均寿命为21165次充放电,其第10000次充放电时的可靠度为0.9454。在工程实践中使用该模型对该型电容器进行可靠性分析可以节约大量的试验成本。  相似文献   

4.
在高可靠性、长寿命产品的可靠性分析中,当产品的失效为退化型失效时,利用产品的性能退化数据进行可靠性分析是一种更合理的方法。在考虑产品既存在平稳退化,又存在随机退化时,研究了产品退化失效的一般模型并给出了模型参数的估计方法。最后,利用所给的模型对强激光装置所用的某型金属化膜脉冲电容器进行了可靠性分析,并验证了该方法的可行性。  相似文献   

5.
刘芳  赵建印  彭绍雄 《电子器件》2011,34(2):137-140
金属化膜脉冲电容器既有突发型失效又有退化型失效.通过分析金属化膜脉冲电容器的退化失效机理,在假设突发失效与退化失效相关的条件下,给出了基于参数回归分析的电容器竞争失效的一般模型,最后利用该模型对某金属化膜脉冲电容器的试验数据进行可靠性分析.根据评估结论,该电容器打靶10 000发的可靠度为0.798 6.该模型为竞争失...  相似文献   

6.
王小林  郭波  程志君 《电子学报》2012,40(5):977-982
 针对维纳过程性能退化产品,提出了一种有效融合先验退化信息、寿命数据以及现场退化数据的可靠性评估方法.首先利用Expectation-Maximization(EM)算法基于先验退化信息和寿命数据信息确定参数的先验分布;其次利用贝叶斯方法对参数进行更新,并在此基础上进行可靠性评估.该方法能根据现场退化数据不断地对可靠性进行更新,实现对产品可靠性的实时评估.最后通过金属化膜电容器可靠性评估实例验证了该方法的适用性和有效性.  相似文献   

7.
金属化膜脉冲电容器剩余寿命预测方法研究   总被引:2,自引:0,他引:2       下载免费PDF全文
彭宝华  周经伦  冯静  刘学敏 《电子学报》2011,39(11):2674-2679
 金属化膜脉冲电容器是惯性约束聚变激光装置的重要元器件之一,其寿命预测是激光装置维护和备件决策制定的依据.在分析金属化膜脉冲电容器退化失效机理的基础上,采用Wiener过程描述其性能退化过程.进一步考虑到各电容器之间的差异,将Wiener过程的漂移参数和扩散参数看成随机变量,提出了随机效果Wiener过程模型,由同一批电容器的历史性能退化数据拟合其分布.在对单个电容器进行寿命预测时,采用Bayes方法融合电容器总体信息与该电容器自身的性能退化信息,得到其剩余寿命参数的验后估计,因而在电容器性能退化数据较少时采用该方法能提高剩余寿命预测精度.  相似文献   

8.
为了在短时间内准确获得LED照明灯的寿命信息,以3组恒定加速应力的试验数据为基础,采用三参数Weibull函数描述其寿命分布,基于双线性回归法(BRM)对试验数据进行处理分析,并利用自行开发的寿命预测软件较为精确地得出LED照明灯在正常工作应力下的寿命。数值结果表明,LED照明灯的寿命服从三参数Weibull分布,其加速模型符合Arrhenius方程,精确预测的LED照明灯寿命为工程技术人员关于产品的可靠性设计提供技术参考。  相似文献   

9.
为探求快速评价国产晶体管长期贮存寿命的方法,对国产3DK105B型晶体管开展了加速退化试验的分析和研究。通过三组不同温、湿度恒定应力的加速退化试验,确定了晶体管的失效敏感参数,利用其性能退化数据外推出样品的寿命;给出了常见的三种分布下的平均寿命,并结合Peck温湿度模型外推出自然贮存条件下本批晶体管的贮存寿命。最后分析了试验样品性能参数退化的原因。试验结果可以为评估国产晶体管的贮存可靠性水平提供一定的参考。  相似文献   

10.
贾占强  蔡金燕  梁玉英  李刚 《电子学报》2009,37(6):1277-1282
 对某型雷达天控系统的20kHz信号板进行均匀正交试验,利用试验数据对试验结果进行了深层次的分析,总结出温湿度条件下电子装备性能衰退的一般规律;针对在故障预测中占有重要地位的电子装备可靠性预测问题,提出了一种基于综合环境加速寿命试验的电子装备可靠性预测新方法,该方法将性能退化理论拓展为加速性能退化理论,将该理论与传统可靠性预测方法相结合,有效地解决了加速寿命试验中无失效数据的处理问题,最后通过具体的算例验证了该方法的有效性.  相似文献   

11.
Metallized film pulse capacitors are the key component of an inertial confinement fusion (ICF) facility. The reliability of the capacitors has a significant impact on the operational reliability and maintenance expenses of the entire system. For high-reliability capacitors that do not normally fail in a reasonable length of time, it is difficult to assess reliability by using the traditional time-to-failure analysis method. Analyzing the degradation mechanisms of the metallized film capacitors, this paper presents a life distribution model whose parameters can be estimated from the degradation measures of the capacitors, and which has proven to be very accurate and economical in test costs.  相似文献   

12.
金属化薄膜电容器自愈性分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
使用金属化薄膜通过卷绕、热压、喷金、真空浸漆、分选等工序生产的电容器就是金属化薄膜电容器。根据其生产材料不同又分为金属化聚酯薄膜电容器和金属化聚丙烯薄膜电容器。该文介绍了金属化薄膜电容器的结构、生产流程、性能指标,并对金属化薄膜电容器的自愈性进行了分析,论述了影响金属化薄膜电容器自愈性的内部因素和外部因素,根据生产现状提出了工艺改进措施。  相似文献   

13.
《Microelectronics Reliability》2014,54(9-10):1823-1827
Passive components, particularly capacitors, are very used devices in power electronics applications providing key function on board. Nevertheless, capacitors breakdowns can have catastrophic consequences on the financial and human scale; a good acquaintance of their deterioration over time would contribute in the improvement of the availability of the whole system by performing a predictive maintenance on the component. This operation requires the knowledge of the capacitor ageing law and their failure mechanisms associated to the application. Capacitance loss can be mainly attributed to the self-healing process occurring in metallized film capacitors when used under high steady electrical and thermal stresses. In this paper, a capacitance ageing law is proposed based on the identification of voltage and temperature degradation kinetics from three experimental floating ageing tests performed at different voltage and temperature constraints. A total of 34 capacitors provided from different manufacturers using polyester film as dielectric have been studied and compared to validate the proposed law.  相似文献   

14.
The breakdown happens in metallized polypropylene film (MPPF) capacitor can be classified into two cases: the first one is self-healing, which means that the insulation will recover after the breakdown; the other one is self-healing failure, which means that the capacitor will fail because of short-circuit fault. In this paper, the MPPF capacitor applied in DC filtering which adopt the T pattern segment film technology is investigated. To simulate the two cases mentioned above, a model based on self-healing experiment data is built by Power Systems Computer Aided Design (PSCAD). The current density flowing through the fuse and fuse energy is calculated and analyzed. Meanwhile, the fuse burn-out criteria are investigated according to electrical explosion theory and phase transition energy of segment metallized film fuse. The fuse design methodology of T pattern segment film is presented and a design case is provided.  相似文献   

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