共查询到17条相似文献,搜索用时 93 毫秒
1.
2.
3.
4.
针对目前弹药测试保障系统测试资源利用率低,测试保障效率无法满足现代化战争需求的的问题,提出一种基于LXI总线的弹药并行测试系统设计思路;该系统应用LXI总线测试系统的分布式测试,集中调度管理的特点;将测试任务分散化,测试能力本地化处理实现了弹药并行测试,有效解决了测试资源闲置以及测试系统保障效率低下的问题;通过并行测试系统设计思路、方案以及关键技术分析为弹药并行测试系统设计提供一种参考思路。 相似文献
5.
6.
一种层次的、混合并行离散事件仿真算法 总被引:5,自引:0,他引:5
并行仿真算法是并行离散事件仿真中心的核心问题,对于具体的应用系统,采用不同的并行仿真算法将导致其仿真性能大的差异,提出了一种针对于分布环境中特定应用系统仿真的层次的,混合并行离散事件仿真算法,测试和应用表明,和通常的保守机制或者乐观机制相比,能够较大地提高仿真效率,并且具有良好的可扩展性,首先给出了在通信开销不可忽略的环境下,保守机制和乐观机制的性能测试结果和两者适用情况的分析,然后根据测试结果和具体应用系统的特点,提出了层次的,混合并行离散事件仿真算法,给出了LP级和组级算法算,最后对算法进行了测试和性能分析。 相似文献
7.
为了解决机器学习的低效问题,将并行技术中引入概念学习。在深入探讨概念学习本质的基础上,分析了并行概念学习的可能性及其前景;研究了建立一个并行概念学习系统所需考虑的几个问题;探索性地给出了一种特殊的实例——概念描述语言;在此语言基础上提出了一种并行概念学习系统的实现方案,并详细讨论了系统的体系结构和学习算法。 相似文献
8.
针对并行测试系统中不同UUT测试任务组的并行测试效率提高存在差异的现象,提出了测试任务的可并行性概念,以描述测试任务在并行测试过程中的固有属性;首先根据测试任务组的并行测试效率不同的现象,提出了测试任务可并行性的概念;然后给出了衡量可并行性的可并行度指标,用以定量地指导并行测试系统开发过程中仪器资源的配置;最后通过应用实例验证了可并行性概念的合理性、可并行度指标的实用性;建立的可并行性概念不仅丰富了测试领域的理论基础,对并行测试系统的仪器资源的配置也具有指导价值。 相似文献
9.
为了实现自动测试系统的并行测试,对测试系统中测试资源的硬件连接和软件控制方法进行了研究;提出了采用资源管理内核程序集中控制测试资源的方法,解决了不同测试程序间测试资源的共享问题;对本身不支持并行测试的测试资源,硬件上采用并联连接方式,或在软件上对其控制方式与驱动程序进行修改,使其支持并行测试,从而实现整个测试系统的并行测试;文中提出的方法已成功应用于工程实践中,可实现任意三种不同型号的电路板的并行测试,节约了测试时间,提高了测试效率. 相似文献
10.
为了提高并行自动测试系统的测试效率,改善系统总体性能,运用基于广义随机Petri网的系统性能分析方法,对并行测试任务过程建立广义随机Petri网模型,将并行测试过程同构于马尔科夫过程,并对该过程进行性能分析,进而得到并行测试系统中各种测试资源的利用率以及任务过程的平均延时数据;根据模型计算所得到的测试资源利用率,确定影响并行测试系统性能的瓶颈所在;通过分析并行测试系统中测试资源调用的分布情况,调整测试资源同测试任务的匹配关系,以达到进一步提高测试系统测试效率的目的。 相似文献
11.
并行测试系统中的测试任务的执行时间是不确定的,测试任务过程具有随机性。为实现测试任务优化执行的目的,建立了并行自动测试系统的动态任务调动模型,并提出了基于测试任务剩余工作量和测试资源剩余负载的启发式调度规则,并在测试任务过程Petri网模型的运行演化算法中采用该规则,实现并行测试任务的动态调度。最后通过实例仿真,验证了该策略的可行性和优越性。 相似文献
12.
并行自动测试系统硬件结构研究 总被引:7,自引:3,他引:4
为实现自动测试系统高效率和低成本,对并行自动测试系统的硬件结构进行了研究,提出了单处理器架构方式下的并行自动测试系统硬件结构;并具体对测试控制器、接口总线、仪器资源以及开关系统等各硬件模块的特点进行了研究,通过分析它们对并行测试的支持,明确了并行自动测试系统设计中的关键技术,可指导系统的实际开发。 相似文献
13.
14.
15.
16.
下一代自动测试系统体系结构与关键技术 总被引:38,自引:16,他引:22
在总结自动测试系统发展现状的基础上,以目前国际上正在开展的下一代自动测试系统的研究为背景,分析了下一代自动测试系统的体系结构与标准,重点讨论了下一代自动测试系统开发所涉及的并行测试技术、合成仪器技术、仪器可互换技术、TPS可移植与互操作技术、智能测试诊断技术及测试诊断信息的表达等关键技术。希望以此能促进我国下一代通用自动测试系统的研制与开发。 相似文献
17.
文章通过定量分析指出,并行测试不仅降低了ATE系统的设备投资,而且能够消减测试环节中各项成本因素,因而比之低成本ATE,是更为显著、有效的测试成本消减方法。文章还指出,并行测试最佳站点数相对独立于ATE设备成本、运行成本、产品的合格率以及其它多种限制因素,若设备中可用的独立资源有限,就会降低测试的并行度,从而导致部分测试顺序执行,并行测试的成本优势将迅速消失。 相似文献