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混合技术电路板簇测试的多边界扫描链优化配置 总被引:1,自引:0,他引:1
由边界扫描器件和非边界扫描器件组装的混合技术电路板将在今后相当长时间内广泛存在,析台由非边界扫描器件组成的簇的测试是边界扫描测试领域重要而富有实际价值的问题。为减少其测试时间,基于贪婪策略和单扫描链最优排序技术,提出了一种多边界扫描链优化配置技术,经实例验证表明,该技术可以有效地减少混合技术电路板族测试时间,提高测试效率。 相似文献
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边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法,它提供了对电路板上器件的功能、互连等进行测试的新途径.本设计实现了一种能够自动生成SVF测试图形的边界扫描测试系统,然后利用该系统进行了PCB板级的扫描链完整性测试和芯片互连测试,测试结果分析表明系统可以检测出被测对象的故障类型. 相似文献
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针对芯片生产过程中可能引入短路和断路等制造缺陷的问题,实现了基于扫描链测试的双核SoC芯片可测性设计电路。根据双核SoC中DSP硬核、CPU软核特点采用不同的扫描链设计方案:利用DSP硬核中已有扫描链结构,将DSP测试端口复用到芯片顶层端口,在CPU软核和其它硬件逻辑中插入新的扫描链电路。扫描链测试支持固定型故障测试和时延相关故障测试。针对时延故障测试,设计了片上时钟控制电路,利用PLL输出高速时钟脉冲进行实速测试。采用自动测试向量生成工具产生测试向量,结果表明,芯片固定型故障的测试覆盖率可以达到97.6%,时延故障测试覆盖率可以达到84.9%,满足芯片测试覆盖率要求。 相似文献
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为提高边界扫描测试效率,提出一种多链边界扫描测试的优化配置方法,其主要思想是按照边界扫描器件内部边界扫描单元数目的多少将芯片分别配置到多条扫描链中以使扫描链的长度尽量相等,从而减少扫描周期;测试过程可分成多个阶段,每个阶段至少有一个芯片完成测试,完成测试的芯片置于旁路以缩短扫描链的长度;通过计算验证该方法能够缩短电路板的测试时间,提高了测试效率。 相似文献
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伴随着电子技术和边界扫描测试技术的飞速发展,新的边界扫描测试算法也在不断涌现;而边界扫描测试的算法,一般都是指在互联模型的基础上,边界扫描测试向量的生成算法;生成合理的测试向量集可以以最短的测试时间来覆盖尽可能多的故障;从对一些常用的边界扫描测试算法进行了粗略的分析,到后来对等权值算法和二进制计数算法进行了详细的分析,通过引入和分析边界扫描测试算法的定理、公式以及推论等,分别提出了等权值优化算法和权值递加算法;与优化前的算法作为比较,等权值优化算法降低了征兆混淆出现的概率,而权值递加算法同时降低了征兆误判率和征兆混淆率;综合分析,新的算法更好的权衡了测试向量集的完备性指标和紧凑型指标。 相似文献
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现在的表面安装电路板对于测试工程人员来说是一个挑战,细间距限制了测试的整个发展过程,细间距多引脚的ASIC,缺少电路内测试模式以及从开发到进入市场时间短正成为妨碍测试工程人员实现高缺陷覆盖率的一些问题,本文介绍当前电路板测试使用的测试技术,包括数字模式库,算法模式生成、非向量测试和边界扫描,以及如何综合使用这些技术,来优化缺陷覆盖率。 相似文献
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边界扫描技术是一种完整的、标准化的可测性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连等进行测试的一种统一方案,极大地提高了系统测试的效率。本文详细介绍了边界扫描测试的原理、结构,讨论了边界扫描测试技术的应用。 相似文献
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互连测试是边界扫描技术的主要内容之一,在分析IEEE1149.1的基础上,给出一种基于嵌入式开源数据库SQLite的边界扫描测试系统中互连测试矢量生成的设计;利用SQLite数据库中存储的被测电路的扫描链路信息和器件等信息,得到扫描粗链并进一步形成扫描细链;利用可测网络信息结合测试算法产生测试矢量;最终将测试矢量在扫描细链上对扫描单元赋值即得到扫描链的互连测试矢量集;测试结果表明,该设计可快速生成测试矢量而缩短测试时间,具有较好的应用前景. 相似文献
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罗秋明 《计算机应用与软件》2008,25(1):66-69
分析电路的Protel设计文档中网表文件描述的器件电气连接信息和所采用器件的BSDL文件所描述的边界扫描特性,然后生成逻辑测试向量,再进一步根据网络中驱动与响应点来影射到扫描过程中的测试数据,实现电路中stack-at-1、stack-at-1、短路和开路等故障. 相似文献
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带有非边界扫描器件的混装电路的扫描链优化配置 总被引:1,自引:0,他引:1
在混装电路中,由不同的非边界扫描器件所组成的簇所需要的测试向量的数目可能是不同的,根据不同的簇所需要的测试向量的不同,可以将整个测试过程分为不同的测试阶段,每个测试阶段过后都会有一个或者多个扫描芯片处于bypass状态,而此时其长度只有1,也就是说每一个扫描链的长度是随着测试矢量的移出而变化的,整个扫描链的配置过程中,需要考虑这样两个问题:如何将扫描芯片分配给各条扫描链以及如何排列各条扫描链中扫描芯片的顺序,提出了一种如何配置单链的方法,即优化配置扫描芯片在扫描链中的顺序,这种方法同样可以被应用到多链. 相似文献
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基于多扫描链的内建自测试技术中的测试向量生成 总被引:1,自引:0,他引:1
针对基于多扫描链的内建自测试技术,提出了一种测试向量生存方法。该方法用一个线性反馈移位寄存器(LFSR)作为伪随机测试向量生成器,同时给所有扫描链输入测试向量,并通过构造具有最小相关度的多扫描链克服扫描链间的相关性对故障覆盖率的影响。此外该方法经过模拟确定难测故障集,并针对这外难测故障集利用ATPG生成最小确定性测试向量集。最后丙依据得到的最小测试向量集来设计位改变逻辑电路,利用们改变逻辑电路控制改变扫描链上特定的值来实现对难测故障的检测,从而实现被测电路和故障完全检测。 相似文献
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边界扫描技术及其在PCB可测性设计中的应用 总被引:1,自引:0,他引:1
阐述了边界扫描技术的基本原理,从设计方法、优化策略及实现技术等方面,对基于边界扫描技术的PCB可测性设计进行了研究,并给出了具体的实现方法;以对某海军导弹通用测试系统中的数据采集电路板进行改进为例,实现了该电路板的可测性设计;经验证,该方法有效地缩短了数据采集电路板的开发周期,降低了其维修测试费用,因而将具有更为广泛的应用前景. 相似文献
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基于测试向量压缩的多核并行测试 总被引:1,自引:0,他引:1
首先整合多个被测芯核的测试集,合并重叠的测试向量以减少测试向量个数,从而缩短了测试应用时间,测试应用时采用总线广播的形式实现并行测试;然后应用多扫描链相容压缩和距离标记方法压缩测试数据,多扫描链相容压缩后,测试向量宽度规则减小,且距离标记法可进一步有效地压缩测试数据量.该方法数据压缩效率高,测试应用时间短,与其他并行测试方法相比具有测试控制过程简单和硬件开销小的突出优点. 相似文献
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针对相容压缩方法对确定位分布不平衡的测试数据集的压缩效果不佳的问题,将测试集按多扫描链结构排列后,根据向量之间相同相容关系的数目将测试集划分为若干组,分别对各组实行相容压缩;再次排列后,用标准向量差分法进行差分,并运用距离标记法对差分向量作第二次压缩.该方法对确定位分布不平衡的测试集有较高的压缩率,且向量差分时所需的循环移位寄存器数目少. 相似文献
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