共查询到20条相似文献,搜索用时 265 毫秒
1.
ASIC测试生成和可测性分析系统ATGTA 总被引:7,自引:0,他引:7
本文介绍了一个面向非扫描设计的实用的ASIC测试生成和可测性分析系统—ATG-TA.它采用功能块组同步时序电路模型和功能块引腿固定故障模型.可接收四种常用语言描述的电路网表.用FDCM方法引导测试生成过程,用DRFM方法识别组合冗余故障,通过测度分析与规则判定相结合识别时序电路中的不可测故障.用G-F二值算法按有限回溯测试模式产生方法推导测试向量.反向追踪时,采用宽度和深度动态交替代先策略.ATGTA已实际用于四万门以内的非扫描单双向ASIC芯片,效果良好. 相似文献
2.
3.
基于HMM的模拟电路故障诊断方法 总被引:2,自引:0,他引:2
针对电子系统,尤其是模拟电路的早期故障诊断是重要却又困难的问题,提出一种基于隐马尔可夫模型(HMM)的模拟电路早期故障诊断方法.首先提取出模拟电路的电压特征;然后用改进的线性辨别分析法(LDA)对电压特征进行降维并消除其冗余,采取一些改进措施来消除LDA的不足;最后将改进LDA提取的特征构成多个观测序列并用于训练和测试HMM,以实现模拟电路的早期故障诊断.将该方法与其他方法进行比较的实验结果表明,其具有良好的故障识别能力. 相似文献
4.
《计算机辅助设计与图形学学报》2016,(2)
针对现有FPGA加固方法开销过大的问题,提出一种利用逻辑门对故障的屏蔽效应进行选择性加固的双模冗余方法.首先建立待加固电路的查找表结构模型,根据故障的传播概率按电路结构依次计算每个查找表的故障敏感度;然后将故障敏感度高的查找表进行双模冗余,并根据要屏蔽的故障类型在冗余后的查找表输出端添加"与","或"逻辑进行表决;最后对加固后的电路进行故障注入,验证加固效果.对MCNC测试集电路的实验结果表明,与现有方法相比,在同等开销下,文中方法对故障的屏蔽效果更显著;全冗余时,该方法可将故障平均减少84.3%,对于apex2,spla等大电路则能减少超过97%. 相似文献
5.
研究电路故障诊断问题,提高诊断效率.由于电路集成度提高,电路信号与故障相关,针对传统故障诊断因采用线性诊断方法与提取的电路特征信息不全面,导致诊断定位精度不高,为有效提高电路故障诊断的速度与精度,提出了一种根据小波包能量熵的支持向量机电路故障诊断方法(EE-SVM).首先利用小波包对电路故障信号进行3层的小波包分解,并提取小波包能最熵,构建输入特征向量.对于支持向量机进行非线性特征向量汰选,去除冗余特征,以保留特征向量构建智能化诊断模型.进行实例仿真,结果显示,方法在所有参比模型中精度最高,能高效地对电路故障进行检测与定位. 相似文献
6.
冗余式高压直流无刷电机控制系统设计 总被引:1,自引:1,他引:0
在冗余式高压直流无刷电机基本结构的基础上,研究了冗余式高压直流无刷电机的控制策略,设计了一套基于DSP的冗余式高压直流无刷电机控制系统;该系统主要分为控制电路、隔离电路、驱动电路、主功率电路、故障检测与保护电路和系统供电电源模块等;系统采用专用电机控制集成芯片TMS320F2812为控制核心,实现了总线控制、电机余度工作模式的切换、正/反转运行、故障检测与保护等功能;系统采用转速闭环控制策略,实验结果表明系统动态响应快,稳速精度高,并在两个余度同时工作时实现了电流的均衡. 相似文献
7.
微表情识别是情感识别领域的一项关键任务,其目的是分析人们隐藏的真实情感.针对微表情识别中微表情视频帧冗余、微表情幅度变化微弱和微表情持续时间短的问题,导致无法有效在微表情视频中提取有效特征,从而降低微表情识别的精度与速度,提出一种动态特征与静态特征结合的微表情识别方法.首先将视频动态信息压缩为残差积减少帧冗余,提高模型预测速度,然后分别使用稀疏卷积和深度可分离卷积提取动态特征和静态特征,并利用多阶段自适应特征融合的方式充分结合动态特征与静态特征,最后通过标签平滑损失函数提高模型泛化能力.实验结果表示,动态特征与静态特征的结合有效地提高了微表情识别的精度.在MEGC2019的评估标准下,混合数据集的UF1值提高了0.035,UAR值提高了0.045. 相似文献
8.
本文提出了一种用于故障诊断识别的改进脉冲频率调制(PFM)VLSI神经网络电路,改进了传统的基于软件的机械故障诊断模式,发挥了神经网络超大规模集成电路(VLSI)的优势.利用单层感知器网络、场效应管电路实现了一种新的数字模拟混合突触乘法/加法器电路,而且该神经网络电路的突触权值不需要学习调整,降低了电路的复杂性.以此电路为基础,设计了进行主轴承噪声故障诊断的神经网络故障识别系统.将含有故障信息的原始噪声信号,经过前置信号处理分析、故障特征值提取和神经网络运算,得出VLSI电路输出端电容的电压——代表待识别信号与模板故障信号的“欧氏距离”,进而判断出故障的类别.经过仿真测试,基于硬件的诊断系统的识别性能接近于基于软件的系统. 相似文献
9.
为了改变传统的基于软件的机械故障诊断模式,以及发挥神经网络超大规模集成电路(vLSI)的优势,提出了一种用于故障诊断识别的脉冲频率调制(PFM)模拟神经网络脉冲流vLSI电路。实现了一种脉冲流数字模拟混合突触乘法/加法器电路,而且该神经网络电路的突触权值不需要学习调整.降低了电路的复杂性。以此电路为基础.设计了进行主轴承磨损故障诊断的神经网络故障识别系统。利用含有故障信息的噪声信号代替传感器安装困难的基于振动信号的特征值提取,最后.根据代表待识别信号与标准故障模板之间欧氏距离的电路输出端电容电压值可以判断出故障类别。该电路具有较高的识别精度.可以实现噪声故障信号的实时在线识别。 相似文献
10.
SubhashisMajumder BhargabB.Bhattacharya VishwaniD.Agrawal MichaelL.Bushnell 《计算机科学技术学报》2004,19(C00):98-98
在数字电路的时延测试、时序分析和时序优化中都会用到不可测通路时延故障的识别。本文通过简单的变换将原电路展开,然后对原电路里的伪时序通路(false timing paths)和展开后的电路里的冗余固定型故障建立一种很强的关系。已经证明过通路时延故障测试是时延测试里最精确的形式。 相似文献
11.
系统地研究了实际数字电路中冗余故障的特性,详细深入地分析了ISCAS85基准电路中10个组合电路的全部550个冗余故障,找出了它们各自形成的原因并将其分成5类,研究发现其中只有3个故障是最难测的,算法中需要大量回溯;其它547个故障只要按照电路结构和测试本身的规律来形成测试,则基本上无需回溯中。 相似文献
12.
提出利用瞬态电流测试(IDDT Testing)方法检测数字电路中的冗余固定故障。检测时采用双向量模式,充分考虑逻辑门的延时特性。针对两类不同的冗余固定故障,分别给出了激活故障的算法,在此基础上再对故障效应进行传播。SPICE模拟实验结果表明,该方法能有效地区分正常电路与存在冗余故障的电路,可以作为电压测试方法的一种有益的补充。 相似文献
13.
14.
15.
全速电流测试的故障精简和测试生成 总被引:2,自引:0,他引:2
针对全速电流测试方法测试生成算法效率低下的问题,提出故障压缩、故障模拟等故障精简的方法,以提高该方法的测试生成效率.实验结果表明,该方法使得需要进行测试生成的故障点平均减少了66.8%,该测试方法的测试生成的效率提高了200多倍. 相似文献
16.
17.
针对软件缺陷数据集中不相关特征和冗余特征会降低软件缺陷个数预测模型的性能的问题,提出了一种面向软件缺陷个数预测的混合式特征选择方法-HFSNFP。首先,利用ReliefF算法计算每个特征与缺陷个数之间的相关性,选出相关性最高的m个特征;然后,基于特征之间的关联性利用谱聚类对这m个特征进行聚类;最后,利用基于包裹式特征选择思想从每个簇中依次挑选最相关的特征形成最终的特征子集。实验结果表明,相比于已有的五种过滤式特征选择方法,HFSNFP方法在提高预测率的同时降低了误报率,且G-measure与RMSE度量值更佳;相比于已有的两种包裹式特征选择方法,HFSNFP方法在保证了缺陷个数预测性能的同时可以显著降低特征选择的时间。 相似文献
18.
介绍航天飞控软件系统的主要功能及其常规体系结构。设计开发航天飞控软件系统的一个二维容错体系结构。版本维A包括所有应用软件功能的完整功能进程,版本维B仅包括部分关键软件功能进程的二版本设计与实现,其中有原功能进程的全功能冗余设计,以及原功能进程的降级冗余设计。版本维主要实现进程级程序的容错功能。关键等级维实现的是不同关键等级进程之间的数据容错。如果数据从较高关键等级进程流向较低或相同关键等级进程,则数据交换可以直接进行,如果数据从较低关键等级进程流向较高关键等级进程,则必须由容错处理进程经过容错处理,才能流向目的进程。 相似文献
19.
介绍航天飞控软件系统的主要功能及其常规体系结构.设计开发航天飞控软件系统的一个二维容错体系结构.版本维A包括所有应用软件功能的完整功能进程,版本维B仅包括部分关健软件功能进程的二版本设计与实现,其中有原功能进程的全功能冗余设计,以及原功能进程的降级冗余设计.版本维主要实现进程级程序的容错功能.关键等级维实现的是不同关键等级进程之间的数据容错.如果数据从较高关键等级进程流向较低或相同关键等级进程,则数据交换可以直接进行,如果数据从较低关键等级进程流向较高关键等级进程,则必须由容错处理进程经过容错处理,才能流向目的进程. 相似文献
20.
以Xilinx公司FPGA的理论结构为结构模型,提出了FPGA测试中的故障屏蔽现象,并给出该现象的产生原因和判断条件,在此基础上进一步提出相应的解决办法和建议,避免或减少了故障屏蔽现象的出现,提高了测试FPGA的故障覆盖率。 相似文献