一种动态电流测试产生方法的SPICE模拟验证

数字电路状态发生改变时,数字电路中的逻辑跳变直接影响电路中的动态电流.基于布尔过程的波形模拟器能够快速准确地对电路进行模拟,其结果既能反映电路的逻辑特性又能反映电路的定时特性.利用波形模拟器可以准确的了解电路中跳变的情况.本文利用波形模拟器改进并实现了一种基于逻辑跳变计数的动态电流测试方法.对于S208电路中的部分开路故障和延时故障,本文用该方法产生了一组测试结果,并利用SPICE软件对这些测试结果进行了模拟实验.模拟结果表明,对于某些故障,测试向量对能够使故障电路的动态电流和无故障电路的动态电流产生较大的差别.通过比较两者平均动态电流的大小,我们能够区分出故障电路和无故障电路.实验结果验证了本文中的动态电流测试产生方法的有效性和可行性.     

A long lifetime, low error rate RRAM design with self-repair module

Resistive random access memory (RRAM) is one of the promising candidates for future universal memory. However, it suffers from serious error rate and endurance problems. Therefore, exploring a technical solution is greatly demanded to enhance endurance and reduce error rate. In this paper, we propose a reliable RRAM architecture that includes two reliability modules: error correction code (ECC) and self-repair modules. The ECC module is used to detect errors and decrease error rate. The self-repair module, which is proposed for the first time for RRAM, can get the information of error bits and repair wear-out cells by a repair voltage. Simulation results show that the proposed architecture can achieve lowest error rate and longest lifetime compared to previous reliable designs.     

Hook技术在监控PSpice中的应用研究

介绍了仿真工具PSpice的基本概念和Hook技术的基本原理,并分析了在进行模拟及混合信号电路测试的仿真试验时,如何利用Hook技术来监控PSpice的自动运行。     

引导式讨论在小班研讨教学中的应用

当前本科小班研讨课面临学生学习习惯的改变、学习兴趣的提升等问题,文章介绍数字逻辑教学中的两次讨论课设计,采用引导式讨论法,设计多个彼此关联的小问题,交由学生课后思考,教师采用图形、仿真与更形象的口头表述引导学生积极地参与讨论,帮助学生更快地突破知识理解上的盲点和障碍。     

数字微流控生化芯片的多故障诊断

数字微流控芯片常用于安全关键领域,其可靠性成为设计和测试的重要准则。为保证数字微流控芯片的系统可靠性,需要对其进行全面的测试,而为了实现重配置,必须对芯片阵列进行准确的故障诊断。本文提出了一种多故障的诊断方法,首先对芯片阵列进行行列并行测试,识别出存在故障的行和列,再利用改进二进搜索对这些故障行列进行故障定位。改进二进搜索可以利用多个有效的无故障路径进行测试,为了有效地为二进搜索寻找有效的搜索路径,给出了相应的贪婪算法。诊断故障覆盖率用来衡量多故障诊断方法的有效性。实验结果表明,相对传统的二进搜索方法,本方法可以更有效地对多故障进行定位。     

无关位在增加测试向量分组长度上的应用

针对内建自测试技术难以检测到抗随机测试故障的缺陷,提出一种充分利用测试向量中的无关位增加测试向量分组长度的方法。由含无关位的测试向量产生出相应电路内部节点的响应向量,通过分析测试向量与响应向量之间的关系,给出一些启发式规则并构建相应的有向图,用深度优先搜索方法查找出P?M个有向图的最长公共路径。实验结果表明,最大测试分组中的向量数平均增加了2.2个。     

基于RTL内部功能模块的测试向量产生方法

提出利用RTL数据通路中加法器、减法器、乘法器作为一种产生测试向量硬件的方法,对被测模块进行测试,以降低硬件开销。实验结果表明,该可测性设计与调度算法具备良好的性能和实用性。在满足功耗约束下,硬件开销可以降低10.7%~73.4%,同时测试应用时间也有所降低,最多可以降低22.4%。     

一种基于BFT型拓扑结构片上网络低费用测试方法

随着集成电路制作工艺的进步,多核与众核系统是片上系统的发展趋势.传统的二维网格(2D-mesh)型拓扑结构通信效率低、功耗高和时延长等缺点变得越来越明显.本文首先分析对比了几种常用拓扑结构在多核与众核情况下的性能,进而采用布线复杂度较低、性能较好的蝴蝶型胖树(BFT)拓扑结构来解决片上系统的设计和测试问题.随后,本文针...     

基于静态逻辑蕴涵的电路功耗优化

介绍一种针对经过工艺映射的组合逻辑电路进行功耗优化的方法.首先根据电路节点的翻转频率对节点进行分类,每次考虑一个节点,找出它在电路中的直接和间接蕴涵;然后利用这些蕴涵在电路添加一些逻辑门和连接,来增加电路的冗余;最后去除这些冗余来化简电路,去除那些高功耗的节点,从而减少整个电路的翻转活动,降低功耗.这个过程是重复的,每次重复从一个新的节点开始,最后得到一个跳变减少的电路.     

一种用于动态电流测试的故障模拟算法

本文针对动态电流测试，提出了动态电流通路和动态电流通路故障的概念以及基本逻辑门的动态电流通路故障模型，在波形模拟器的基础上给出了一个用于动态电流测试的故障模拟算法。