硅光电负阻器件的构成原理与分类

将三端负阻器件与硅光电探测器相结合 ,通过新的构思成功地提出并构成了一类新型光电器件——硅光电负阻器件。文中报道了该器件构成的一般性原理 ,以及依据此构成原理确定的分类方法     

Structural properties of phosphorous-doped polycrystalline silicon

The structural properties and hydrogen bonding of undoped and phosphorous doped polycrystalline silicon produced by step-by-step laser dehydrogenation and crystallization technique were investigated using Raman spectroscopy and hydrogen effusion measurements. At low laser fluences, E_L, a two-layer system is created. This is accompanied by the change in hydrogen bonding. The intensity of the Si–H vibration mode at 2000 decreases faster than the one at 2100 cm⁻¹. This is even more pronounced in phosphorous-doped specimens. The laser crystallization results in an increase of the hydrogen binding energy by approximately 0.2–0.3 eV compared to the amorphous starting materials.     

多孔硅发光二极管的载流子传输特性研究

制备AI／多孔硅／c-Si／Al结构的多孔硅发光二极管，利用其I-V特性关系，以及在不同温度下其I-V特性的变化，结合多孔硅的特殊微结构及性质，分析了多孔硅发光二极管中载流子的产生和传输过程；通过比较其发光猝灭前后I-V特性的变化，解释了发光猝灭的原因。提出了如果在低电场下能够实现大量载流子在限制性Si微粒中复合．是提高多孔硅电致发光效率的一个途径。     

p-Si薄膜生长的ECR-CVD等离子体系统的结构设计

提出了一种生长p-Si薄膜的ECR-PECVD等离子体系统。系统采用永磁铁和线圈相结合，改善反应室磁场的均匀性；微波窗口设计成多层结构．避免窗口污染；衬底托架移动和旋转利于改善生长膜的均匀性。     

液晶光阀光电导层光吸收系数的研究

用化学气相沉积法制备了液晶光阀中光电导层———非晶硅薄膜,从实验中得出最佳制备工艺的参数取值。给出了用包络线法测量非晶硅薄膜光吸收系数的原理,测量了样品的光吸收系数随波长的变化规律。得到样品在最佳工艺条件下的光吸收系数高于1×103cm-1。     

Electrical/electronic effects of titanium and iron impurities in EFG and FZ solar cell silicon: SPV/EBIC analysis

In this paper results on surface photovoltage (SPV) and electron beam induced conductivity (EBIC) studies of edge-defined film-fed growth (EFG) and floating zone (FZ) silicon solar cell materials (both p-type) are presented. A systematic comparison based on minority carrier diffusion length and carrier recombination is made between: (i) samples contaminated with Ti and/or Fe, (ii) samples gettered by phosphorous diffusion, and (iii) as-received samples. Deep level transient spectroscopy (DLTS) measurements, together with the iron-boron (FeB) pairing kinetics [1] have successfully been used to detect the presence of Fe in the samples. Even though this process is effective in revealing Fe impurities in p-type FZ silicon it is evidently not suitable for Fe identification in p-type EFG silicon. Ti, like Fe, is found to be a prominent lifetime-limiting metallic impurity in both EFG and FZ silicon. Phosphorous diffusion is proven to be an effective external gettering technique for fast-diffusing impurities such as Fe, but not for Ti.     

以YAG为添加剂的气压烧结氮化硅

本文以添加ＹＡＧ的反应烧结氮化硅（ＲＢＳＮ）为前驱体，采用气氛加压烧结的工艺，在０．５～９．０ＭＰａ氮气压力范围，研究了不同氮压对烧结体的密度、相组成、强度和显微结构的影响及其相互间的关系。研究表明，通过改变氮气压力能有效地调控材料的显微结构，材料的性能又受控于显微结构的变化。     

氧化铝/锌合金复合材料界面的SEM观察

利用挤压铸造制备氧化铝／锌合金复合材料，在扫描电镜（ＳＥＭ）上观察复合材料的界面。结果表明，在复合材料中纤维与基体间存在致密界面层，合金元素通过适当的化学反应可改善纤维与基体间的结合；在凝固过程中，纤维／基体界面上的硅在共晶体的共生生长过程中起了领先相作用，导致复合材料的共晶转变是由铝硅共晶转变和锌铝共晶转变两者组成。     

特征提取在硅内部微/纳米级体缺陷检测中的应用

提出了一种利用特征提取来对硅中微/纳米级体缺陷的激光散射图样进行分析,以获得缺陷大小信息的分析方法.给出了该方法中第一特征值和第二特征值的定义,指出通过所提出的第一特征值及第二特征值即可迅速地判断出缺陷的大小量级所在.这种分析方法具有分析速度快,在体缺陷小于1μm时分辨率高,且可使系统实现自动化等优点.     

区熔单晶硅生产操作指导专家系统

本文介绍区熔单晶硅生产操作指导专家系统。首先，系统实现了连续图象的自动变周期、定瞬间采样，并提出一种新的区域扩张增量图象处理算法．其次，叙述了知识的获取过程及类规则，提出分布的多库结构，并实现了不确定性推理．最后，开发了区熔单晶硅生产操作指导专家系统，实现了从数据和图象采集、处理、事实获取、推理到给出操作指导一体化。