多级放大器噪声谱矩阵计算及在低噪声设计中应用

本文针对通信接收机噪声性能分析中广泛采用的弗里斯（Ｆｒｉｓ）公式在低噪声设计中的不足，提出了具有复相关系数的放大器Ｅｎ－Ｉｎ噪声模型的谱矩阵形式，推导了多级放大器的噪声谱矩阵计算公式。成功地解决了多级放大器噪声性能分析及低噪声设计必需的噪声参数（最佳源阻抗及最小噪声系数）计算。     

晶体管放大器三种组态的En—In噪声分析与比较

准确评价晶体管三种组态的噪声性能是低噪声放大器电路组态优化设计的关键。本文在晶体管三种组态Ｅｎ－Ｉｎ噪声分析等方面给出了若干新结果。     

前置放大器NF图的测试方法及装置

前置放大器ＮＦ图的测试方法及装置戴逸松，徐建生，张新发（吉林工业大学长春１３００２５）０引言衡量前置放大器噪声大小的最常用指标是噪声系数Ｆ，或噪声因数ＮＦ（ＮＦ—１０１ＯｇＦ）。因为对微弱信号检测仪器来说，可以检测的最高灵敏度决定于放大器的噪声系数，...     

电噪声峰值测量法的精确度分析

本文从理论上探讨了线性电路中噪声峰值的形成机理及统计起伏特性,证明了用噪声峰峰值来计算噪声有效值及功率的可行性。但由于与噪声电压的大小,网络频率特性及噪声源功率谱形式有关,故测量准确度较低。为了提高测量精确度,减少随机误差,对噪声峰值测量应采用统计平均方法,所以也需要一定的测量时间。     

集成稳压块78M12宽温度范围的噪声测量及谱分析

介绍了在温度为３００Ｋ，２７３Ｋ及２０８Ｋ下的集成稳压块７８Ｍ１２的输出噪声测量装置，对测到的器件低频噪声进行成分分析，并根据ｇ－ｒ噪声转折频率绘制了Ａｒｒｈｅｎｉｕｓ图，由此求出了该器件的内部杂质能级。     

半导体激光器的低频电噪声谱密度和器件的可靠性

本文给出了半导体激光器的低频电噪声谱密度和器件可靠性关系的实验结果。     

低频噪声测量技术的现状及最新进展

低频噪声测量技术的现状及最新进展ＴｈｅＣｕｒｒｅｎｔＳｉｔｕａｔｉｏｎａｎｄＲｅｃｅｎｔＤｅｖｅｌｏｐｍｅｎｔｏｎＬｏｗＦｒｅｑｕｅｎｃｙＮｏｉｓｅＭｅａｓｕｒｅｍｅｎｔＴｅｃｈｎｉｑｕｅ￥ＤａｉＹｉｓｏｎｇ（ＪｉｌｉｎＵｎｉｖｅｒｓｉｔｙｏｆＴｅｃ...     

色噪声背景下正弦参量估计的互谱矩和SVD方法

互谱估计方法是用于色噪声背景下正弦信号参量估计的一个十分有效的方法，但以往互谱估计都是采用ＦＦＴ广泛和互周期图法，本文首次将现代谱估计方法引入到互谱估计中，从理论上建立了互相函数的Ｙｕｌｅ－Ｗａｌｋｅｒ方程，并并在此基础上进而提出了互谱估计的矩估计法和ＳＶＤ方法，给出了仿真实例结果。