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铝及铝合金广泛应用于电子设备、散热器等领域。文中针对铝合金低温软钎焊中表面氧化膜难去除的问题,对铝用有机钎剂体系进行了深入研究。为提高钎剂的活性及稳定性,同时选取辛酸亚锡及氟硼酸锌作为活性剂成分。通过铺展实验及X射线成像技术研究了两者对钎焊时SnZn钎料铺展率及孔隙率的影响。通过扫描电镜及差热分析手段深入探讨了活性剂在铝表面的作用机理。同时分析气孔产生的原因,解决钎剂活化后反应剧烈带来的气孔等焊接缺陷问题。结果表明,当辛酸亚锡重量百分比为8%,氟硼酸锌重量百分比控制在16%~24%时,可将软钎焊铺展率提高至90%以上,孔隙率控制在0.8%左右。 相似文献
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文中对片式微波组件激光软钎焊气密封装工艺开展研究,优化了影响焊缝成形的焊接结构、热台温度、助焊剂、离焦量、激光功率、焊接速度等工艺参数,分析了激光软钎焊密封接头微观组织,测试了激光软钎焊密封组件的气密性。结果表明:激光软钎焊封盖过程是一个温度场不断变化的动态过程,因此激光功率和焊接速度两参数也应在一定范围内通过程序设计动态调节。钎料可完全填充壳体与盖板之间形成的间隙,钎料中无空洞和裂纹,钎料未溢流到壳体内部。钎料与镀Ni 层接触并润湿良好,在钎料与壳体和盖板界面未形成粗大脆性的金锡金属间化合物。接头上部钎料基本保持(Sn)+(Pb)共晶组织状态,接头下部镀Ni层与钎料之间形成薄且均匀连续的金属间化合物层AuSn和AuSn2。采用优化后的工艺参数激光软钎焊密封的组件气密性满足机载有源天线阵面应用要求。 相似文献
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The maximum bubble-pressure method has been used to measure the surface tension and density of liquid alloys (Ag-Sn)eut + Cu (XCu = 0.005, 0.020, 0.0375, and 0.065 (mole fraction)). The surface tension and density measurements were curried out in the
temperature ranges of 262–942°C and 264–937°C, respectively. The linear dependencies of surface tensions and densities on
temperature were observed, and they were described by straight-line equations. It has been found that the additions of Cu
to the Ag-Sn eutectic alloy increase the surface tension. Experimental data of the surface tension were compared with those
from modeling based on Butler’s method, using the optimized-thermodynamic parameters from the literature, and a slight tendency
contrary to the experimental results was observed. 相似文献
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M. W. Liang T. E. Hsieh S. Y. Chang T. H. Chuang 《Journal of Electronic Materials》2003,32(9):952-956
The multilayer thin-film systems of Cu/Ti/Si and Au/Cu/Al2O3 were diffusion-soldered at temperatures between 250°C and 400°C by inserting a Sn thin-film interlayer. Experimental results
showed that a double layer of intermetallic compounds (IMCs) η-(Cu0.99Au0.01)6Sn5/δ-(Au0.87Cu0.13)Sn was formed at the interface. Kinetics analyses revealed that the growth of intermetallics was diffusion-controlled. The
activation energies as calculated from Arrhenius plots of the growth rate constants for (Cu0.99Au0.01)6Sn5 and (Au0.87Cu0.13)Sn are 16.9 kJ/mol and 53.7 kJ/mol, respectively. Finally, a satisfactory tensile strength of 132 kg/cm2 could be attained under the bonding condition of 300°C for 20 min. 相似文献
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除设计和材料外,工艺和操作对厚膜混合集成电路的质量和性能也有较大的影响。分析了厚膜混合集成电路生产过程中一些常见的工艺缺陷,如线条变形、起泡、阻值不稳、元件受损、锡珠等的产生原因,并提出了相应的消除方法。 相似文献
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80.