基于FPGA的时间测量方法的初步研究

设计了一种基于FPGA的TDC(Time Digital Converter)电路．目的在于研究一种可以在北京谱仪Ⅲ的主漂移室时间信息获取中使用的方案。对使用FPGA进行时间测量的方法进行了讨论,并给出了初步测试结果。     

BESⅢ主漂移室时间测量中HPTDC的应用研究

介绍了BESⅢ主漂移室应用HPTDC(High Perfolrmance Time to Digital Converter)进行时间测量的研究,介绍了HPTDC的相关情况,以及基于HPTDC时间测量电路的设计及测量结果。     

GEM探测器基线值获取和数据零压缩阈值的设定

针对X射线成像GEM探测器,分析了3种基线值获取方法,给出零压缩阈值的最佳设定方法。测试结果表明,采用文中方法给出的零压缩阈值对数据进行零压缩可有效提高数据的有效利用率,从而提高探测器的计数率。在相同时间内,统计量大大提高,也有效改善了探测器的二维成像质量。     

八通道1Gsps数据采集系统设计与测试

介绍了一种基于Flash ADC和FPGA(现场可编程门阵列)的八通道1 Gsps数据采集系统的设计与测试.重点讨论了系统设计的关键点、难点,包括1 GHz时钟信号的产生和扇出,500 MHz源同步数据的捕获、处理,高速PCB设计.另外还介绍了系统的测试,描述了1 GHz时钟信号的测试结果以及系统主要性能的测试结果.     

北京谱仪漂移室电子学系统电磁干扰问题的研究

介绍了北京仪漂移室电子学系统电磁干扰问题,阐述了如何根据造成电磁干扰的三要素分析与排除干扰的方法。     

漂移室时间读出系统编码控制电路

本文介绍了一种漂移室时间读出系统编码控制电路的电路结构和工作原理,给出了其主要性能的测试结果。     

多通道Flash ADC瞬态波形取样电路的研制

描述了一种用于中微子实验系统的多通道FlashADC波形取样电路的设计考虑和工作过程，给出了与探测器系统联机实验的初步结果。电路设计基于9U—VME规范，取样频率20MHz。为不丢失好事例信息，数据的缓冲存储采用了流水线结构．电路具有multihit(多次命中)测量的能力，较好地满足了中微子实验中物理测量的要求。     

BESⅢ主漂移室电子学测试系统软件

介绍了BESⅢ主漂移室电子学测试系统的组成、测试软件的实现方法及主要测试功能.测试软件开发是基于MS Visual V 6.0和NI LabVIEW 7.1,在以SBS VP7和PowerPC为系统控制器的两种硬件测试系统上分别实现了较为完善的测试软件,为硬件的调试和系统的性能检测提供了全面、方便和有效的手段.     

BESⅢ漂移室电子学时间测量电路的性能测试

阐述了BESⅢ漂移室电子学中时间测量电路的主要性能指标：时间分辨、微分非线性及积分非线性的测试方法及测试结果。     

用于GEM探测器的电容积分式读出芯片的研究

介绍了GEM探测器阵列结构的一种读出方案,重点介绍了该读出方案中开关阵列芯片的设计.主要内容包括PAD前端读出电子学结构,开关电容阵列结构工作原理,开关阵列芯片设计,文章的最后给出了芯片测试结果.该10通道开关电容阵列芯片可以扩展为更多的通道,以满足更大规模的GEM探测器的阵列方式读出需要.