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研究了离子损伤对等离子体辅助分子束外延生长的GaNAs/GaAs和GaInNAs/GaAs量子阱的影响.研究表明离子损伤是影响GaNAs和GaInNAs量子阱质量的关键因素.去离子磁场能有效地去除了等离子体活化产生的氮离子.对于使用去离子磁场生长的GaNAs和GaInNAs量子阱样品,X射线衍射测量和PL谱测量都表明样品的质量被显著地提高.GaInAs量子阱的PL强度已经提高到可以和同样条件下生长的GaInAs量子阱相比较.研究也表明使用的磁场强度越强,样品的光学质量提高越明显. 相似文献
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Semiconductor lasers with emission in the1 .3— 1 .55mm wavelength range are im-portant for optical fiber communication[1 ] .However,the conventional Ga In As P/ In P sys-tem has the disadvantage ofrelatively low characteristic temper... 相似文献
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研究了离子损伤对等离子体辅助分子束外延生长的 Ga NAs/ Ga As和 Ga In NAs/ Ga As量子阱的影响 .研究表明离子损伤是影响 Ga NAs和 Ga In NAs量子阱质量的关键因素 .去离子磁场能有效地去除了等离子体活化产生的氮离子 .对于使用去离子磁场生长的 Ga NAs和 Ga In NAs量子阱样品 ,X射线衍射测量和 PL 谱测量都表明样品的质量被显著地提高 .Ga In As量子阱的 PL 强度已经提高到可以和同样条件下生长的 Ga In As量子阱相比较 .研究也表明使用的磁场强度越强 ,样品的光学质量提高越明显 相似文献
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Long wavelength ( 1.3 or 1.55μm) laser diodes have attracted much attention in re-centyears due to the minimum loss in the optical fiber communication. These wavelengthsare accessible to InGaAsP/InP based on semiconductor activ... 相似文献
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GaInNAs是一种直接带隙半导体材料,在长彼长(1.30和 1.55μm)光通信系统 中具有广阔的应用前景.通过调节 In和 N的组分,既可获得应变 GaInNAs外延材料,也可制 备GaInNAs与GaAs匹配的异质结构,其波长覆盖范围为0.9-N2.0μm.GaInNAs/GaAs 量子阱激光器的特征温度为 200 K,远大于现行 GaInNAsP/InP激光器的特征温度(T0=50 K). GaInNAs光电子器件的此优异特性,对于提高光纤通信系统的稳定性、可靠寿命具有特 别重要的意义.由于GaInNAs和具有高反射率(高达99%)AI(Ga)As/GaAs的分布布拉格 反射镜(DBR)可生长在同-GaAs衬底上,因此它是长波长(1.30和 1.55 μm)垂直腔面 发射激光器(VCSEL)的理想材料.垂直腔面发射激光器是光纤通信、互联网和光信号处理的 关键器件. GaAs基的超高速集成电路(IC)已有相当成熟的工艺.如果 GaInNAs-VCSEL 与 GaAs-IC相结合,将使光电集成电路(OEIC)开拓出崭新的局面.本文还报道我们课题 组研制高质量 GaNAs/GaAs超晶格和大应变 InGaAs/GaAs量子阱结构取 相似文献
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采用了滚压加工的方法强化核主泵轴套表面, 研究滚压处理对马氏体不锈钢轴套耐磨性能的影响。采用EBSD系统、白光干涉仪、显微硬度计及摩擦磨损试验机分别对试样的晶粒度、粗糙度、显微硬度及摩擦系数进行表征。结果表明,基体表面粗糙度轮廓算术平均值Ra为383 nm,滚压层表面粗糙度表面轮廓算术的平均值Ra为63.7 nm,大概为基体的1/4~1/5;滚压层晶粒细化,小尺寸晶粒比例增大,在一定区域内占比由基体的62%左右增加到75%左右;基体显微硬度为260 HV,滚压层显微硬度达到550 HV,大概为基体硬度的2.2倍;滚压层的摩擦系数降低,摩擦系数曲线更加平缓,即表面光洁度降低。采用滚压加工后,零件的表面耐磨性显著提高。 相似文献
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