粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中的杂质组分

采用了非破坏性、无需化学消解试样的固体粉末压片-X射线荧光光谱法测定石墨中8种杂质组分SiO_2、Al_2O_3、Fe_2O_3、CaO、MgO、MnO、P_2O_5、TiO_2的质量分数。使用国家标准物质(GBW03118-03120,ZBM150-154)建立了校准曲线,优化了粉末压片制样条件。测定石墨标准物质各组分的相对标准偏差(RSD)在0.8%～4.86%之间,测定值与标准值相符,且与电感耦合等离子发射光谱的对比测定结果一致。     

粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定土壤和水系沉积物中氯和溴

Cl和Br是土地质量调查和评价的重要指标,X射线荧光光谱法测定土壤和水系沉积物中Cl和Br的难点在于Cl容易污染,测量值易受测量时间、测量次数等因素影响,方法稳定性差;而Br的地球化学背景值低,方法准确性和稳定性较差。实验重点对Cl和Br元素的谱线选择、测量时间、基体校正以及Cl元素测量时样片的放置时间、测量次数和Br元素测量的方法稳定性进行研究,建立了粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定(XRF)土壤和水系沉积物中Cl和Br的分析方法。待测样放置时间建议不超过48 h;推荐Cl的测量时间为24～30 s,Br的测量时间为30 s;Cl测量次数为1片1次。方法中,Cl无需进行谱线干扰校正,Br选用As扣除谱线干扰,用Rh-KαC线作内标;Cl、Br均采用经验系数法校正基体效应。Cl、Br检出限分别为20×10^-6和0.6×10^-6。以12个标准物质和一个未知样为考察对象,按照实验方法进行测定,Cl和Br结果的相对标准偏差(RSD,n=12)均小于10%;采用实验方法分析土壤和水系沉积物标准物质,测定值与认定值吻合良好。     

密闭消解-电感耦合等离子体质谱法测定铅矿石中痕量镓铟铊镉锗

铅矿床具有较高品位的各种稀散元素,因此准确测定铅矿石中Ga、In、Tl、Cd、Ge,对于矿产资源的节约、开发利用等具有重要意义。采用密闭消解方式处理样品,同时在消解过程中加入H₂SO₄(1+4)并水浴加热以沉淀分离Pb基体,分别选择⁶⁹Ga、¹¹⁵In、²⁰⁵Tl、¹¹⁴Cd、⁷²Ge作为分析同位素,¹⁰³Rh为内标校正Ga、In、Cd、Ge,¹⁸⁷Re为内标校正Tl,实现了电感耦合等离子体质谱法对铅矿石中痕量稀散元素Ga、In、Tl、Cd、Ge的测定。实验表明,采用标准(STD)模式测定,Ga、Tl、Cd的背景等效浓度比动能歧视(KED)模式高出一个数量级,而In、Ge的背景等效浓度和KED接近,因此确定采用KED模式测定Ga、Tl、Cd,采用STD模式测定In、Ge;对KED模式下He气流速进行了优化,确定He气流速为5.8mL/min。方法线性方程的相关系数均不小于0.9992,Ga、In、Tl、Cd、Ge的方法检出限分别为0.0520、0.0392、0.0196、0.0212、0.0437μg/g。采用实验方法测定铅矿石实际样品中Ga、In、Tl、Cd、Ge,测得结果的相对标准偏差(RSD,n=6)为1.3%~5.0%,加标回收率为86%~112%。将实验方法应用于铅矿石标准物质中这5个元素的测定,所得结果与认定值吻合。