首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   19篇
  免费   0篇
电工技术   1篇
综合类   3篇
化学工业   2篇
机械仪表   3篇
建筑科学   4篇
轻工业   1篇
无线电   2篇
一般工业技术   2篇
冶金工业   1篇
  2022年   1篇
  2017年   1篇
  2013年   3篇
  2010年   2篇
  2008年   1篇
  2006年   3篇
  2005年   1篇
  2004年   1篇
  2001年   2篇
  1992年   1篇
  1991年   2篇
  1990年   1篇
排序方式: 共有19条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
非承重抗震墙体实验研究   总被引:4,自引:0,他引:4  
论述了填充墙与梁、柱刚性连接的弊端 ,根据非结构构件的震害调查及控制原则 ,设计了一种满足规范的抗震填充墙体 ,并通过伪静力实验进行了验证 ,给出满足规范GB5 0 0 1 1— 2 0 0 1第 1 3 3 2 ,3条要求的构造作法 ,以提高填充墙的变形能力  相似文献   
2.
介绍以AlteraCPLD系列FLEX10K器件为虚拟载体,在Windows95/98下借助Delphi5.0实现人机交互界面,借助PC机的控制离线完成对常用TTL74和54系列、CMOS4000和4500系列、常用RAM、EPROM、部分CPU接口芯征的故障检测的VHDL设计原理和实现方法。  相似文献   
3.
伴随着通信技术领域的高速发展,相应的通信数字设备的电量需求也不断加大,关于电能的需求质量的标准也不断提高。传统模式通信电源相应的输入端为二极管整流和滤波电容组成的电路,相应的输入电流的波形为脉冲式的,使得交流网侧的对应功率因数显得很低。所以通信电源相应的功率因数校正技术的研究体现出很大的实践意义与使用价值,不但可以实现节约能源的目的,还能提高通信电源系统的工作性能。  相似文献   
4.
新型消能减震复合墙板性能分析研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
针对传统复合墙板强度低在地震作用易产生破坏的问题,提出一种新型预制装配式消能减震复合墙板,介绍其构造和特点。采用ABAQUS软件建立了新型消能减震复合墙板的简化有限元模型,对其进行了拟静力往复荷载作用下的数值仿真分析,分析了新型预制装配式消能减震复合墙板的耗能能力,延性及刚度退化,并与传统复合墙板进行了对比。结果表明:新型预制装配式消能减震复合墙板滞回曲线饱满,试件在大变形作用下未出现明显的塑性区,具有良好的延性、变形能力和耗能能力,在地震作用下能较好的保护主体结构,避免主体结构发生较大破坏,提高结构在地震作用下的安全性。  相似文献   
5.
金属—高分子复合导电微滤膜的研制及应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文报道了用化学镀制备银与纤维素复合导电微滤膜。测量了导电微滤膜的结构。研究表明,这种膜不仅具有高分子微孔膜的特性,还有良好的导电性质。当导电徽滤膜应用于过滤时,由于电的作用,可以截留带电胶体微粒。  相似文献   
6.
为确认单输入解耦模糊滑模算法是否具有稳定性,通过构造合适的Lyapunov函数,对该种算法进行稳定性分析,证明该算法具有渐近稳定性;为准确而快速的得到最佳控制增益,在基本粒子群算法的基础上,提出了用混沌粒子群算法选取其最佳控制增益,仿真研究表明:混沌粒子群算法较基本粒子群算法的收敛速度和优化效果都得到了提高.  相似文献   
7.
针对赫尔斯采制样设备有限公司生产的自动取样机在烧结矿取样使用中存在的问题,总结出一套维护自动取样机的实践操作方法,取得了良好的效果。  相似文献   
8.
以一高层建筑超大梁转换层结构为背景,分别采用基于刚性楼板假定的计算模型和基于板壳单元的弹性楼板有限元模型对超大梁转换层结构进行计算分析,通过对转换层结构上述两种分析模型的主要计算结果的比较研究,探讨了这两种分析模型在转换主梁应力分布、次梁内力以及转换层附近剪力墙应力分布等数值结果的差异,得到了一些有应用价值的结论.  相似文献   
9.
以城市交通干道的延误时间最小化为研究目标,通过对应用于交通干道协调控制相位差优化的遗传算法和混沌优化算法的研究分析,并结合两者的优点,提出一种基于Logistic映射的混沌遗传优化算法,进而得到各个路口的最佳相位差,并将新算法与已有算法进行对比仿真实验,实验结果证实了该方法在收敛性和优化效果上都得到了提高.  相似文献   
10.
介绍以Altera CPLD FLEX10K器件为虚拟载体,在Windows95/98下借助Delphi5.0实现的人机界面,在PC机的控制下,离线完成对常用TTL74和54系列,CMOS4000和4500系列,常用RAM,EPROM,单稳芯片的故障定性测试的设计原理和实现方法。  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号