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1.
The solid solutions based on the pyrochlore-type system Bi2MgNb2-xTaxO9 were formed in the compositional range х = 0–2.0 (Bi1·6Mg0·8Nb1.6-tTatO7.2, t = 0–1.6). The Rietveld method was used to refine the structure for Bi2MgNb2-xTaxO9 (x = 0, 1.0, 2.0). The increasing tantalum content led to the slight decrease in the cubic unit cell parameters from 10.56934 (4) Å for x = 0 and 10.54607 (3) Å for x = 2 (sp.gr. Fd-3m:2). At the same time, tantalum additions suppressed grain growth in the pyrochlore ceramics during sintering and made it possible to obtain materials with an average grain size of 1–2 μm (Bi1·6Mg0·8Ta1·6O7.2). The increase in the Ta5+ concentration led to the decrease in the dielectric permeability from 104 (Bi1·6Mg0·8Nb1·6O7.2) to 20 (Bi1·6Mg0·8Ta1·6O7.2) at room temperature, while the dielectric loss tangent remained lower than 0.002, which is due to the small grain size and the high porosity of the samples. An increase in temperature has practically no effect on the values of the dielectric permittivity in the entire frequency range. The samples have weak through conductivity. The activation energies of electrical conductivity varied in the range of 0.84–1.00 eV, and the less tantalum, the lower the activation energy. The electrical properties of the samples at 200 Hz to 1 MHz are described by the simplest parallel scheme.  相似文献   
2.
Metallurgical and Materials Transactions A - The misorientation of 515 grain boundaries has been determined using electron backscatter diffraction data from an 18 μm thick copper foil with...  相似文献   
3.
Khozina  E.N.  Korolev  P.A.  Al’vari  L.  Zhuravleva  O.S. 《Fibre Chemistry》2022,54(1):44-48
Fibre Chemistry - The paper investigates factors affecting the production of high-count fabrics using projectile weaving machines, as well as providing recommendations for improving the design of...  相似文献   
4.
5.
6.
7.
The geometric stabilization of bearing races by centerless rolling is studied experimentally, for the outer races of ball bearings.  相似文献   
8.
9.
The composition and structure of silicon surface layers subjected to combined gallium and nitrogen ion implantation with subsequent annealing have been studied by the X-ray photoelectron spectroscopy, Rutherford backscattering, electron spin resonance, Raman spectroscopy, and transmission electron microscopy techniques. A slight redistribution of the implanted atoms before annealing and their substantial migration towards the surface during annealing depending on the sequence of implantations are observed. It is found that about 2% of atoms of the implanted layer are replaced with gallium bonded to nitrogen; however, it is impossible to detect the gallium-nitride phase. At the same time, gallium-enriched inclusions containing ~25 at % of gallium are detected as candidates for the further synthesis of gallium-nitride inclusions.  相似文献   
10.
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