L边密度计稳定性监控及U、Pu测量

本文采用金属Zr片作为质控样品监控L边密度计的长期稳定性，在此基础上采用L边密度计测量系列水相U标准溶液和水相Pu标准溶液，绘制水相U工作曲线和水相Pu工作曲线，建立了L边密度计测量U、Pu的分析方法，并采用该工作曲线测量了系列U和Pu标准溶液。结果显示，该方法既可测量水相U、Pu，也可测量有机相U、Pu，对于10 g/L以上的U溶液，测量结果的相对偏差小于5%；对于5 g/L以上的Pu溶液，测量结果的相对偏差小于1.7%。以上结果表明，本文所建立的L边密度计测量U、Pu的方法准确度良好，可用于实际U、Pu的测量。     

U、Np、Pu的X射线荧光激发参量比的应用研究

对于后处理厂的工艺控制分析，1AF料液中铀和钚浓度是至关重要的数据，同时，它也是核燃料后处理厂衡算分析的技术难点和重点。     

LⅢ吸收边法测定台架实验中的铀

采用自制的L_Ⅲ吸收边分析装置,建立了测量20～200 g/L铀浓度的分析方法。通过实验确定了测量中铀的L_Ⅲ吸收边左拟合区间为1 659～1 856道,右拟合区间为2063～2280道,铀的L_Ⅲ吸收边为1995道。9 mol/L以下的硝酸、10 g/L以下的Al以及10 g/L以下的Fe对铀测量无显著影响。在铀的工作曲线范围内,其测量精密度均优于0.5%,稳定性好。利用本装置测量铀回收处理台架实验中的部分样品,取得了满意结果。     

石墨晶体预衍射-X射线荧光分析系统的研制与应用

采用能量色散X射线荧光法测定高放射性比活度的后处理溶液样品必须克服样品自身放射线与荧光信号重叠干扰、样品强放射性造成的探测器漏计数,以及溶液样品固有的高散射特性引起的高本底影响。本工作以石墨晶体预衍射器为核心技术,克服了以上3种影响,掌握了技术关键,设计组装了1     

二元比例法分析UO2-CeO2混合粉末

二元比例法是X射线荧光分析中的一个特殊情况,适合于含有两种成分的混合物测量。用二元素的分析线强度比对元素含量比做校准曲线,既能非常有效地校正样品的基体效应,同时,又对样品的表面状态不敏感。     

共沉淀薄样-X射线荧光法分析痕量铀

本工作研究了Fe-二乙基二硫代氨基甲酸钠（DDTC）共沉淀富集-X射线荧光光谱法测定痕量铀。在0.01 mol/L硝酸介质中,使用500μg Fe和10%（质量分数）的DDTC将铀沉淀转移到滤纸片上制成薄样,采用X射线荧光法测量,以银靶散射线作内标校正基体效应和仪器的漂移等,在0.1~2.0 mg/L铀溶液范围内线性良好,线性相关系数为0.9994。铀的检出限为0.04 mg/L,比溶液法X射线荧光分析的检出限降低约一个数量级。     

波长色散X荧光法同时测定铀和锆

在乏燃料后处理Purex流程中，锆浓度的准确测定对控制界面污物产生、保证工艺流程运行等具有重要意义。本工作研究建立了一套同时测定铀和锆浓度的波长色散X荧光法，用于分析工艺溶液中的有机相或水相，不用预分离，可同时测定铀锆两种元素的浓度。     

X射线荧光能谱法直接测定特殊有机相样品中的U、Zr

我国后处理厂产生的放射性有机废物长期存放后已变为粘稠胶状物。胶状物经初步处理,分为水相和有机相。利用石墨晶体预衍射X射线荧光仪,建立了测定处理后水相和有机相中U、Zr的分析方法。水相体系主要含有U、Zr等元素,但个别样品中Zr的含量很高,采用Ag散射内标法已不能校正Zr对     

24 石墨晶体预衍射X射线荧光法测定高放废液中的铀

石墨晶体预衍射EDXRF是自行研制组装的一台专用仪器，适用于高放废液中部分锕系元素及裂变产物的直接测量。样品与探测器之间的石墨晶体衍射器能有效阻挡样品本身的放射线及原级散射线，大大降低了锕系元素的检出限。在完成样品测量的同时，仪器性能也得到了考验。     

封闭式石墨晶体预衍射X射线荧光装置在钚纯化过程中的应用

在Pu纯化过程研究中，需严格控制Pu的回收率，尾液中Pu的浓度控制在几μg／mL水平。为测定尾液中的Pu浓度，研究建立了一套封闭式石墨晶体预衍射XRF装置。