半导体后段制造自动化

越来越多的半导体厂商开始考虑在半导体后段生产中采用自动化控制，目前还没有开发出非常成功的技术能够满足变化多端的后段工厂。本文介绍了半导体制造自动化的概况，分析了半导体制造自动化的需求，进而提出了一种基于SECS／GEM标准接口的半导体制造全自动化生产线解决方案。所有设备全部都通过使用SECS标准接口连接到单元控制器及更高级别的MES和工厂计划信息系统，系统除了能完成通常的设备监视和控制、数据搜集、配方管理等功能外，还实现了单一元件追踪，具有Stripmap管理，缺陷管理及多芯片管理等功能。半导体厂商通过实施全自动化改善了生产力，同时减少生产周期和场地占用率，并通过最小化人工操作和过程的连贯性带来质量和可靠性的提升．     

UML statecharts的测试用例生成方法

测试用例生成是软件测试的关键。根据UML statecharts的层次和并发结构,研究相应的测试用例产生方法。它视复合状态为抽象状态,分别构造主UML statecharts和复合状态所对应的子UML statecharts的测试基,并依据一定的合成规则和Wp－方法生成整个UML statecharts的测试用例。这种方法能够支持递增式测试用例的生成。理论和实验结果说明,如果满足测试条件,它们保证全故障覆盖,且产生较好的测试用例。这种改进对大型复杂系统尤其有效,也便于构造自动测试工具。     

基于工作流的软件过程开发平台的研究*

首先介绍了传统软件过程中人为因素的影响,并给出了减少这种影响的解决方法：在工作流与软件过程相结合的基础上集成软件过程开发平台SPDET（Software Process Develop Environment Tool）。然后详细的讨论了SPDET的几个重要的组成部分,并给出了SPDET的设计和实现。     

PKI的使用脆弱性及对策

PKI是目前唯一可行的大规模网络认证解决方案，但也存在一些使用方面的脆弱性，本文介绍了PKI的主要安全隐患，指出了解决用户端问题、CRL问题，用户信息可信性问题的有效手段。     

基于WCET分析的实时系统轨迹获取技术

时序约束是判断实时系统运行是否正确的重要规约.为了减小测试时由于对系统进行插装而产生的对实时系统行为的影响,提出了一种混合式监控方法.它对系统的时间干扰比纯软件方式小,并支持对系统的完全测试.此外,还提出一种基于WCET(worst-case execution time)分析技术的目标系统时间补偿方法,在精确地计算插入断言对目标系统的时间影响基础上,给出时间补偿.     

基于使用模型的统计测试方法的研究

介绍了基于使用模型的统计测试方法，论述了使用模型的概念和特点，以及从使用模型中可以计算出的静态参数和它们在统计测试和软件开发中所起的作用，还具体阐述了怎样通过使用模型生成测试用例，同时根据测试充分性理论讨论了统计测试中测试充分性的度量方法，最后简要介绍了自行开发的统计测试辅助工具STToolkit。     

面向路径的测试数据自动生成工具及其图形界面的Tcl/Tk设计

面向路径的测试数据生成问题是软件测试中一个基本问题。文章介绍了自主开发的面向路径的测试数据自动生成工具。Tcl/Tk是一种图形界面设计工具,其功能强大,可运行于Windows,UNIX等操作系统上,具有良好的可移植性。文章简要介绍Tcl/Tk,并给出用Tcl/Tk设计面向路径的测试数据自动生成工具的图形界面的方法。     

面向路径的测试数据自动生成工具的设计与实现

面向路径的测试数据生成问题是软件测试中的一个基本问题。Gupta等提出一种线性化谓词函数的迭代松驰方法求解该问题。文献[2]改进了该方法，证明改进后的方法与原方法生成的约束系统相同，文章以改进后的方法为核心算法，根据软件工程的思想，采用面向对象的方法，使用UML进行设计，并且在Linux Red Hat7.0操作系统下用C＋＋语言言实现一个为程序路径自动生成测试数据的原型工具，然后将它移植到Windows操作系统。     

UML Statecharts的切片模型检验方法

统一建模语言UML已被广泛应用于软件设计和开发中,而验证UML模型是否满足关键的性质需求成为一个重要问题.由于空间爆炸和语义的复杂性,对Statecharts进行模型检验受到软件规模和设计精化程度的制约.本文在用扩展层次自动机(EHA)结构化的表示UML Statecharts后,通过分析EHA中存在的层次、并发和事件同步等特征定义了一组依赖关系.对于由状态和迁移组成的切片准则,给出对EHA进行切片的算法.该算法能保证切片后的EHA与原来的Statecharts对性质具有相同的可满足性,且删除了与被验证性质无关的层次和并发状态,缓解了空间爆炸问题.     

软件分析技术进展

软件分析技术的研究已有较长历史,相关成果也在软件生命周期的不同阶段中得到了广泛应用.软件生命周期中不同活动所需要的软件分析技术既不完全相同,又有许多交叠,且不同的分析技术之间互相影响.文章在讨论了软件分析的基本概念之后,主要从静态分析与动态分析两个方面介绍了一些主要的软件分析技术以及部分相关分析工具.结合软件的质量问题,文章还探讨了一些分析技术与软件质量属性的相关性,以便于人们在分析特定的软件质量属性时,选取合适的技术与工具.最后,文章展望了软件分析技术的发展趋势.