Aqilent混合信号测试解决方案——ADC的测试

1前言 模拟/数字信号转换器(ADC)和数字/模拟转换器(DAC)是两种基本的电子应用模块,用于实现模拟和数字信号之间的转换.作为独立器件或者集成到各种混合信号芯片中,广泛的应用于各种电子产品.因此,在对这些混合信号芯片进行测试的时候就要对其中集成的ADC/DAC的性能设计相应的测试方案.     

基于过零点检测的高分辨率DAC静态测试方法研究

受到现有测试设备的限制,高精度的D/A转换器(数模转换器)测试一直是混合信号测试中的难点,本文探讨了高精度数模转换器(DAC)测试的一种新方法.该方法通过在微弱被测电平上叠加参考正弦波,测试叠加后波形的过零点在时域上的分布情况,以了解DAC的静态特性参数.该方法的优点在于充分利用了现有ADC(模数转换器)的速度优势,原...     

用于WLAN（802．11b）基带处理器芯片组的高速ADC及DAC的测试

随着通讯和电子技术的发展，用于通讯接口的模拟芯片的采样频率也越来越高，测试难度也相应大大增加。ADVANTEST使用高速混合信号测试系统对其进行评价。本文以用于WLAN(802，11b)基带处理器芯片组的高速ADC及DAC为例，详细介绍了其具体测试过程，对具体测试时所用方法及所用部件WVFG/WVFD进行了说明。而WVFG/WFVD作为高速混合信号测试部件，其测试能力最高可达250MHz采样频率，解决了高速ADC/DAC测试(尤其是AC参数测试)的难题，完全可以满足当前高速混合信号芯片的测试。     

基于V93000的SoC中端口非测试复用的ADC和DAC IP核性能测试方案

 SoC(System-on-a-Chip)芯片设计中,由于芯片测试引脚数目的限制以及基于芯片性能的考虑,通常有一些端口不能进行测试复用的IP(Intellectual Property)核将不可避免地被集成在SoC芯片当中.对于端口非测试复用IP核,由于其端口不能被直接连接到ATE(Automatic Test Equipment)设备的测试通道上,由此,对端口非测试复用IP核的测试将是对SoC芯片进行测试的一个重要挑战.在本文当中,我们分别提出了一种基于V93000测试仪对端口非测试复用ADC(Analog-to-Digital Converter)以及DAC(Digital-to-Analog Converter)IP核的性能参数测试方法.对于端口非测试复用ADC和DAC IP核,首先分别为他们开发测试程序并利用V93000通过SoC芯片的EMIF(External Memory Interface)总线对其进行配置.在对ADC和DAC IP 核进行配置以后,就可以通过V93000捕获ADC IP 核采样得到的数字代码以及通过V93000 采样DAC IP 核转换得到的模拟电压值,并由此计算ADC以及DAC IP 核的性能参数.实验结果表明,本文分别提出的针对端口非测试复用ADC以及DAC IP 核测试方案非常有效.     

TI新一代16位DAC刷新采样率记录

今天,数据转换器(DAC)在工业、通信、多媒体、医疗、航天与国防领域有着广泛的应用。随着信号带宽流量的要求越来越高,比如用手机上网,对DAC数字和模拟之间的接口速率有了更高的要求。在实际应用过程中,数据转换器可能不再是单纯的DAC,芯片内部已经集成了很多数字处理功能,比如内插。DAC内部集成的内插功能,可确保低输入速率经过ADC内部的内插处理后速率得到有效提升,降     

AGILENT的混合信号测试解决方案

1 前言 具有混合信号功能的芯片正越来越多地出现在人们的生活中.通讯领域的MODEM、CODEC和飞速发展的手机芯片,视频处理器领域的MPEG、DVD芯片,带有内嵌的ADC或DAC的微控制器芯片,以及各种DSP、图象处理器、网络转换器和磁盘驱动器芯片,都属于这一类.     

美高森美公司2011年展望

在过去一年,美高森美公司SoC产品部门推出了创新的SmartFusion智能混合信号FPGA产品。SmartFusion是具有处理功能的系统级芯片,集成有ARM Cortex-M3嵌入式微控制器,带有模数转换器(ADC)、比较器、电压/电流/温度传感器、数模转换器(DAC)的可编程模拟资源,以及模拟计算引擎     

一种用于高精度ADC片上测试的信号发生器

随着模/数转换器（ADC）性能的提高,如何用最有效的方法对ADC进行准确而快捷的测试,成为当今研究的热点问题。提出了一种应用于高精度ADC片上测试的高精度高线性度模拟三角波信号发生器。该信号发生器由方波积分器和迟滞比较器反馈控制电路组成,可为精度高达14 b的模/数转换器的静态特性测试提供足够精度的片上测试激励。仿真结果表明,该信号发生器所生成的三角波电压范围为82 mV~1.719 V,周期为366 μs,INL小于24 μV,等效精度达到16 b以上,具有非常高的线性度,并且可根据所需要的周期和幅度进行方便而有效的调整。     

信号发生器满足数字RF基带和IF测试需求

作为一项将数字计算技术与传统模拟射频技术整合到一起的技术,"数字RF"是推动新型无线应用发展的主要驱动力.特别是随着数字RF性能不断提高,信号速度和复杂性也在不断提升.因此,突发、跳频和瞬态现象也使验证和调试工作变得非常困难.由于需要在一台设备中融合数字和模拟信号处理技术,如模数转换器(ADC)、数模转换器(DAC)和RF等功能,数字RF的应用也带来了特殊的测试要求.     

采集速率1GS／s的ADC

接收机设计人员一直盼望实现全数字结构的那一天,那时天线将能直接把信号馈送到模拟—数字转换器(DAC)上。随着Maxim集成产品公司MAX104 ADC的推出,这一天看来为时不远了。这种单片转换器具有1GS/s的采样速度和8位分辨力,给高频、大带宽数字通信接收机、数字示波器和高速数据采集(DAQ)系统创立了新的性能标准。它支持高于2.2GHz带宽的信号变换,并解决了这些设备应用所特有的很多苛刻的动态性能要求。     

用于BAN的自校准SAR ADC设计

基于SMIC 0.18 μm CMOS混合信号工艺,设计了一种适用于体局域网(BAN)的自校准逐次逼近型模数转换器(SAR ADC)。基于BAN系统的特点,设计的SAR ADC采用阻容混合型主数模转换器(DAC)及电容型校准DAC等结构。采用误差自校准技术来校准SAR ADC的阻容混合型主DAC的高5位电容失配误差,有效降低了SAR ADC非线性误差。仿真结果表明,自校准SAR ADC获得了±0.3 LSB微分非线性、±1 LSB积分非线性、82.2 dB信噪比等性能特性。设计的SAR ADC具有良好的性能,适合于BAN系统。     

视频放大器/滤波器的模拟要求和实施

模拟滤波 为什么模拟视频要使用过滤技术呢?如前所述,将模拟视频信号与数字视频信号相互转换是很常见的.对显示器和DVD刻录机等接收设备来说,这就需要使用模数转换器(ADC).对机顶盒和DVD播放器来说,就需要使用数模转换器(DAC).ADC和DAC提供的画质都取决于采样频率.     

数字RF测试进入新时代

数字信号处理技术(DSP)及模数转换器(ADC)和数模转换器(DAC)技术的发展,已经帮助创造出一种新型数字RF系统,这些系统构成了下一代通信网络的基础.     

SOC混合信号测试难题的解决策略

缺乏可控制性和可观察性是SOC嵌入式内核测试电路最难解决的问题.本文提出在SOC嵌入式内核测试电路中引入DFT和BIST方法.介绍了IEEE1149.4混合信号测试总线及其应用特点,讨论运用重配置的DFT方法和测试点插入的DFT方法来增强混合信号系统的可控制性和可观察性.阐述ADC/DAC与PLL两种电路的BIST技术在SOC嵌入式内核测试的应用.为解决SOC混合信号测试难题提供一种有效的方法.     

微电子所成功研制出4GS/s 8位ADC和3GS/s 12位DAC芯片

近日,中科院微电子所微波器件与集成电路研究室(四室)超高速数模混合电路研发团队在超高速模数/数模转换器(ADC/DAC)、直接数字频率合成器(DDS)相关芯片研制上取得重要进展,成功研制出多款高性能芯片。研制成功的芯片包括:4GS/s8位ADC,该芯片由两路ADC交织而成,每路集成宽带采样保持电路并采用优化的折叠内插结构实现。芯片内部集成SPI编程接口,可以有效校准两     

基于输出迭代法的A/D转换器测试数据分析

介绍了一种将模拟/数字转换器(ADC)的采样输出按照正弦输入信号的周期进行迭代的数据处理方法,可以评估输入噪声和时钟抖动对动态性能测试结果的影响。同时,通过分析迭代后的信号波形,可以发现高频输入信号在ADC转换过程中存在的畸变、非单调、失码、跳码、失真等现象,而这些现象很难从输出数据中直接观察到。这种分析对ADC的设计具有重要的指导意义。实验结果表明,这种方法是实用有效的。     

基于FPGA的高性能DAC芯片测试与研究

介绍了一种基于现场可编程门阵列（FPGA,field programmable gate array）的高性能数模转换器（DAC,digital to analog converter）性能参数的回路测试方法。以FPGA、DAC和模数转换器（ADC,analog to digital converter）等元器件为硬件测试平台,将待测数字信号转换成模拟信号再转换成数字信号,经过Matlab计算和分析后得到DAC芯片的静态特性参数和动态特性参数。其中失调误差为0.036%,增益误差为3.63%,信号噪声比为58 dB,信号噪声及失真比为57.75 dB,无杂散动态范围为62.84 dB,有效位数为9.3。测试结果表明：测试方法通用性好,精确度高,成本低。     

新品发布——信号转换器

内插式数模转换器，针对功放线性化的ADC，具有I^2C接口的DAC，500MSPS双通道DAC     

SoC测试的发展趋势及挑战--安捷伦科技93000 SoC测试系统的解决方案

1前言随着半导体科技的进步,我们已经可以把越来越多的电路设计在同一个芯片中,这里面可能包含有中央处理器(CPU)、嵌入式内存(Embeddedmemory)、数字信号处理器(DSP)、数字功能模块(Digitalfunction)、模拟功能模块(Analogfunction)、模拟数字转换器(ADC,DAC)以及各种外围配置(USB,MPEG,…)等等,这就是我们所说的SoC(系统单芯片)技术。目前,很多具有中央处理器功能的消费性电子产品,如视频转换器(Set-topbox)、移动电话(mobilephones)和个人数字助理(PDA)等等,都可称之为SoC芯片。这类产品不仅在市场上占有重要地位,且其销售量…     

一种电容阵列结构的10位8通道1MS/s逐次逼近AD转换器

设计了一种用于多电源SoC的10位8通道1MS/s逐次逼近结构AD转换器。为提高ADC精度,DAC采用改进的分段电容阵列结构。为降低功耗,比较器使用了反相器阈值电压量化器,在模拟输入信号的量化过程中减少静态功耗产生。电平转换器将低电压数字逻辑信号提升为高电平模拟信号。采用UMC 55nm 1P6M数字CMOS工艺上流片验证设计。测试结果表明,当采样频率为1 MS/s、输入信号频率为10 kHz正弦信号情况下,该ADC模块在3.3 V模拟电源电压和1.0 V数字电源电压下,具有最大微分非线性为0.5LSB,最大积分非线性为1LSB。测得的SFDR为75 dB,有效分辨率ENOB为9.27位。