多功能X射线衍射仪的由来与发展(上)

简要叙述了自X射线衍射发现以来近百年中X射线衍射仪的发展情况,大致可以划分为四个阶段:①早期的照相机阶段,特点是以照相底片做探测记录器,底片可同时记录许多衍射线,测角器构造简单;②中期的衍射仪阶段,特点是用计数器做探测器,大大提高了衍射强度的测量准确性,但要逐个记录衍射线,测角器构造复杂,电子技术的应用提高了此阶段仪器的自动化程度;③近代的电子计算机衍射仪阶段,特点是现代计算机与X射线衍射仪的结合,提高了衍射仪的自动化程度和检验能力,并增加了数据分析能力,大大促进了X射线衍射术的发展;④现代的多功能衍射仪阶段,现代科学技术的高速发展对X射线检验提出了新的要求,发展出一些新的X射线技术,如小角散射、薄膜衍射、反射率测定和微区分析等,把多种不同功能集为一体的多功能X射线衍射仪就此诞生。     

同步辐射的基本知识：第二讲同步辐射中的衍射术及其应用（二）

2六圆衍射仪、劳厄法和单晶样品的结构测定 2．1 X射线单晶六圆衍射仪在同步辐射X射线单晶衍射中一般使用六圆衍射仪,见图9所示。如德国Huber公司的5020六圆衍射仪。     

短波长X射线衍射无损测定铝板内部残余应力

利用重金属靶短波长特征X射线WKα1对轻质材料的强穿透性,自主研发了1台用于工件内部晶体物质衍射分析的短波长X射线衍射仪(SWXRD).介绍了短波长X射线衍射仪无损测定工件内部应力的原理和方法,在国内首次无损地测定了30 mm厚7075铝合金淬火板内部残余应力及其分布,并与中子衍射和高能同步辐射的短波长X射线衍射测定内...     

X射线粉末衍射仪

1 引言 X射线粉末衍射仪的英文名称是X-ray powder diffrac-tometer简写为XPD或XRD。有时会把它叫做X射线多晶体衍射仪,英文名称为X-ray polycrystalline diffractometer简写仍为XPD或XRD。 本系列讲座曾介绍过X射线单晶体衍射仪。两者的区别在单晶体衍射仪分析的样品是一粒单晶体,任务是用来解析单晶体的结构。而用粉末衍射仪分析的样品是粉末,也即是一堆微小单晶的聚集体或称多晶体,其任务主要是用来分析多晶体聚集体的聚集态结构。此技术早在1916年即以建立,至今已有近90年的历史,不仅其应用面     

水热还原法制备Ag@C壳核纳米结构及其表征

以棉花纤维制备的纤维素微晶为碳源,采用水热还原法制备了Ag@C壳核结构纳米颗粒,并用扫描电子显微镜、投射电子显微镜、X射线能谱仪、X射线衍射仪对产品进行表征,结果表明,所得产品为Ag@C核／壳结构纳米颗粒,外壳是碳层,内核为纳米银颗粒。最佳的制备条件是,180％反应15h,pH=1-2,纤维素微晶的浓度为0．083g／L。讨论了碳包银核／壳结构的生长机理,     

使用X射线衍射技术区分鉴定银行单据纸

探究了X射线衍射技术在法庭科学纸张区分鉴定方面的应用,首先通过平行试验确定了利用X射线衍射技术区分鉴定纸张的系列指标,然后使用X射线衍射仪对从全国各地收集的68种不同的中国银行单据纸张进行了测试,通过确定的区分鉴定指标对纸张进行了分类。结果表明:使用X射线衍射仪区分鉴定纸张的指标主要有衍射图谱、晶面间距和衍射峰相对强度等,根据这些指标成功地将试验的68种不同银行单据纸张分为了9类,实现了对纸张的快速无损鉴定。     

晶体取向测量的计算公式及其图解法

为了便于测量和计算,通过系统X射线衍射实验研究和理论分析,改进了X射线衍射透射及反射几何关系图,推导出定量计算公式,并创立了晶体取向测量图形。使用这种定量计算公式及图形可以非常简便、迅速而又准确地得到晶体取向的反射衍射斑点θR和透射衍射斑点θT。为了便于精确测量和更有效地利用高级测试仪器,在X射线衍射仪日常工作的同时,使用原有线焦点等实验方法进行了累计X射线衍射斑点拍照研究。结果表明,用射线源线焦点拍照的精确度与点焦点相同,操作方便,并可大大缩短调机和开机时间,充分发挥了X射线衍射仪的作用。     

X射线衍射仪微机化升级改造的讨论与实践

介绍一种旧型号的X射线衍射仪微机化的升级改造技术以及相应的数据采集与分析系统（XRDS）。该系统将采集的衍射数据以文件形式存盘，并对该数据文件进行分析处理。结果可用图谱显示、打印、生成峰数据表、或扫描数据表等多种形式输出。原仪器记录系统仍可独立工作。系统结构简单，能充分利用仪器的机械精度，改造工作只需连接几对信号线便可完成，价格低廉，适用于任何旧型号的X射线衍射仪。     

TC11微弧氧化膜制备及其结构性能研究

在Na2SiO3-Na2WO4-NaOH混合电解液中,利用微孤氧化(MAO)技术在TC11合金表面制备了氧化膜.用扫描电镜(SEM),X射线能谱仪(EDS),X射线衍射仪(XRD)对氧化膜微观结构、化学成分、厚度以及相组成进行了分析,采用HVS-1000维氏显微硬度计、MFT-4000划痕试验机、电化学测量系统完成氧化...     

不同磷源制备的镁合金微弧氧化生物陶瓷膜的性能比较

镁合金较差的静蚀性、耐磨性限制了其在生物医学方面的应用。为此,采用微弧氧化技术在AZ31B镁合金表面生成了富含钙、磷的生物陶瓷膜,采用扫描电镜（SEM）、X射线衍射仪（XRD）、X射线荧光光谱仪（XRF）、涂层测厚仪及电化学工作站测试了陶瓷膜的表面形貌、相组成、钙磷原子比、膜厚以及耐蚀性,探讨了电解液中5种磷源对陶瓷膜...     

超细TiO2水解法研究(Ⅶ)棗促进TiO2金红石化之新方法

报道了两种促进超细TiO2粒子金红石化的新方法－微波加热水解法和添加剂法。用X射线衍射仪和TEM对样品进行了分析，在不引入任何金属离子、不烧结的前提下显著地提高了产品金红石的含量。     

Pb(Zr,Ti)O3薄膜微区残余应力的X射线面探扫描分析

根据在X射线二维衍射几何关系下建立的应力应变方程,提出了一种基于X射线多晶面探衍射仪系统分析射频磁控溅射制备的Pb(Zr,Ti)O3薄膜微区残余应力的测量方法,即通过基于X射线衍射圆锥形变的分析来表征薄膜的残余应力,试验结果表明薄膜所受为残余拉应力,同时利用X射线面探扫描方法评价了薄膜的残余应力分布.     

晶体材料内部残余应力衍射法无损检测的研究进展

目前能够准确、无损地测试材料内部残余应力的手段主要是中子衍射和同步辐射,但这两种测试手段需要核反应堆或高能同步辐射源,投资巨大,只为少数发达国家的少数实验室所拥有,难以应用到实际生产中。短波长X射线衍射仪通过钨靶-K_α特征射线(波长约0.02 nm)以及独特的谱接收方式,达到或接近同步辐射及中子衍射对晶体材料内部晶格应变的无损定点测试,为内部残余应力无损检测的广泛应用开辟了一条新的渠道。介绍了中子衍射和同步辐射对残余应力测试的国内外研究现状,重点展示了短波长X射线衍射仪用于内部应力测试的结果,并就三种测试方法特点进行了对比分析。     

室温水溶液法制备银花状球及其光学特性

利用水溶液法，以柠檬酸和表面活性剂聚乙烯吡咯烷酮（PVP）为辅助，在室温环境中反应2h成功合成了Ag花状球。用粉末X射线衍射仪（XRD）、X射线能谱仪（EDX）、场发射扫描电子显微镜（FEsEM）以及紫外-可见分光光度计（UV-Vis）等手段对产物进行了表征。研究表明，产物结晶性良好，产率高，形貌规整且粒径分布均匀，花...     

金属离子(Ni2+和Cd2+)掺杂的竹节型钛酸钠纳米线的制备与表征

以钛酸丁酯为钛源,在强碱条件下用水热法分别制备了Ni2+和Cd2+离子掺杂的竹节型钛酸钠纳米线,并用X射线粉末衍射仪(XRD)、扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)、高分辨透射电镜(HRTEM)、选区电子衍射仪(SAED)以及X射线能谱仪(EDS)进行了相应表征.实验结果表明:生成的钛酸钠纳米线具有特殊的竹节型异质结构,直径分布在50～100nm.     

磁控溅射法制备Mo/B4C软X射线多层膜

用DC和RF磁控溅射法制备出了波长小于 10nm波段的Mo/B4 C软X射线多层膜反射镜。掠入射X射线衍射仪的测量结果表明 ,磁控溅射法有很高的控制精度 ,制备出的Mo/B4 C软X射线多层膜周期结构非常好 ,表 (界 )面粗糙度非常小 ,约为 0 4nm。     

X射线反射法测量铋系超导薄膜的结构参数

以铋系超导薄膜材料为例,应用X射线反射法测量薄膜材料的厚度以及粗糙度等结构参数,对测量方法的原理、衍射仪的调试和步骤等进行了详细的说明。这一方法为薄膜材料结构参数的测量提供了新途径。     

闪光X射线技术在兵器测试中的应用

本文介绍了闪光X射线技术在兵器测试中的应用。介绍了瑞典Scandiflash AB公司产品的性能、特点以及应用闪光X射线技术中应注意的几个问题。     

X-射线衍射仪记录仪集成电路改装

本文主要叙述Y—2A型X射线衍射仪记录仪有关的定标器、计数器、定时电路、控制电路等单元由分立元件改装为集成电路的设计。     

粉末化妆品中石棉的测定

建立了一种X射线衍射仪-偏光显微镜联用对粉末化妆品中石棉进行测定的方法,通过对粉末化妆品中石棉衍射特征峰和结构形貌的分析,可定性判断是否有石棉存在,该定性分析方法可以快速有效地完成大批量样品石棉的定性检测;使用X射线衍射仪采用异丙醇作为分散剂结合基底标准吸收校正法可以实现定量分析,该定量分析法具有很好的线性关系和较高的回收率,能够快速、准确地完成粉末化妆品中石棉含量的测定。