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低温烧结PMZN陶瓷老化行为的初步研究 总被引:3,自引:1,他引:3
镁、锰同时掺杂的PMN-PZN-PT低烧陶瓷表现出明显的介电老化现象,恒温老化时,材料室温的介电常数及介电损耗随时间延长而下降,在室温下老化约100h后介电性能基本稳定。老化过程中的一定时间范围内,介电常数或电容变化率与老化时间的对数值呈线性关系。材料老化的程度与老化温度密切相关。 相似文献
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