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Ni-W-B composites containing CeO2 nano-particles on the surface of 45 steel were prepared by pulse electrodeposition,and the in-fluence of pulse frequency,pulse duty circle and heat treatment temperature on the structures and properties were investigated.The results in-dicated that the pulse co-deposition of Ni,W,B and CeO2 nano-particles led to Ni-W-B/CeO2 composites possessing higher microhardness and better wear resistance when heat-treated at 400 oC for 1 h.The microhardness of 636 HV and the deposition rate of 0.0281 mm/h of the as-deposited alloy were the highest at pulse frequency of 1000 Hz,pulse duty circle of 10% and pulse average current density of 10 A/dm2.The composites were mainly in the amorphous state and were partially crystallized as-deposited,and the crystallization trend was strength-ened when heat-treated at 400 oC.Decreasing pulse duty cycle from 75% to 10% was favorable to the refinement in grain structures and im-provement of microstructures.The crystal sizes of the composites were smaller by means of pulse electrodeposition. 相似文献
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采用分子束外延(MBE)技术在单晶蓝宝石衬底上生长了高质量化学计量比二氧化钒(VO2)薄膜, 通过该技术实现薄膜厚度15~60 nm精确控制。对于优化条件下VO2薄膜, 实现了电阻率变化超过4个数量级的优异金属-绝缘体相变, 近似于之前报道高质量单晶VO2相变特性。特别是通过太赫兹时域光谱分析了不同厚度的VO2薄膜在太赫兹波段的光学特性。结果表明: VO2薄膜的厚度对其在太赫兹波段的光学特性有很大影响。因此, 为了获得更优的可靠性和重复性能, VO2薄膜的厚度必须得到精确控制。本研究结果对于下一步VO2基太赫兹器件研究具有重要意义。 相似文献
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用溶胶-凝胶工艺在涂覆两层ZrO2中间层的堇青石多孔陶瓷管上制备TiO2超滤膜。通过X射线衍射、扫描电子显微镜、孔隙度分析仪及原子力显微镜分析膜材料的形貌、厚度和孔隙率与结构。结果表明:所制备的各层膜结构完整、厚度合适且孔径分布均匀呈阶梯式递减;主晶相为锐钛矿的TiO2超滤膜,厚度为50nm,最可几孔径为15nm左右。对薄膜的渗透性能测试结果表明:所制样品对纯水的平均渗透率为131.6L/(h·m2·MPa),0.2MPa工作压力下对分子量580000右旋糖苷的截留率为94.76%。 相似文献
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本研究成功地在石墨衬底上制备了低维ZnO材料,即一维的ZnO纳米棒和二维的ZnO薄膜。采用X射线衍射、场发射扫描电镜、光致发光谱和反射谱等测量技术对石墨衬底上制备的低维ZnO纳米材料的晶体结构、形貌和光学特性进行了表征。结果发现在室温条件下,准一维的ZnO纳米棒和二维的ZnO薄膜都表现出了较好的近带边发射,基本探测不到由杂质和缺陷等引起的深能级发光,并且这种低维ZnO材料/石墨衬底复合结构在300~800 nm光谱范围内具有较低的反射率。本实验结果对于ZnO基光电子器件性能的提高以及在太阳能电池领域的应用具有重要意义。 相似文献
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射频反应溅射氧化铌薄膜的电致变色性能研究 总被引:1,自引:0,他引:1
采用射频反应溅射法成功地制备了非晶态氧化铌薄膜,研究了它们的电致变色性能.这些薄膜在漂白态透明无色,而着色态则为灰褐色.循环伏安测试结果表明该薄膜具有良好的稳定性和很好的锂离子注入/抽出性能.550nm处的着色效率为16.68cm2/C,在可见光区透过率调制幅度为20%~30%.结合X光电子能谱(XPS)分析可以认为氧化铌薄膜的电致变色现象是由于锂离子和电子的共同注入与抽出,导致薄膜中的铌离子发生NbV和NbIV间的可逆氧化、还原反应引起的. 相似文献
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