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相似文献
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1.
文中通过求解薛定谔方程得到抛物型形量子阱的变换矩阵与透射系数。利用这一结果计算透射系数可以达到任意高的精度,最后,讨论了结构变化对抛物型量子阱的共振隧穿的影响。  相似文献   

2.
半导体技术     
TN301 97010351多t子阱系统结构变化对电子共振隧穿的影响/李存志,刘云腆,罗恩泽,梁昌洪洒安电子科技大学)11电子科技一19%,(4)一41~45 文中通过求解薛定谬方程得到由N个矩形势垒构成的量子系统的变换矩阵和电子透射系数的精确解,研究了多量子阱系统结构变化对电子共振隧穿的影  相似文献   

3.
电子隧穿问题的数值算法   总被引:2,自引:0,他引:2  
文中给出了计算电子隧穿问题的一种新的数值方法,该方法适用于任意形状的一维势垒。在该算法中,首先用Numerov算法注解薛定谔方程,然后再利用所得结果计算电子透射系数,为检测算法的精度,计算了电子对矩形双势垒及三角形势垒的透射系数,并与相应的精确解做了比较,结果表明该方法具有很高的精度。  相似文献   

4.
基于龙格-库塔算法求解薛定谔方程,并对获得的数值结果进行分析得出精确的量子隧穿几率.通过适当的处理,该方法适用于任意势垒的情形.利用该方法计算了多种结构的隧穿几率,如抛物线型势垒及双势垒,获得了高精度的隧穿几率.同时计算了MOS结构的隧穿电流密度,结果与Fowler-Nordheim隧穿完全吻合,表明了该方法的适用性.  相似文献   

5.
基于龙格-库塔算法求解薛定谔方程,并对获得的数值结果进行分析得出精确的量子隧穿几率.通过适当的处理,该方法适用于任意势垒的情形.利用该方法计算了多种结构的隧穿几率,如抛物线型势垒及双势垒,获得了高精度的隧穿几率.同时计算了MOS结构的隧穿电流密度,结果与Fowler-Nordheim隧穿完全吻合,表明了该方法的适用性.  相似文献   

6.
共振隧穿是电子的隧穿概率在某一个能量值附近以尖锐的峰值形式出现的隧穿,是目前为止最有希望应用到实际电路和系统的量子器件之一,其特点是器件的响应速度非常快。本文用传递矩阵的方法分别计算了在外加偏压下,对称双势垒、三势垒应变量子阱结构的透射系数与入射电子能量和隧穿电流与偏置电压的关系,模拟了应变多量子阱结构的隧穿系数和I-V特性曲线。计算得到隧穿电流峰值位置与实验测试值符合得很好,对于设计共振隧穿二极管并为进一步实验提供理论指导具有重要的意义。  相似文献   

7.
文中通过求解薛定谔方程得到由N个矩形势垒构成的量子系统的变换矩阵和电子透射系数的精确解,研究了多量子阱系统结构变化对电子共振隧穿的影响。  相似文献   

8.
赵瑞娟  安盼龙  许丽萍  杨艳 《半导体光电》2012,33(4):540-543,599
非对称多势垒可获得比双势垒更大的共振隧穿电流及更良好的峰谷比。通过分析单电子对任意势垒透射的理论模型,建立了任意非对称三势垒模型,研究了不同偏压和温度对透射系数的影响,并得出结论,为进一步设计非对称量子器件提供理论指导。  相似文献   

9.
张虹霞  唐祯安 《微电子学》2004,34(3):261-264
文章对电子透射几率问题进行了数值求解,这种方法能够处理形状复杂的一维势垒。首先利用龙格一库塔法和Numerov方法,联立求解薛定谔方程,然后利用得到的结果计算电子的透射几率,并考虑了计算误差的影响和减小方法。将该方法得到的数值解与精确值进行了比较,并用此方法考虑了不同双势垒结构中的共振隧穿问题。  相似文献   

10.
采用转移矩阵和数值计算相结合的方法求解含时Schrodinger方程,计算了电子在双势垒结构中的构建时间和隧穿寿命.结果表明:构建时间和隧穿寿命对于描述电子隧穿时间特性同等重要.通过研究隧穿时间对结构参数的依赖情况发现,隧穿寿命随阱宽和垒厚的增加而迅速增大.  相似文献   

11.
采用转移矩阵和数值计算相结合的方法求解含时Schrodinger方程,计算了电子在双势垒结构中的构建时间和隧穿寿命.结果表明:构建时间和隧穿寿命对于描述电子隧穿时间特性同等重要.通过研究隧穿时间对结构参数的依赖情况发现,隧穿寿命随阱宽和垒厚的增加而迅速增大.  相似文献   

12.
用稳态光致发光研究了偏压下的GaAs/Ga_(0.65)Al_(0.35)As/GaAs非对称耦合双阱(ADQW)结构中电子的隧穿现象。清楚地观察到电子从窄阱到宽阱的共振隧穿和LO声子辅助隧穿效应,而且证明来自于GaAlAs势垒层中的类AlAs模式声子在LO声子辅助隧穿过程中占据主导地位。  相似文献   

13.
提出了一种精确求解隧穿电流的模型。通过自洽求解一维薛定谔方程和泊松方程,得到NMOS器件的半导体表面电势分布、反型层二维电子气的量子化能级以及对应的载流子浓度分布。为计算隧穿电流,采用了多步势垒逼近方法计算栅氧化物势垒层的隧穿几率,从而避免了WKB方法在突变边界处波函数不连续带来的缺陷。通过考虑(100)Si衬底的导带多能谷效应和栅极多晶硅耗尽效应,讨论了不同栅氧化层厚度下隧穿电流与栅压的依赖关系。模拟结果与实验数据吻合。  相似文献   

14.
首先介绍了共振隧穿理论和一种新效应--介观压阻效应,对AlxGa1-xAs/GaAl/AlxGa1-xAs共振隧穿双势垒结构的轴向施加压应变作了分析,然后计算了轴向应变对垒宽和垒高的影响,对透射系数和隧穿电流用Matlab作了仿真.发现压应变可以使隧穿电流线性增加,偏压不同电流增加的速率也不同,为设计共振隧穿器件提供了理论依据.  相似文献   

15.
文中以探索多势垒结构的电子隧穿物理及其器件结构与性能为出发点,论述了多势垒结构隧穿现象的研究与进展。概述了一维半导体异质结构隧穿现象的解析解和数值计算。重点介绍了电子通过半导体双势垒结构产生隧穿现象的研究进展,即电子通过双势垒结构横纵波矢的耦合行为与共振准能级及共振准能级寿命的解析计算。  相似文献   

16.
本文对双垒二极管中的电子隧穿作了数值分析。引入隧穿矩阵,建立了透射系数的公式;利用该公式,计算了隧道电流。此外,本文还分析了势垒结构对伏-安特性的影响。  相似文献   

17.
陈弘毅 《半导体学报》1993,14(2):94-102
本文描述隧道谱仪的测量原理,并给出一个隧道谱测量系统的结构。利用该系统测量了硅隧道二极管和分子束外延单晶态CoSi_2/N~+-Si肖特基势垒二极管中的硅声子谱,以及GaAs/Al_xGa_(1-x)As双垒单量子阱中的不同共振隧穿机构。显示了隧道谱仪是研究固体中量子隧穿现象的一种有力工具。  相似文献   

18.
本文通过求解薛定谔方程得到由分段线性势垒构成的量子系统的变换矩阵和透射系数的精确解,并利用这一结果计算了双量子阱系统的偏压隧道电流,讨论了双量子阱系统结构变化以其伏安特性的影响。与单量子阱系统的比较表明,双量子阱系统在某些方面,如电流峰谷比,负微分电阻区等优于单量子阱系统。  相似文献   

19.
GaAs-AlxGa1-xAs双势垒结构中电子共振隧穿寿命   总被引:1,自引:0,他引:1  
宫箭  梁希侠  班士良 《半导体学报》2005,26(10):1929-1933
采用转移矩阵和数值计算相结合的方法求解含时Schrodinger方程,计算了电子在双势垒结构中的构建时间和隧穿寿命. 结果表明:构建时间和隧穿寿命对于描述电子隧穿时间特性同等重要. 通过研究隧穿时间对结构参数的依赖情况发现,隧穿寿命随阱宽和垒厚的增加而迅速增大.  相似文献   

20.
利用Airy函数和传输矩阵方法计算了不对称势垒厚度的InP基AlAs/InGaAs/AlAs DBS结构在偏压情况下的共振透射系数,并通过材料生长和器件工艺制作得到了共振隧穿二极管的直流I-V特性。在峰值电流密度为132kA/cm2下,获得了17.84的电流峰谷比。测试结果还表明不对称势垒厚度的RTD在偏压情况下,当电子从较薄势垒向较厚势垒穿透时,更容易获得高的电流峰谷比,反之可获得较大的负微分电阻电压区域。  相似文献   

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