共查询到17条相似文献,搜索用时 93 毫秒
1.
集成电路(IC)发展到了系统芯片(SOC)时代。超深亚微米系统芯片具有规模大、复杂度高、系统时钟频率快的特点,传统的设计流程由于设计规模有限和时序难以收敛等原因,已难以适用于系统芯片的设计;常用的展平式(flat)版图设计方法,会导致工具处理能力严重不足。本文提出了一个完整的系统芯片的设计流程以及基于该流程的层次式、时间驱动的版图设计方法。设计过程采用自上而下的(top-down)的约束分配和时间驱动方式以满足时延约束,实现时序收敛;布局规划采用层次式模块分割以适应芯片规模大的要求。针对8VSB芯片采用。25um工艺在商用软件平台上对上述新方法进行了验证。实验结果表明,60万门的8VSB芯片速度可达到108Mhz。 相似文献
2.
3.
4.
5.
如今的集成电路(Integrated Circuit,IC)设计往往要求芯片包含多个工作模式,并且在不同工艺角(corner)下能正常工作。工艺角和工作模式的增加,无疑使时序收敛面临极大挑战。本文介绍了一种在多工艺角多工作模式下快速实现时序收敛的技术——MCMM(Multicorner-Multimode)技术,该技术将工艺角和模式进行组合,对时序同时进行分析和优化,到达快速实现时序收敛的目的。该技术应用于一个80万门基于TSMC 0.152μm logic工艺的电力网载波通信(PLC)芯片设计,设计实例表明,利用MCMM技术不但可以解决时序难以收敛的问题,而且大大降低了芯片设计周期。 相似文献
6.
7.
8.
阐述了一款光栅精密测量系统芯片“EYAS”的后端物理设计与实现。考虑到深亚微米工艺下的互连寄生效应,采用基于硅虚拟原型(SVP)的设计和迭代策略,以布线为中心,并适时进行全面的分析和迭代验证。采用“模拟IP”和改进的数模混合芯片设计流程,实现了模拟和数字部分的联合设计,保证了时序驱动下的持续收敛和可制造性。“EYAS”芯片采用HJTC 0.18μm工艺流片,并经板级测试成功;芯片工作频率为10MHz,正交信号采样率为1.25MHz,封装后芯片面积仅为1.5mm×2.0mm,各项功能正常稳定。以该芯片为控制内核,构建了光栅精密角度/位移测量系统,并应于火炮炮膛螺纹磨损度的精密测量。 相似文献
9.
10.
11.
12.
"魂芯一号"(BWDSP100)芯片是一款性能优越的高端DSP处理器,适用于雷达信号处理、电子对抗、精确制导武器、通信保障等领域。针对基于4片BWDSP100芯片和2片ALTERA公司的高端FPGA芯片设计的某雷达信号处理机,用边界扫描测试技术设计了TPS(Test Project Set),以验证BWDSP100芯片的可测试性。同时对该雷达信号处理机的DDR2、FLASH等外围芯片进行了测试有效性验证。经过验证,不仅BWDSP100芯片具有较好的可测试性设计,外围芯片的测试效果也很好,使得该雷达信号处理机有较高的故障覆盖率。 相似文献
13.
14.
介绍一种基于FPGA的嵌入式语音识别系统设计与实现,系统采用线性预测倒谱系数(LPCC)算法和动态时间规整(DTw)算法,该系统的核心部件采用目前流行的Virtex—Ⅱ Pro系列FPGA芯片,使用的工具为业界领先的嵌入式设计套件Xilinx ISE Design Suite10.1,并且运用现代电子系统软硬件协同设计、协同验证和协同工作的方法完成设计。通过实验表明,对于小词汇量、特定人识别系统,具有很好的识别效果,识别准确率达到95.2%以上。该系统的识别性能可以满足基本的嵌入式设备需要,具有广阔的应用价值。 相似文献
15.
扫描链测试,作为一种简单、高效的可测性设计方法,已经广泛应用于集成电路设计中。该方法可以有效地检测出电路制造过程中的缺陷和故障,从而降低芯片的测试成本。但是随着扫描链的插入,芯片物理设计中的时序收敛变得更加复杂,尤其是在扫描链测试的移位模式下,由于时钟偏移的存在,保持时间可能存在大量的时序违例。针对这种情况,本文首先介绍了扫描链测试的基本原理,分析了插入扫描链之后出现保持时间违例的原因,提出了一种基于锁存器的修复时序违例的方法,并详细阐述了对于不同边沿触发的触发器组如何选择相应的锁存器实现时序收敛。最后,将该方法应用于一款电力通信芯片的物理设计,快速、高效地实现了时序的收敛。 相似文献
16.
17.
为航空、航天开发的新品真空焊接设备是一小型、高精度的机电一体化设备,采用触摸集成电控系统,取代传统按钮控制。该设备结构紧凑、性能稳定、安全可靠、自动化程度高,主要用于低温控制状态下的真空(气氛保护)焊接,广泛应用于各种电子元器件芯片组装及封装工艺中,如MCM技术中的LTCC基板,芯片与衬底的真空(气氛保护)钎焊(烧结),该设备可以在真空定值状态下进行手工焊接和工艺自动焊接。 相似文献