基于SOLPP维数约简的电机轴承故障特征提取

为提高电机轴承故障诊断的准确性,提出了基于监督正交局部保持映射(SOLPP)的电机轴承故障特征提取方法。该方法首先从多个角度构建出高维多域的混合故障特征集;然后利用监督正交局部保持映射对高维特征集进行约简,以获得对轴承故障状态敏感度高且聚类性好的低维特征;最后采用支持向量机(SVM)进行故障识别,评估特征提取的效果。电机轴承不同类型和不同程度故障诊断实验结果表明,提取的轴承故障特征可以表征轴承故障状态,验证了该方法的有效性。     

适用于非同步采样故障电流的极性比较式快速母线保护

为克服分布式母线保护需要数据同步的难点以及电流互感器(CT)暂态饱和等问题,提出一种新型的基于故障电流的极性比较式快速母线保护。使用故障前母线各出线保护装置所采集的电压、电流作为极性比较的参考量,利用故障前电流和工频故障分量电流的极性关系判断故障方向。理论分析表明:当母线故障时,其各条线路的电流极性相同;线路故障时,故障线路的故障分量电流极性与其他健全线路相反。理论分析和PSCAD/EMTDC仿真试验表明,快速母线保护所需时窗短,不受电流互感器饱和以及电子式互感器兼容性的影响,保护可靠性高。     

舰船计算机仿真技术的发展

本文对计算机仿真技术在舰船领域中的地位作用，应用范围，发展趋势进行了论述。     

舰船设备冲击试验机研究进展

简单回顾了各国海军舰船设备冲击试验研究的发展历史，并介绍了考核舰船设备抗冲击破坏能力的主要试验手段，如舰艇水下爆炸试验、虚拟冲击试验以及冲击试验机模拟冲击试验。详细分析了世界各主要国家的冲击试验机发展现状，得出冲击试验机在三个方面的发展趋势：1）模拟实际冲击过程，如模拟水下爆炸过程中的第一次冲击波和气泡脉动效应的双波冲击试验机；2）能够试验重型设备，向超大规模试验方向发展；3）精确波形控制，利用现代技术增强试验过程的可重复性。     

椭圆曲线密码基础算法及其实现

就椭圆曲线密码的基础算法从整体角度给出了新的模加、模减算法结构,并针对这种模加模减运算形成的模乘算法给出了一种精简的硬件实现结构。该结构具有占用资源少、运算速度快的特点。并且针对ECC点乘算法的实现问题进行了进一步研究,给出了一种改进的简洁高效的实现方法。     

利用气体炮技术测定隔振器冲击特性

提出了一种测量隔振器冲击特性的方法。通过气体炮发射的炮弹撞击砧块,使之获得一定的初速度,再 利用砧块的惯性对隔振器施加冲击载荷。使用激光位移传感器和测力钢块分别测量力和位移。从而解决了施加可控冲 击载荷和冲击条件下数据测量的问题。     

船用907A钢的动态力学性能和本构关系

为了得到船用907A钢的动态力学性能及本构关系,运用静态试验机及分离式Hopkinson压杆加载装置,在应变率为0.000 33~2 680 s-1范围内得到了准静态拉伸及动态压缩条件下的应力应变曲线,对比了Cowper-Symonds模型和Johnson-Cook模型,并基于CS模型对应变硬化效应进行了修正。结果表明,船用907A钢具有明显的应变率强化效应和非线性应变硬化效应;CS模型比JC模型更能准确描述其应变率强化效应。     

水下刚性壁装药爆炸气泡简化模型和数值仿真

为预测沉底装药水下爆炸产生气泡的最大半径和脉动周期,建立了水下刚性壁上的装药爆炸产生气泡的动力学模型.从Bernoulli方程和能量守恒两个角度推导出描述半球形气泡径向运动的流体动力学方程,通过能量法确定了方程的初始条件.对方程数值求解得到第一脉动周期内气泡半径和径向运动速度随时间变化的曲线.利用ANSYS-AUTODYN软件的高精度Euler-Godunov求解器和计算结果映射技术,建立了水下刚性壁上装药爆炸产生气泡运动的数值仿真模型.计算得到了气泡膨胀、收缩、上浮和脉动压力时程曲线及其几何形状变化规律.理论模型与仿真计算得到的气泡半径、脉动周期和径向运动速度均吻合,说明该理论模型满足工程所需精度要求.     

B-Z化学振荡反应的影响因素及H2O2的检测

化学振荡反应是在开发体系中进行的远离平衡的一类反应。大学化学已经将化学振荡反应作为基本实验项目之一。B-Z反应具有复杂的反应机理,影响反应的因素较多,搅拌速率对B-Z化学振荡有重要的影响。研究了不同搅拌速率下化学振荡的变化以及化学振荡对H_2O_2的响应。当H_2O_2浓度在(0. 0834～1. 668)×10~(-4)mol/L内,响应电势和振荡再发生期均与H_2O_2加入时的浓度呈良好线性关系,可检测最低浓度为0. 0834×10~(-4)mol/L。     

Soft error generation analysis in combinational logic circuits

Reliability is expected to become a big concern in future deep sub-micron integrated circuits design.Soft error rate(SER) of combinational logic is considered to be a great reliability problem.Previous SER analysis and models indicated that glitch width has a great impact on electrical masking and latch window masking effects,but they failed to achieve enough insights.In this paper,an analytical glitch generation model is proposed.This model shows that after an inflexion point the collected charge has an...