Cd1—xZnxTe（x=0.04）表面处理的低温拉曼散射和电学特性研究

测量了几种不同处理的Cd1-xZnxTe(x=0.04)表面的傅里叶变换拉曼散射光谱和电流－电压（I－V）特性。通过分析拉曼光谱反Stokes分量,并与表面I－V特性进行比较,结果表明与表面处理相联系的晶格声子的行为反映了表面完整性的变化,Te沉淀是影响表面质量的关键因素,并对有关表面处理方法的实际应用进行了讨论。     

Cd_(1-x)Zn_xTe多晶薄膜的制备、性能与光伏应用

用共蒸发法制备了 Cd1 - x Znx Te多晶薄膜 ,薄膜结构属立方晶系空间群 F4 3m.通过透射光谱的测量 ,计算光能隙 ,得到室温时薄膜的光能隙随组分 x值的变化满足二次方关系 .作为对异质结界面的修饰 ,提出了有 Cd1 - x-Znx Te过渡层的 Cd S/ Cd Te/ Cd1 - x Znx Te/ Zn Te∶ Cu电池 .并在相同工艺下制备了 Cd S/ Cd Te/ Cd0 .4 Zn0 .6 Te/ Zn Te∶ Cu与 Cd S/ Cd Te/ Zn Te∶ Cu太阳电池 ,发现前者比后者效率平均增加了 35 .0 % .     

通过表面分析来评定Pb_(0.8)Sn_(0.2)Te探测器的制造过程

为了制造高性能的Pb_(0.8)Sn_(0.2)Te 探测器,在制造过程中必须了解其表面特性并加以控制。把俄歇光谱(AES)和光电子光谱(ESCA)技术用于分析经历了探测器制造的一些步骤以后的Pb_(0.8)Sn_(0.2)Te 表面。本文提供经过化学腐蚀、光刻工艺和热处理以后Pb_(0.8)Sn_(0.2)Te 材料的俄歇光谱和光电子光谱数据。此外,还对暴露于室内环境条件和高湿度条件之后的Pb_(0.8)Sn_(0.2)Te 表面的特性作了描述。而对表面特性有了了解,就可以把它同做成的探测器的参数进行对照,从而确定出制造最优性能探测器的程序,因此也就能找到制造稳定的探测器的工艺。     

碲化锌插入层对碲化镉太阳电池性能参数影响的分析

分析了有Zn Te/ Zn Te∶Cu插入层的Cd Te太阳电池在能带结构上的变化.通过对比有无插入层的Cd Te太阳电池在C- V特性、I- V特性、光谱响应上的不同,肯定了插入层对改善背接触特性的作用,发现它还可以改善器件前结Cd S/ Cd Te的二极管特性和短波光谱响应.实验结果还表明,不掺杂的Zn Te对提高器件的效率是必要的.恰当的不掺杂层厚度和退火温度能有效地改进Cd Te太阳电池的性能,而对填充因子的提高最为显著     

固相反应制备的多晶和外延 CoSi_2/n-Si(111)接触的肖特基特性(英文)

通过硅 (111)衬底淀积的单层 Co或 Co/ Ti双金属层在不同退火温度的固相反应 ,在硅上形成制备了多晶和外延 Co Si2 薄膜 .用电流 -电压和电容 -电压 (I- V/ C- V)技术在 90 K到室温的温度范围内测量了 Co Si2 / Si肖特基接触特性。用肖特基势垒不均匀模型分析了所测得的 I- V特性 ,在较高温度下 (≥～ 2 0 0 K)或较低温度的较大偏压区域 ,I- V曲线能用热激发和在整个结面积上势垒高度的高斯分布模型描述 .而在较低温度的较小偏压区域 ,电流由流过一些小势垒高度微区的电流决定 ,从而在低温 I- V曲线上在约 10 - 7A处有一个“曲折”.在室温下 ,从 I-V曲线得到的多晶 Co Si2 / Si的势垒高度为约 0 .5 7e V.对外延 Co Si2 ,势垒高度依赖于最后退火温度 ,当退火温度从 70 0℃升到 90 0℃ ,势垒高度从 0 .5 4e V升高到 0 .6 0 e V.     

ZnS_(1-x)Te_x混晶的压力光谱

研究了 Zn S1 - x Tex(0 .0 2≤ x≤ 0 .3)混晶的静压光致发光谱 .每块样品都观察到一个峰值比相应混晶带隙低很多的发光峰 ,来源于束缚在 Ten(n≥ 2 )等电子陷阱上的激子复合发光 ,且随压力 (0～ 7.0 GPa)而蓝移 .发光峰的压力系数比相应混晶带边的都要小 ,随着 Te组分的增加而减小 ,与混晶带隙压力系数的差别也越来越大 .由于压力下与发光峰对应的吸收能量逐渐接近并超过激发光的能量 ,与发光峰有关的吸收效率降低 ,发光峰积分强度随着压力增加而减小 .据此估算了 Ten 等电子中心的 Stokes位移 .发现 Stokes位移随着 Te组分的增加而减小     

固相反应制备的多晶和外延CoSi_2/n-Si(111)接触的肖特基特性

通过硅 (111)衬底淀积的单层 Co或 Co/ Ti双金属层在不同退火温度的固相反应 ,在硅上形成制备了多晶和外延 Co Si2 薄膜 .用电流 -电压和电容 -电压 (I- V/ C- V)技术在 90 K到室温的温度范围内测量了 Co Si2 / Si肖特基接触特性。用肖特基势垒不均匀模型分析了所测得的 I- V特性 ,在较高温度下 (≥～ 2 0 0 K)或较低温度的较大偏压区域 ,I- V曲线能用热激发和在整个结面积上势垒高度的高斯分布模型描述 .而在较低温度的较小偏压区域 ,电流由流过一些小势垒高度微区的电流决定 ,从而在低温 I- V曲线上在约 10 - 7A处有一个“曲折”.     

Ⅱ-Ⅵ族化合物Cd_xHg_(1-x)Te的分子束外延

本文第一次报导了Ⅱ-Ⅵ族半导体化合物Cd_xHg_(1-x)Te的分子束外延(MBE)。在MBE(111)CdTe表面上于100℃下完成外延。所用的三种材料源为Cd、Te和作为Hg源的HgTe。Cd/Te通量比率决定x值,即合金的组分。不同x值(由0～0.35)和厚度(达6微米)的层为具有条纹绕射花纹的单晶。其表面光亮清洁。     

调制掺杂AlGaN/GaN异质结上的Pt肖特基接触

研究了调制掺杂 Alx Ga1 - x N/Ga N表面 Pt肖特基接触的制备工艺 ,并对其进行了 I-V测量。通过改变对样品表面的处理工艺 ,研究了表面处理对调制掺杂 Alx Ga1 - x N/Ga N表面 Pt肖特基结接触特性的影响 ,在 n型掺杂浓度为 7.5× 1 0 1 7cm- 3的 Al0 .2 2 Ga0 .78N样品表面 ,制备得到了势垒高度为 0 .94e V、理想因子为 1 .4的 Pt肖特基接触。这与国外报道的结果接近 (=1 .2 e V,n=1 .1 1 [1 ] )     

在氩气氛下生长的C_(60)薄膜的结构与特性

采用惰性气氛蒸发法制备 C6 0 薄膜 ,用原子力显微镜 (AFM)、X射线衍射 (XRD)、红外光谱 (IR)及紫外 -可见光谱研究了在氩 (Ar)气氛下生长的 C6 0 薄膜的表面形貌、结构及光吸收特性 .AFM测量表明在 Ar气氛下生长的C6 0 薄膜的表面生长岛更尖锐 ,并且有较大直径的表面粒子 .由紫外 -可见光吸收谱测量发现 Ar气氛下生长的 C6 0 薄膜的强度和吸收峰位置与在真空下生长的 C6 0 薄膜比较有大的红移 .可求出在 Ar气氛下生长的 C6 0 薄膜的光学禁带宽度 Eg=2 .2 4e V,比在真空下生长的 C6 0 薄膜禁带宽度 (2 .0 2 e V)要大 .与真空下生长的 C6 0 薄膜比较     

Metal-semiconductor-metal (MSM) photodetectors fabricated on MOCVD grown Hg/sub 1-x/Cd/sub x/Te

The fabrication of the first metal-semiconductor-metal photodetectors on Hg/sub 1-x/Cd/sub x/Te is reported using MOCVD grown layers on GaAs substrates. An epitaxial CdTe overlayer has been incorporated in the device structure for the enhancement of Schottky barrier characteristics. The interdigitated devices (2.3 mu m electrode width, 3.3 mu m spacing) exhibited a breakdown voltage of -60 V and responsivities of more than 1.0 A/W at a wavelength of 1.3 mu m and bias voltage of 40 V. Over the range of bias voltage examined, the dark leakage current of the detectors was dependent on the choice of contact metal, with minimum values of 10 nA at <1 V for Pt/CdTd/Hg/sub 1-x/Cd/sub x/Te.<>     

Cd1-xZnxTe合金的退火研究

用红外透射谱和喇曼散射谱研究了退火对 Cd1 - x Znx Te晶片中 Te沉淀的影响 .研究结果表明 ,红外透射谱只对大尺寸的 Te沉淀较为敏感 ,而喇曼散射谱却能够探测到样品中小尺寸的 Te沉淀 ,两者互为补充 .在 Cd气氛下对晶片进行退火处理 ,选择合适的退火温度和退火时间 ,可以有效地消除晶片中大尺寸的 Te沉淀 ,却难以消除晶片中小尺寸的微量 Te沉淀     

MESFET fabrication on MOCVD grown Hg/sub 1-x/Cd/sub x/Te

The fabrication of the first MESFET structures on Hg/sub 1-x/Cd/sub x/Te is reported using MOCVD grown layers on GaAs substrates. The 6 mu m gate devices exhibited a room temperature transconductance of 1.0 mS/mm and pinch off voltage of -4.0 V. The Schottky barrier characteristics of the devices were critically dependent on the stoichiometric x ratio of the Hg/sub 1-x/Cd/sub x/Te with diode formation evident only at x >0.5.<>     

II-VI多量子阱中局域化激子的受激发射

通过对ＺｎｘＣｄ１－ｘＴｅ－ＺｎＴｅ多量子阱样品的光泵受激发射研究讨论了材料中激子局域态对受激发射激子过程以及受激发射特性的影响。两块不同组份和不同局域态密度的ＺｎＣｄＴｅ－ＺｎＴｅ多量子阱样品受激发射过程都是ｎ＝１重空穴激子参与的一系列过程，但在Ｚｎ０．６７Ｃｄ０．３３Ｔｅ－ＺｎＴｅ中发现了激子－激子散射的受激发射过程，而在Ｚｎ０．７８Ｃｄ０．２２Ｔｅ－ＺｎＴｅ中没有发现这一受激发射的激子过程。ｘ＝０．６７的样品中具有较高的局域化激子密度，其受激发射具有较高的阈值。     

MBEGaAs1—xSbx的喇曼光谱

在比较宽的组份范围内首次报道了MBE GaAs_(1-x)Sb_x混晶的喇曼光谱。发现声子频移强烈地依赖于Sb的组份x,而光学声子的双模行为仅仅在x>0.15时才发现,用远红外傅里叶光谱已证实这一结果。类GaAs LO模的线形分析表明本文的GaAs_(1-x)Sb_x质量较好。用质量缺陷模型和渗流理论讨论实验结果,用团聚效应解释x>0.15时声子的双模行为并估算了平均团聚尺寸。理论与实验结果符合得很好。     

Compositional engineering of chemical bath deposited (Zn,Cd)S buffer layers for electrodeposited CuIn(S,Se)2 and coevaporated Cu(In,Ga)Se2 solar cells

A comparative study of chemical bath deposition (CBD) of ZnS, CdS, and a mixture of (Cd,Zn)S buffer layers has been carried out on electrodeposited CuIn(S,Se)₂ (CISSe) and coevaporated Cu(In,Ga)Se₂ (CIGS) absorbers. For an optimal bath composition with the ratio of [Zn]/[Cd] = 25, efficiencies higher than those obtained with CdS and ZnS recipes, both on co‐evaporated CIGS and electrodeposited CISSe, have been obtained independent of the absorber used. In order to better understand the (Cd,Zn)S system and its impact on the increased efficiency of cells, predictions from the solubility diagrams of CdS and ZnS in aqueous medium were made. This analysis was completed by in situ growth studies with varying bath composition by quartz crystal microbalance (QCM). The morphology and composition of the films were studied using scanning electron microscopy (SEM) and X‐ray photoelectron spectra (XPS) techniques. Preliminary XPS studies showed that films are composed of a mixture of CdS and Zn(O,OH) phases and not a pure ternary Cd_{1 − x}Zn_xS compound. The effect of the [Zn]/[Cd] molar ratio on properties of the corresponding CISSe and CIGS solar cells was investigated by current voltage [J(V)] and capacitance voltage [C(V)] characterizations. The origin of optimal results is discussed. Copyright © 2008 John Wiley & Sons, Ltd.     

非对称耦合量子阱ZnCdSe/ZnSe的喇曼散射谱与非线性光学特性

采用荧光光谱和喇曼散射谱对非对称Ⅱ一Ⅵ族耦合多量子阱Zn1-xCdxSe／ZaSe的结构进行了表征，并对它的非线性光学特性进行了研究。实验中观察到了比较明显的量子阱荧光峰：在喇曼散射谱中观察到了分别对应于与ZnCdSe窄阱和宽阱的一级限制光学模LO1(Lowe Well)和LOI(Wide Well)，及对应于ZnSe／GaAs界面的声子和等离子体的耦合模。实验发现二次谐波信号的强度随着阱间耦合的增强而增强，说明非对称量子阱(AQW)的耦合效应存在一阈值．与理论结果相一致。     

分子束外延Hg0.68Cd0.32Te薄膜光致发光和喇曼散射的研究

对利用ＭＥＢ技术生长的Ｈｇ０．６８Ｃｄ０．３２Ｔｅ薄膜进行了光致发光和喇曼光谱的研究，拟合薄膜光致发光谱得到的禁带宽度，与红外透射谱得到的薄膜带宽相近；其半宽仅为５ｍｅＶ，带尾能量小于１．３ｍｅＶ，显示了较高的薄膜质量。     

Hg_(1-x)Cd_xTe的拉曼光谱

我们发现Hg1 -xCdxTe的拉曼散射峰随着温度的变化会发生频移 ,它的二级散射峰来自LO1 LO1 ,LO1 LO2 ,LO2 LO2 ,并且它们的强度对晶体的完整性较敏感。同时也发现Hg1 -xCdxTe中的Te的沉淀相和Te的氧化物相的拉曼散射峰。