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51.
基于实例推理的注塑模概念设计   总被引:3,自引:0,他引:3  
基于实例的推理方法是使用已有的经验来解决新问题,该文尝试把它用于注塑模的概念设计。首先分析了基于CBR的系统在表达模具设计领域强经验弱理论知识的优势,然后给出了注塑模概念设计系统工作流程。提出了模具设计实例特征描述模型和实例的框架表示。最后讨论了基于模糊相似优先比的相似度量及实例检索过程。  相似文献   
52.
GSM短消息在无线数据采集与监控中的应用   总被引:16,自引:2,他引:16  
基于短消息的无线数据采集与监控(SMBDCM)系统具有灵活方便、投资小、运营费用少等优点,对于解决监控点分散、不固定、覆盖面广、实时性要求较低的数据采集与监控任务具有优势。该文在简述短消息原理的基础上,详细讨论了SMBDCM的功能、系统结构、设计与实现,并对其中的核心模块SMO2做了具体介绍。  相似文献   
53.
一种基于F求精的摄像机自定标方法   总被引:1,自引:0,他引:1  
基于图像的建模与绘制(IBMR)是一种新型的真实感图形绘制方法,其中的关键技术如图像的立体匹配(Stereo matching)、三维重构(3D Reconstruction)和Warping绘制等,都以摄像机定标为前提.本文讨论一种基于F求精的自定标方法,在论述其基本原理的基础上,给出了相关算法与实现步骤,并用模拟照片的自定标计算结果和实拍照片的Warping绘制结果对算法进行了检验。  相似文献   
54.
一种有效的低功耗扫描测试结构——PowerCut   总被引:1,自引:0,他引:1  
扫描测试是超大规模集成电路测试中最常用的一种技术.但在扫描测试过程中,扫描单元的频繁翻转会引起电路中过大的测试功耗,这对电路测试提出了新的挑战.提出了一种新颖的低功耗全扫描结构--PowerCut,通过对扫描链的修改,加入阻隔逻辑,有效降低扫描移位过程中的动态功耗,同时加入控制单元,使电路在扫描移位过程时进入低漏电流状态,降低了电路的静态功耗.实验表明该结构在较小的硬件开销范围内有效地减小了扫描测试功耗.  相似文献   
55.
小面积图像往往满足不了人们在工作中的需求,很多时候人们需要是大面积的图像,因此就需要一种算法来将相关的小范围拍摄的图像拼接成大图像,即实现全景图拼接。文中从块拼接纹理合成出发,并对块拼接纹理合成算法进行改进,将块拼接的原理应用到图像拼接上,并对像素加入与人视觉有关的权值进行接缝处理。实验结果表明,该方法简单实用,对于基本的由不同方位拍摄的图像都可以通过本算法进行拼接,并通过对接缝处的处理,取得了较好的结果。  相似文献   
56.
二维绘图中的自动消隐算法   总被引:1,自引:0,他引:1  
该文以装配图为例,对二维绘图中的自动消隐问题提出并实现了一种有效算法。对该算法中的零件图边界构造、下层图素与零件图边界的交点计算、根据求得的交点对图素进行分割消隐等问题,文章进行了深入具体的讨论。  相似文献   
57.
基于量子遗传算法的贝叶斯网络结构学习*   总被引:1,自引:0,他引:1  
将量子遗传算法用于贝叶斯网络(BN)的结构学习,对BN结构进行量子编码得到染色体,通过量子变异操作使其作为一个完备的独立解空间进行演化,可快速搜索到全局最优的网络结构。实验结果表明,量子遗传算法用于BN结构学习,可取得很好的效果。  相似文献   
58.
提出了基于散乱空间点集进行曲面重建的新方法,从点集的空间位置信息中提取待建曲面的内蕴特征量——法向和曲率,利用点集的这些特征信息来确定拓扑重建的搜索空间,采用面片生长的方式重建曲面。该方法在快速获得正确拓扑连接的同时,直接生成了用较少的面片就能保持曲面特征的优化网格。  相似文献   
59.
注塑模结构CAD的柔性问题   总被引:1,自引:0,他引:1  
张佑生  田卫东 《中国塑料》1998,12(4):95-100
本文首先对注塑模结构CAD的重要性及尚存在的问题进行分析。接着提出在注塑模CAD三维系统的基础上采用“自顶向下”的设计流程,对实现该流程的关键技术进行讨论,提出了塑件骨架的构型,模具符号零件,装配模型等概念,此外,本文还对参数化设计技术在注塑模具结构CAD柔性化方面的应用进行了讨论。  相似文献   
60.
基于测试向量中不确定位的漏电流优化技术   总被引:1,自引:1,他引:0  
众所周知,CMOS电路测试时由漏电流引起的漏电流功耗在测试功耗中处于重要地位.降低测试时的漏电流对于延长需要周期性自测试的便携式系统电池寿命、提高测试的可靠性和降低测试成本都至关重要.文章首先分析了漏电流的组成,和与之相关的晶体管的堆栈效应.然后,我们提出了一种基于测试向量中不确定位(X位)、使用遗传算法优化集成电路测试时漏电流的方法.实验结果证明在组合电路和时序电路测试中该方法能够在不影响故障覆盖率的条件下,有效优化测试时电路的漏电流.  相似文献   
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